鑄態(tài)的晶粒大小面積分析顯微成像分析軟件-圖像顯微鏡

測(cè)量各類
  人們想要測(cè)定的量可由一種或幾種基于面積分析、計(jì)點(diǎn)和線分析的
測(cè)量方法來獲得。

  面積分析法就是用求積儀（或其它手段）測(cè)量平截面所交截的顯微
組織中組成相的面積。計(jì)點(diǎn)法是把適當(dāng)?shù)闹本€網(wǎng)格，例如透明方格紙，
重迭到一愊顯微照片或?qū)嶋H圖像上，對(duì)某一具體的顯微組織特征計(jì)算單
位面積的網(wǎng)格落在該組織特征物上的格點(diǎn)數(shù)。線分析法就是計(jì)算重迭地
一愊顯微照片上每單位長(zhǎng)度的任意測(cè)試某一具體顯微組織特征扔所占有
的比例。有時(shí)出于不同的目的，還可采用另一種形式的線分析法，即由
每單位長(zhǎng)度和任意測(cè)試線與特定類型的分布顆粒交截的數(shù)量來計(jì)算。此
外還有其它形式的方法，將在必要時(shí)提出來討論。

鑄態(tài)組織的晶粒大小

  認(rèn)為一切重要的特征都可以在高倍顯微鏡下看到是錯(cuò)誤的，事實(shí)上高
倍下的視圖常常有、會(huì)引起誤解。鑄態(tài)鋁合金的晶粒大小就上例證。在
這兩種不同的放大位數(shù)下，視圖不很不相同的，它誤信放大位數(shù)為85時(shí)所
看到的晶粒尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于放大位數(shù)為0.9時(shí)的晶粒尺寸。

  從每個(gè)晶粒表示單個(gè)枝晶長(zhǎng)大顯示的完整性和復(fù)雜性的意義上說，低倍
顯微組織圖代表了真實(shí)的晶粒尺寸。處于最終形態(tài)的枝晶的亞枝晶的和軸
彼此具有嚴(yán)格的角度關(guān)系，此外，在立方晶格金屬中，立方晶向是選擇取
向的，因而枝晶分支彼此完全平行或正交，而且任意截面顯示所有枝晶分
支的平面都是相同的。

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