12月7日上午,布魯克納米表面儀器部應(yīng)用專家孫昊博士在中山大學(xué)進(jìn)行了力學(xué)測量技術(shù)的新進(jìn)展和峰值力掃描電化學(xué)顯微鏡專題講座。中山大學(xué)的原子力顯微鏡用戶參加了此次講座。
專題講座主要介紹了兩個(gè)專題:
1. Advances in mechanical properties measurement of nano-materials characterization by Bruker AFM,主要介紹近兩年布魯克AFM在測量力學(xué)方面的一些進(jìn)展,包括對(duì)力曲線和Force Volume的改進(jìn),對(duì)PeakForce QNM測量準(zhǔn)確性的改進(jìn),以及新的Contact ?resonance, Ramp & Hold和Ramp Scripting。
2.PeakForce SECM,主要介紹布魯克掃描電化學(xué)顯微鏡PeakForce SECM的概念與原理以及在電化學(xué)活性、液體中導(dǎo)電性測量等方面的應(yīng)用。
布魯克BNS應(yīng)用專家 孫昊博士 中山大學(xué)AFM專題講座
同日下午,孫昊博士在華南理工大學(xué)進(jìn)行力學(xué)測量技術(shù)的新進(jìn)展主題講座。接近20名AFM用戶參加了此次講座并參與討論。
華南理工大學(xué)AFM主題講座 ?孫昊博士