電子顯微鏡和電子衍射

  上面曾經(jīng)談過，x一射線衍射和電子衍射的原理是相同的。
但這兩種方法所得的結(jié)果在某些方面并不相同。一個(gè)原子的電子
散射過程與X一射線的散射是不同的，因此電子衍射圖上線條的
相對強(qiáng)度也是不同的。電子的散射單位較小，因此能揭示更細(xì)致
的結(jié)構(gòu)；反之，電子流被物質(zhì)的吸收性強(qiáng)，除非所檢驗(yàn)的樣品
非常小，否則只能揭示表面的結(jié)構(gòu)。

  與粉末x一射線法有些相似，用電子槍和扁平試體的裝置可
得電子衍射圖，或者也可從對于薄試體的透射來獲得電子衍射
圖。后一方法是在電子顯微鏡中拍攝衍射圖時(shí)采用的。在順利的
情況下，可能獲得單晶衍射花樣圖。

  電子顯微鏡中的“光學(xué)”系統(tǒng)，除了用的是電磁或靜電的聚
焦外，與可見光顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)是相同的。電子束是對由一根
被加熱的細(xì)絲所發(fā)射出的電子加速而產(chǎn)生的。這種方法要求高度
真空，這就使實(shí)驗(yàn)中制備樣品困難，有些試樣在真空的影響下會(huì)
分解，而有時(shí)在電子撞擊的影響下會(huì)使分解加劇。通?？蓪⒃嚇?br>沉置在金屬薄膜上加固。若膜是在一個(gè)方向沉淀而得，則可獲得
陰影效應(yīng)，這可揭示未經(jīng)處理的樣品中所看不清的細(xì)微結(jié)構(gòu)。有
時(shí)可用樣品的塑料“復(fù)型(replica)”來檢驗(yàn)。

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