定量巖石自動圖象分析光學(xué)顯微鏡制造廠商
自動圖象分析系統(tǒng)在定量巖石學(xué)研究中是一種很有用的技術(shù)。
在應(yīng)用上它雖還不夠盡善盡美,但當(dāng)我們在各種地質(zhì)樣品的
研究上取得更多的經(jīng)驗以后,這種方法的應(yīng)用范圍就能擴大。
合用的干涉顯微鏡,那在作探針研究之前先在干涉顯微鏡下
進行詳細(xì)觀察,就可大大節(jié)省電子探針分析的時間和經(jīng)費。
此外,干涉顯微鏡對鑒定兩面拋光超薄片的粘土礦物,
也是一種有力的工具。
電子探針的最明顯缺點是它不能分析原子序數(shù)小于12的
輕元素,同時,許多元素的檢測限最好只能達到50-100ppm的
水平。但是,電子探針在對兩面拋光薄片中的礦物主元素和次
要元素作分析時,確是一種十分有用的設(shè)備。電子探針不能提
供礦物的X射線衍射資料。
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