應(yīng)用于巖石礦物顯微構(gòu)造分析測量用圖像顯微鏡

  巖石礦物在構(gòu)造應(yīng)力的作用下，不僅在宏觀上發(fā)生變形，同時在
微觀上也產(chǎn)生相應(yīng)的規(guī)律性的變化。這些微觀領(lǐng)域的變形特征往往通
過光學顯微鏡或電子顯微鏡進行研究。因此，稱為顯微構(gòu)造。

  顯微構(gòu)造往往比宏觀構(gòu)造對構(gòu)造應(yīng)力作用反映更敏感，更細微深
入，而且更易保存，因而是研究結(jié)構(gòu)面力學性質(zhì)、構(gòu)造變形、構(gòu)造應(yīng)
力場的重要手段。研究表明，只要后來的變形條件（如溫度、壓力、
應(yīng)力等）不再超過前一次變形，前一次變形的信息便被“凍結(jié)”

  在顯微構(gòu)造之中。如果后來的變形環(huán)境超過前一次變形，那么前
一次變形的信息便被“抹去”而“存入”后一次變形的信息。所以根
據(jù)變形巖石中顯微構(gòu)造特征，便有可能解析出巖石變形歷史中主要的
（或最強的）變形幕的條件。

  同時，巖石在受力變形時，在微觀上還表現(xiàn)為組成礦物常常在形
體方位和晶格方位的排列具有優(yōu)選方位。如石英在受力變形時，不僅
會發(fā)生晶體的旋轉(zhuǎn)取向，而且也會發(fā)生平行C 軸（沿著柱面），或垂
直C 軸（沿底面）滑動，光軸在與構(gòu)造應(yīng)力作用密切相關(guān)的方位上有
定向排列的趨勢。巖組分析就是通過統(tǒng)計的方法研究各種變形巖石及
其組成單元在空間的向量性質(zhì)，結(jié)合顯微構(gòu)造分析。以闡明或探討變
形巖石形成的條件及其在構(gòu)造運動中的變形歷史，即巖石的變形方向
和變形期次。

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