測(cè)量粗糙度的儀器的設(shè)計(jì)原理-機(jī)械輪廓儀常識(shí)
粗糙度的測(cè)量
目前的表面測(cè)量技術(shù)水平還可能將一個(gè)物體的實(shí)際表面準(zhǔn)確地
表征出來(lái),并確定它的真正質(zhì)量。
測(cè)量粗糙度的儀器分為按接觸原理工作的和按光學(xué)干涉原理工
作的兩類(lèi),接觸儀儀器所提供的是一種一維的表面圖形,而光學(xué)
干涉顯微鏡所顯示的則是一種二維的表面圖形,采用機(jī)電接觸式
輪廓儀,則不但可提供表面的輪廓圖,而且還可以直接示出各種
粗糙度尺寸。
當(dāng)用一種粗糙度尺寸,表明一個(gè)要件的粗糙度時(shí),需要在工件
的不同位置上進(jìn)行一系列測(cè)量,以便從這些值中求出一個(gè)平均值
來(lái),測(cè)點(diǎn)的數(shù)目取決于這些分別測(cè)量數(shù)據(jù)的離散程度。
由于至今不沒(méi)有一種測(cè)量粗糙度的儀器能準(zhǔn)確地按標(biāo)準(zhǔn),所以
在比較由各種機(jī)電式輪廓儀測(cè)出的粗糙度時(shí),必須注意下列兩點(diǎn)
:
1、 這些儀器必須有相同的基準(zhǔn)制,或者同樣的探測(cè)器結(jié)構(gòu);
2、測(cè)量必須在輪廓的同一段長(zhǎng)度上進(jìn)行,而且都不用或者都
用相同的波紋濾除器。
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