定量巖石自動圖象分析光學(xué)顯微鏡制造廠商

自動圖象分析系統(tǒng)在定量巖石學(xué)研究中是一種很有用的技術(shù)。
在應(yīng)用上它雖還不夠盡善盡美，但當(dāng)我們在各種地質(zhì)樣品的
研究上取得更多的經(jīng)驗以后，這種方法的應(yīng)用范圍就能擴大。

合用的干涉顯微鏡，那在作探針研究之前先在干涉顯微鏡下
進行詳細(xì)觀察，就可大大節(jié)省電子探針分析的時間和經(jīng)費。
此外，干涉顯微鏡對鑒定兩面拋光超薄片的粘土礦物，
也是一種有力的工具。

  電子探針的最明顯缺點是它不能分析原子序數(shù)小于12的
輕元素，同時，許多元素的檢測限最好只能達到50-100ppm的
水平。但是，電子探針在對兩面拋光薄片中的礦物主元素和次
要元素作分析時，確是一種十分有用的設(shè)備。電子探針不能提
供礦物的X射線衍射資料。

(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載須注明網(wǎng)址http://www.sgaaa.com)