在測量設(shè)備范疇,還需要介紹一種高度復(fù)雜的裝置:
集成在顯微鏡中的顯微干涉儀〔大部分屬于米洛(Mireau)類型〕。這些裝置中。
顯微鏡的橫向分辨率與干涉儀的高度分辨率相組合。顯微干涉儀特別
適合淵量如集成光學(xué)零件中的微小細(xì)節(jié)及小型光學(xué)零件的表面形狀。
還可以測址表面的粗糙度。
最新研制的一代產(chǎn)品裝備有復(fù)雜的掃描臺。利用白光照明和:方
向的機械掃描,
可以處理很大的高度差。在評估軟件中。數(shù)據(jù)采集到一個共用高
度表中,
除了測量表面粗糙度外,還可以測量小的非球而透鏡。由于該干
涉儀采用拼縫技術(shù),
所以,有可能(同時)測量10個較強非球面表面,其原因在于通
過改變每個拼縫部分的聚焦,得到干涉圖不同區(qū)域的最佳抽樣,
所以,干涉圖抽樣可以在垂直方向采用更多像素。作為例子,Zygo
New View7000系列的橫向視場是0.05-21. 9mm. 橫向分辨率是0. 36~9.
5 μm (取決于所用的物鏡、變焦透鏡和相機)高度分辨率可以小至
0.lnm.垂直掃描適合不同的掃描范圍。
利用接觸式儀器也可以測量表面形狀和紋理,這是多年來標(biāo)準(zhǔn)的
粗糙度測量方式。
(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載須注明網(wǎng)址http://www.sgaaa.com)
合作站點:http://www.xianweijing.org/