????我司于2017年1月在上海某高校成功安裝基于Janis 探針臺(tái)和Keithley 4200半導(dǎo)體特性儀的測(cè)試系統(tǒng)。該探針臺(tái)配置四個(gè)三同軸探針臂和兩個(gè)光纖探針臂，漏電流優(yōu)于50fA。該探針臺(tái)變溫范圍大（8K-675K）。我司提供Keithley 4200半導(dǎo)體特性儀，并提供集成變溫IV、CV和輸運(yùn)和轉(zhuǎn)移特性等測(cè)試軟件

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??????? ? 變溫測(cè)量IV和VI曲線?????????????????? ? 變溫場(chǎng)效應(yīng)管（橫坐標(biāo)Vgs，縱坐標(biāo)Ids，

??????????????????????????????????????????????????????????? 不同曲線代表不同的Vds和溫度）

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????????????? 變溫場(chǎng)效應(yīng)管（橫坐標(biāo)Vds，縱坐標(biāo)Ids，?????????? 變溫CV測(cè)試（橫坐標(biāo)偏壓，縱坐

???????????????????? 不同曲線代表不同的Vgs和溫度）??????????????????標(biāo)電容，不同曲線代表不同溫度） ????

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