晶粒的大小與方向（硬度）

  在開斷頻率比較高的弱電流使用條件下對銀接進行壽
命試驗，并對所作的壽命試驗結果進行統(tǒng)計處理，則其損
耗量和接觸電阻與硬度具有相同的關系。

  由塑性變形產生的內部應變，在晶粒內外非常不均勻，
受腐蝕時，應變大的地方成為陽極，接點的情況也是一樣，
應變分布不均勻時，應變大的部分放電容易集中，當粉末
狀氧化物進入其微小的損耗部分時接觸增大，放電更易集
中到該處，故往往使損耗加大，內部應變分布的不均勻比
內部應變的大小對損耗的速度影響更大。

  用熔化法和燒結法制造的接點，當硬度、純度、表面
光潔度完全相同時，比較其結果。

  這是因為燒結金屬與鑄造金屬的本質差別在于前者的
多孔性質，而其他金屬性質卻完全沒有本質上的差別，用
熔化法制造時晶界物質的大部分是由固體構成的，而在燒
結金屬的晶界物質中含氣體多。

  另外，鑄造金屬的固體晶界物質通常是由具有很大結
合力的化合物組成，但這些化合物與晶粒之間的結合力一
般比較弱，則這種薄弱性在外觀上主要表現為晶粒脆弱，
但這種晶粒脆弱性采用燒結法可以去除。

  因此熔化法的接點在放電時，晶界物質與晶粒之間結
合薄弱部分比晶界物質的破壞大，晶界物質破壞所生成的
粉末狀氧化物少，并且在低電壓電路中，由于感應在接點
產生高電壓比通過接點間的電流對損耗的影響大，所以，
主要是由感應所產生的高電壓使前述的結合力薄弱部分受
到很大的破壞。

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