偏光顯微鏡樹(shù)膠與礦物折光率差值大則解理紋越清晰

  單偏光下觀察只用一個(gè)下偏光鏡而不用上偏光鏡的觀
察，稱單偏光下的觀察，礦物晶體的許多重要光學(xué)性質(zhì)，
只需要一個(gè)下偏光鏡就可以觀察，如顏色、多色性等，某
些外表特征，則不需要下偏光，只要放大就能觀察，如形
狀、解理等，不過(guò)對(duì)這些特征的觀察，有下偏光鏡也沒(méi)有
影響，所以通常都是在單偏光下觀察。

  許多礦物都具有解理，但是解理的方向，組數(shù)及完善
程度各不相同，所以解理也是鑒定礦物的一個(gè)重要依據(jù)，
解理即有一定方向性，因而它與某個(gè)晶軸常有一定關(guān)系，
所以在薄片鑒定中，解理還可以作為測(cè)定其他光學(xué)常數(shù)的
輔助條件。

  根據(jù)解理的完善程度，一般可分為三級(jí)：1 、極完善
解理，解理紋細(xì)密而直長(zhǎng)，如云母

  2 、完善解理，解理紋雖清楚，但末完全聯(lián)貫

  3 、不完善解理，解理紋繼續(xù)，有量只見(jiàn)痕跡礦物解
理的清楚程度，除與解理完善程度有關(guān)外，還受礦物與加
拿大樹(shù)膠折光率差值的影響，樹(shù)膠與礦物折光率差值愈大，
則解理紋愈清楚，解理紋的寬度，除與解理性質(zhì)有關(guān)外，
還與解理性質(zhì)有關(guān)外，還與切面方向有密切關(guān)系，當(dāng)切片
平面與解理面垂直時(shí)，解理紋最窄，代表實(shí)際寬度，解理
面與切面是否垂直，可借升降顯微鏡筒時(shí)解理紋是否向兩
邊移動(dòng)來(lái)鑒別。

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