工具顯微鏡的調(diào)焦-測量光學精密儀器廠商

  在萬能顯微鏡和其同類型的工具顯微鏡上進行測量時，
往往遇到一些需要進行二次調(diào)焦測量的零件。

所謂二次調(diào)焦，就是在工件某一尺寸的測量過程中要求兩次移動
中央顯微鏡來調(diào)整焦距，

這種測量也叫做一次測最二次調(diào)焦。這種調(diào)焦的測量方法，在還未
完全掌握調(diào)焦所引起的變化規(guī)律時是不允許的。

因為這時在二次移動中央顯微鏡以調(diào)整焦距后摻入了一個為數(shù)可觀
而在測量過程中不可能被發(fā)現(xiàn)的系統(tǒng)誤差，給測量結(jié)果帶來錯誤。

為了弄清這種錯誤產(chǎn)生的原因和提高測量梢度，我們將二次調(diào)焦
測量工件的實例和二次調(diào)焦后引起誤差的原因

  在萬能顯微鏡上進行測量時，首先遇到的問題是如何在
目鏡的視野內(nèi)取得清晰的標準刻線和物象。

也就是說要求物象和米字線分劃線的象在同一聚焦面上，

這樣才能保證測量的正確性。

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