應(yīng)用電子顯微鏡研究分析礦粒的成分和形狀輪廓

浮選給料的解離度和礦粒形狀的描述是目前正在開始研究的
一個(gè)領(lǐng)域。為把某些重要的因素考慮進(jìn)模型中去，以提高模型的
有效性，有必要對浮選給料進(jìn)行定量描述，這些因素目前可借助
比拋光薄片光學(xué)顯微法更方便、更準(zhǔn)確的自動(dòng)掃描電子顯微鏡來
測得

盡管在不久的將來粉碎一解離模型還不能預(yù)測出礦粒的形狀，
但掃描電子顯微鏡能提供礦粒的成分和形狀的資料。可以不考慮
任一分選過程原料制備作業(yè)的模型建立問題，電子掃描顯微鏡可
成為描述原料制備作業(yè)產(chǎn)品顆粒成分和顆粒形狀的手段。

用以估計(jì)分布參數(shù)的方法并不對解離的有用礦物和連生的有用礦
物加以區(qū)別。因此只對“連生礦粒中的有用礦物”加以描述，而
未對“連生礦粒中的脈石礦物”進(jìn)行描述，通過對分批一連續(xù)試
驗(yàn)或生產(chǎn)廠的產(chǎn)品檢驗(yàn)，以及應(yīng)用掃描電子顯微鏡之類的快速設(shè)
備，就可以鑒別出與各種速度常數(shù)組(離散的或連續(xù)的)有關(guān)的
脈石。將脈石考慮到模型中的困難并不在于數(shù)學(xué)問題，而在于樣
品的分析。

模擬的主要用途如下：
  (1)研究浮選回路中浮選機(jī)的最優(yōu)布置。典型的問題是，
怎樣將所有的浮選槽按其數(shù)量劃分為粗選槽、掃選槽和精選槽，
或怎樣在回路中最合理地應(yīng)用再磨機(jī)；
  (2)研究使回路性能沿品位一回收率曲線移動(dòng)的最佳變量，
  (3)當(dāng)回路中的礦漿性質(zhì)如給料速度、礦石粒度分布或礦
物組成等，發(fā)生變化時(shí)，預(yù)測浮選的結(jié)果；
  (4)當(dāng)改變浮選廠的產(chǎn)量，或礦石的浮選特性發(fā)生長期重
大變化時(shí)，確定回路改建或擴(kuò)建的途徑；
  (5)根據(jù)中間試驗(yàn)廠的數(shù)據(jù)進(jìn)行新選廠流程的最佳設(shè)計(jì);
  (6)設(shè)計(jì)控制系統(tǒng)。

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