儀器信息網(wǎng)訊 2016年9月28-29日，由布魯克納米分析部舉辦的2016年全國用戶交流會在北京美麗的古北水鎮(zhèn)召開。近50名來自全國的布魯克納米分析儀器用戶專家代表參加了此次交流會。

布魯克納米分析部中國區(qū)經(jīng)理李慧 主持會議

布魯克納米分析部德國產(chǎn)品總監(jiān) Andreas Kahl致開幕詞

　　本次交流會旨在推動EDS、EBSD、Micro-XRF技術(shù)及電子顯微學(xué)的進步和發(fā)展、提高廣大顯微學(xué)工作者的學(xué)術(shù)及技術(shù)水平，以促進顯微學(xué)在材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的應(yīng)用和發(fā)展。交流會分為大會報告和分組討論交流兩個部分。大會報告上用戶專家及布魯克應(yīng)用專家們?yōu)榇蠹規(guī)?個精彩報告，內(nèi)容涉及能譜分析、EDS定量、微區(qū)XRF、EBSD、TKD等納米分析的前沿技術(shù)。大會現(xiàn)場大家積極交流互動，展現(xiàn)出一派活躍的學(xué)術(shù)交流氛圍。

交流會現(xiàn)場

布魯克德國應(yīng)用專家 Max Patzschke

報告題目：低電壓低束流電鏡條件下能譜分析方法及應(yīng)用

　　作為布魯克的創(chuàng)新產(chǎn)品，平插式能譜儀可以在保留高能量分辨率的同時提供超高計數(shù)率和空間分辨率。Max在介紹此款能譜儀時，特別強調(diào)了其XFlash探測器，該探測器不僅可以提供很高的固體角(1.1sr)，還可以在低束流、低電壓、更小激發(fā)體積條件下對納米尺度材料樣品進行精確分析。接著，Max分別以高聚物、隕石、宇宙飛船收集彗星粉塵試樣等樣品的能譜分析為例，闡述了平插式能譜儀的面掃描面積大、掃描速度快、粗糙樣品掃描不產(chǎn)生陰影等優(yōu)異性能。

布魯克亞太區(qū)產(chǎn)品應(yīng)用經(jīng)理 王銳

報告題目：EDS定量方法原理解讀及應(yīng)用

　　王銳經(jīng)理首先為大家科普了X射線的產(chǎn)生原理及EDS定量理論模型，接著結(jié)合實際樣品分析情況講解了P/B ZAF(建議粗糙、無標樣情況適使用)和PhiRHoZ model(建議輕量元素、表面平整有標樣情況使用)兩種常用定量方法。最后針對定量過程中出現(xiàn)的樣品充電、樣品粗糙、C定量等問題依次做了原因分析，并給出對應(yīng)解決方案。

布魯克中國應(yīng)用專家 禹寶軍

報告題目：痕量元素的分析方法-掃描電鏡用Micro-XRF技術(shù)介紹

　　禹寶軍通過與EDS對比，介紹了掃描電鏡用Micro-XRF很高激發(fā)深度等優(yōu)越特性。接著講解了Micro-XRF在地質(zhì)、礦物、玻璃、金屬等樣品分析中的應(yīng)用，結(jié)果表明Micro-XRF具有不干擾SEM操作、分析結(jié)果可媲美臺式XRF等特點。

中科院地質(zhì)與地球物理研究所 楊繼進教授

報告題目：能譜在石油地質(zhì)研究中的新應(yīng)用

　　楊繼進教授首先以PM2.5污染為背景，分析了能譜在石油地質(zhì)領(lǐng)域研究的重要意義。接著介紹了礦物分析-掃描電鏡類儀器的選型和參數(shù)情況，包括能譜儀效率、分辨率、分析軟件系統(tǒng)等。最后講解了他們實驗室使用布魯克能譜儀在大面積礦物質(zhì)成分、樣品中特定礦物分布、油氣儲層研究等方面的應(yīng)用情況。

中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 曾毅研究員

報告題目：EBSD空間分辨率的研究

　　透射模式電子背散射電子衍射可以顯著提高掃描電鏡進行相鑒定和取向分析的空間分辨率，是2012年以后出現(xiàn)的新技術(shù)。針對目前TKD空間分辨率僅有定性描述，無法定量給出數(shù)據(jù)的情況。曾毅研究員創(chuàng)新地采用圖像關(guān)聯(lián)技術(shù)對原始菊池線衍射花樣進行逐點提取比較，從而將花樣重疊情況進行量化分析，給出了鋼鐵材料在30kV下的TKD理論分辨率為7nm。這也是對TKD空間分辨率的首次報道，相關(guān)結(jié)果發(fā)表在Journal of Microscopy，264(1), 2016, 34-40上。

布魯克德國產(chǎn)品經(jīng)理 Daniel Goran

報告1題目：EBSD技術(shù)的最新應(yīng)用進展

報告2題目：最新TKD技術(shù)的發(fā)展及在納米晶樣品分析中的應(yīng)用

　　Daniel主要介紹了EBSD在樣品相鑒定領(lǐng)域的先進技術(shù)，并以換熱器鋼管樣品的相鑒定分析為例，講解了EBSD配套軟件ESPRIT2.1在數(shù)據(jù)處理過程中表現(xiàn)出的快捷、大大縮減SEM掃描時間等優(yōu)秀性能。

　　接著Daniel還與大家分享了TKD的最新技術(shù)，其中尤其強調(diào)了on-axis探測器，該探測器系統(tǒng)可以為TKD提供高檢測信號強度、快達620fps的測量速度等優(yōu)秀性能。

布魯克亞洲區(qū)售后服務(wù)經(jīng)理 Joo Hsiang Chua

報告題目：BNA維修部介紹及售后服務(wù)講解

　　Joo首先向大家介紹了布魯克納米分析部的全球業(yè)務(wù)分布及組織框架，隨后從售后維修配套、維修配套傳單、售后技術(shù)支持等方面具體講解了布魯克納米分析部的完善售后服務(wù)體系。

布魯克中國應(yīng)用專家 嚴祁祺

報告題目：痕量元素及深度檢測方法介紹-臺式Micro-XRF技術(shù)應(yīng)用

　　與傳統(tǒng)XRF的相比，微區(qū)XRF具有X射線穿透能力強、可實現(xiàn)大塊樣品快速掃描、無需樣品制備等優(yōu)點。嚴祁祺報告中主要介紹了布魯克微區(qū)XRF系列產(chǎn)品M1、M2、M4等在地質(zhì)薄片、樹葉元素分析、昆蟲、金屬材料、考古等領(lǐng)域的具體應(yīng)用實例。

參會人員合影留念

　　會上儀器信息網(wǎng)編輯發(fā)現(xiàn)，布魯克應(yīng)用專家和高層們都分散和用戶們坐在了一起，以便更好的與用戶的交流，相信如此重視聆聽客戶、注重細節(jié)的布魯克納米分析部的發(fā)展必將指日可待。