測(cè)量粗糙度的儀器的設(shè)計(jì)原理-機(jī)械輪廓儀常識(shí)

  粗糙度的測(cè)量
  目前的表面測(cè)量技術(shù)水平還可能將一個(gè)物體的實(shí)際表面準(zhǔn)確地
表征出來(lái)，并確定它的真正質(zhì)量。

  測(cè)量粗糙度的儀器分為按接觸原理工作的和按光學(xué)干涉原理工
作的兩類(lèi)，接觸儀儀器所提供的是一種一維的表面圖形，而光學(xué)
干涉顯微鏡所顯示的則是一種二維的表面圖形，采用機(jī)電接觸式
輪廓儀，則不但可提供表面的輪廓圖，而且還可以直接示出各種
粗糙度尺寸。

  當(dāng)用一種粗糙度尺寸，表明一個(gè)要件的粗糙度時(shí)，需要在工件
的不同位置上進(jìn)行一系列測(cè)量，以便從這些值中求出一個(gè)平均值
來(lái)，測(cè)點(diǎn)的數(shù)目取決于這些分別測(cè)量數(shù)據(jù)的離散程度。
  由于至今不沒(méi)有一種測(cè)量粗糙度的儀器能準(zhǔn)確地按標(biāo)準(zhǔn)，所以
在比較由各種機(jī)電式輪廓儀測(cè)出的粗糙度時(shí)，必須注意下列兩點(diǎn)
：
  1、 這些儀器必須有相同的基準(zhǔn)制，或者同樣的探測(cè)器結(jié)構(gòu)；
  2、測(cè)量必須在輪廓的同一段長(zhǎng)度上進(jìn)行，而且都不用或者都
用相同的波紋濾除器。

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