全能顯微鏡中具有雙光學(xué)系統(tǒng)，用來觀察不同的樣品

檢定分劃尺的補(bǔ)充設(shè)備由左、右兩個(gè)支架組成，在兩支架上各
固定一個(gè)檢定儀類型的顯微鏡，支架則固定在機(jī)器的測量基座上。
支架都裝有改正螺旋，改正螺旋可于不大的范圍內(nèi)在相互垂直的兩
個(gè)方向上改變顯微鏡的傾斜度。左支架除有改正螺旋外，還有在水
平方向內(nèi)移動(dòng)顯微鏡的滑架。全套設(shè)備中還包括四個(gè)能上、下移動(dòng)
的側(cè)臺，而這些側(cè)臺的頂面均可在垂直于機(jī)床導(dǎo)軌的方向上移動(dòng)。

  為了測定顯微鏡零分劃間的距離，在設(shè)備的整機(jī)內(nèi)安置有因瓦
桿尺。
 
  當(dāng)米或百毫米的分劃的零分劃和微口徑測量器的鏡筒分
劃尺重合時(shí)，借助于位在側(cè)臺上的因瓦桿尺測定左、右顯微鏡零分
劃間的距離(值得注意的是，要使顯微鏡垂直豎立且物鏡都位在同
測定安在側(cè)臺上的被測量構(gòu)件分劃線間的距離。

  當(dāng)取得整米分劃、整百毫米分劃和兩個(gè)顯微鏡的諸讀數(shù)之后
在全能顯微鏡上進(jìn)行下列工作是方便的。校準(zhǔn)測量長度用的插
軸和測量角度用的照準(zhǔn)目標(biāo)，檢定時(shí)針式指示器，測定短水準(zhǔn)尺分
劃改正數(shù)與因瓦線尺分劃改正數(shù)，檢驗(yàn)測量的平面平行板，以及各
種分劃尺的端點(diǎn)、螺旋線。在全能顯微鏡中。依被鑒定過的帶有
0.001毫米級誤差的玻璃分則尺來測定被測構(gòu)件的變化。

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