光學(xué)顯微鏡檢測不同陶瓷的顯微結(jié)構(gòu)特征和晶粒

  許多共他方法對測定陶瓷材料的相分布、形貌及特性是有用的。
相顯微檢查技術(shù)使深度分辨力大大增加。對拋光切片或薄切片采用偏
振光，則有助于相的鑒別。

  立體顯微術(shù)、X 射線顯微術(shù)、暗視場電子顯微術(shù)、以及許多其他
特殊方法都是有用的，并應(yīng)對每一個特殊問題考慮可行的方法。

  最適宜的方法因樣品而異，而且任一普通規(guī)則都可能遭遇到許多
例外。

  對大多數(shù)研究目的來說，制備拋光切片并用光學(xué)顯微術(shù)或掃描電
子顯微術(shù)和X 射線衍射或顯微相鑒定法檢驗拋光切片，構(gòu)成一個良好
的基本檢測程序

  陶瓷導(dǎo)論所依據(jù)的主要原理之一是陶瓷制品的性質(zhì)不僅取決于相
的組成和結(jié)構(gòu)，還取決于相的排列。

  成品的相分布或顯微組織取決于初始的制造工藝、所采用的原料、
相平衡關(guān)系以及相變動力學(xué)、晶粒長大和燒結(jié)。

  能測定的顯微組織的特征是

  （1 ）現(xiàn)有的相的數(shù)目和識別，包括孔隙在內(nèi)，

  （2 ）每一個相的相對數(shù)量，

  （3 ）每一個相的特征，例如相的大小、形狀和取向

  研究顯微組織的方法。研究顯微組織采用過許多不同的方法，最
廣泛使用的兩種光學(xué)方法是：用透射光觀察薄切片和用反射光觀察拋
光切片。薄切片法采用光線透過0.015~0.03毫米厚的切片。

  制備切片時，從材料上切下一個薄片，將薄片的一面拋光，把這
個面粘在顯微鏡的載玻璃上，然后將另一面研磨并拋光，以得到所要
求的均勻厚度的切片。這種方法的優(yōu)點是，能測定每一個相的光學(xué)性
質(zhì)，從而鑒定出所有的相。這個方法有兩個

  主要缺點：第一，樣品制備困難；第二，許多細(xì)品粒陶瓷材料的
個別晶粒，其尺寸小于切片厚度，這將引起混亂，尤其對于一個不熟
練的人更是如此?？傊?，需要有相當(dāng)?shù)慕?jīng)驗才能最好地利用薄切片法。

(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載須注明網(wǎng)址http://www.sgaaa.com)