精細加工表面觸針針尖半徑對測量粗糙度參數(shù)的誤差
在測量粗糙度參數(shù)時,最困難的是測量微不平高度小于0.1
μm 的精細加工表面,工業(yè)上使用的干涉顯微鏡,由于其分辨
能力不夠,不能測量這樣表面的粗糙度,而按高倍垂直放大率
的輪廓圖來確定粗糙度參數(shù)伴有相當(dāng)大的系統(tǒng)誤差。
最重要的系統(tǒng)誤差之一是觸針針尖半徑引起的誤差,如果
在測量微不平高度大于0.1 μm 時可以忽略它,但是在記錄精
細加工表面的輪廓圖時甚至當(dāng)針尖半徑不超過2-4 μm 的情況
下,這個誤差與微不平高度本身比較起來已顯得相當(dāng)大,必須
對它進行修正。
觸針針尖半徑對測量粗糙度參數(shù)的誤差的影響與下面的情
況有關(guān),當(dāng)針尖沿著微不平度滑動時,針尖圓弧中心的軌跡與
微不平度的形狀不一致,這就導(dǎo)致在輪廓圖上輪廓高度改變,
測量精細加工表面的粗糙度基本上利用參數(shù),對具有代表性的
精細加工表面塊規(guī)表面輪廓的分析表明,按其確定的每一個單
個微不平度起伏都可看作是峰頂角劃谷底角約為170 度的三角
形輪廓。
(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制http://www.sgaaa.com)
合作站點:http://www.xianweijing.org/