金屬的表面與晶粒粗化溫度加工鑒定金相顯微鏡

就一般而言，異常晶粒長大過程具有如下特征：
  (1)在異常晶粒長大過程中大晶粒是從業(yè)已存在于原始基體
中的晶粒發(fā)展而成的，而不是在異常晶粒長大過程中新形成的。
  (2)異常晶粒長大的初始階段是緩慢的，即在異常晶粒長大
之前有一個明顯的孕育期。

  (3)決定哪些晶?？赡艹蔀槎尉Я６靡蚤L大的因素以及
二次晶粒在初期的長大機制是整個異常晶粒長大過程中最未被人
們認識的部分。一般認為二次晶粒在初期就明顯大于系統(tǒng)平均晶
粒尺寸或者在有織構(gòu)存在時具有與眾不同的取向。
  (4)發(fā)生異常晶粒長大的條件是正常晶粒長大過程受阻而不
能進行。
  (5)異常晶粒長大結(jié)束后的二次織構(gòu)不同于原始試樣中的主
要再結(jié)晶織構(gòu)。

  (6)許多金屬具有相應的能發(fā)生異常晶粒長大的最低溫度，它
稱為“晶粒粗化溫度”。當退火溫度低于晶粒粗化溫度時，將不發(fā)
生異常晶粒長大，因此一般不會形成粗大的晶粒組織。而當退火溫
度大大超過晶粒粗化溫度時，盡管會發(fā)生異常品粒長大，但因二
次晶粒數(shù)目很多，它們很快就將相互碰到．使異常晶粒長大過程
較早結(jié)束，所以晶粒尺寸也不會很大。但是如果退火溫度剛好超過
晶粒粗化溫度，則將只有極個別晶粒呈異常長大特征，它們將具
有足夠大的空間充分長大，在這種情況下異常晶粒長大過程結(jié)束
后的晶粒尺寸最大。

  (7)異常晶粒長大的驅(qū)動力來源通常與正常晶粒長大相同，即
來源于系統(tǒng)的界面能，但在某些情況下，金屬的表面能也可能是
決定異常晶粒長大特征的主要因素。

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