雙重晶粒組織

  金屬中具有雙重晶粒組織（混晶組織）的情況也不少，雙重
晶粒組織具有晶粒面積、直徑及線截距的雙峰頻率分布，雙重
晶粒組織有兩種情況，一種表現(xiàn)為界線分明的細(xì)晶區(qū)團(tuán)和粗晶
區(qū)團(tuán)，即在大晶?；w中包含小晶粒或與之相反，另一種則表
現(xiàn)為少量超出正常晶粒大小分布范圍的晶粒散布于正常晶粒基
體上。

  雙重晶粒組織的晶粒大小的測(cè)量就是要測(cè)出兩種晶粒的晶粒
度級(jí)別，并確定它們的比率，前一種情況比較簡(jiǎn)單，只要用較
低的倍率在隨機(jī)選擇的若干視場(chǎng)中對(duì)細(xì)晶區(qū)和粗晶區(qū)進(jìn)行點(diǎn)計(jì)
數(shù)來(lái)確定其體積積分率，然后再在適當(dāng)?shù)妮^高倍率下分別測(cè)量
其晶粒度級(jí)別，而后一種情況就比較困難，最好的辦法就是測(cè)
出整個(gè)晶粒線截距的頻率分布，然后再把數(shù)據(jù)分成兩個(gè)組來(lái)分
別計(jì)算，提出用幾組間隔為5mm的平行線柵格在0°、45°、90
°、135°4個(gè)方向上測(cè)量線截距，然后按線截距大小以每1mm
間隔（在測(cè)量放大倍數(shù)下）把數(shù)據(jù)分組，畫出頻數(shù)分布圖后就
可以劃分出細(xì)晶區(qū)和粗晶區(qū)，并分別進(jìn)行計(jì)算。

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