光鏡及電子顯微鏡相比有哪些特點(diǎn)-礦相樣品超微粒礦物

  用透射式電子顯微鏡研究顯微礦相關(guān)系時(shí)，被研究的樣品必需
是很薄的一片，能為電子束所透過，而礦石薄片一般都嫌過厚，
當(dāng)然無法為電子束所透射，因此礦相的磨光面必須由一極薄的復(fù)
型來代替，復(fù)型必需能真正反映礦物相的組構(gòu)，并具有一定的強(qiáng)
度，不致因高壓或高速電子束的打擊下而破碎，也需要有很好的
明暗襯度，使礦相組構(gòu)清晰在顯示出來。

  在電子顯微鏡下觀察礦相樣品的復(fù)型是為了研究礦石的超顯微
結(jié)構(gòu)和考查超微粒礦物的存在狀態(tài)和分布規(guī)律，這些研究工作將
對(duì)礦石工藝性的分析提供有重要意義的依據(jù)。

  掃描電子顯微鏡研究

  縶熱電子顯微鏡研究則用一個(gè)精密的電子束和一陰極射線管的
電子束，進(jìn)行同步掃描顯微標(biāo)本獲得三維立體圖象，掃描電鏡與
光學(xué)顯微鏡及透射電子顯微鏡相比具有如下顯著特點(diǎn)：

  1、獲得三維的圖象，具有立體的真實(shí)感，掃描電子顯微鏡是
由電子束沖擊樣品后釋放出來的次級(jí)電子，再經(jīng)過收集后放大成
象，故獲得很大的景深，而不受樣品大小與厚度的影響。

  2、掃描電子顯微鏡放大的有效范圍可從10倍直到三十萬倍，
分辨率為150A，有的可達(dá)到100A左右，增加放大倍數(shù)時(shí)焦距不用
改變，景深相對(duì)地也產(chǎn)遞減。

  3、供掃描電鏡觀察研究用的導(dǎo)電性樣品不必經(jīng)過研磨或復(fù)制
，只要適合儀器抽真空的樣品室大小均可。

  掃描電子顯微鏡是由顯微鏡圓筒、電源線路、視頻控制裝置和
真空系統(tǒng)組成。

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