儀器信息網訊 2017年5月20日，“2017年全國表面分析方法及新能源與生物功能材料學術研討會”在重慶召開。此次會議由西南大學、重慶大學、賽默飛主辦，170多位來自科研院校、以及企業(yè)的專家用戶參加了此次會議。?

會議現場

　　材料表面的成分、結構、化學狀態(tài)等與內部有明顯的不同，而表面特性對材料的物理、化學等性能影響很大。隨著材料科學、化學化工、半導體及薄膜、能源、微電子、信息產業(yè)、生物醫(yī)藥及環(huán)境領域等高新技術的迅猛發(fā)展，對于表面分析技術的需求日益增多。同時，由于最近幾十年超高真空、高分辨和高靈敏電子測量技術的快速發(fā)展，表面分析技術也有了長足進步。表面分析技術主要包括X射線光電子能譜(XPS)、俄歇電子能譜(AES)、二次離子質譜(SIMS)等。國內表面分析技術起步于80年代，目前已經廣泛應用于基礎科研、先進材料研制、高精尖技術、裝備制造等領域。

　　此次會議，多個報告聚焦在表面分析及方法的進展，如：

University Of Surrey John F.Watts

報告題目：XPS：A Versatile Analysis Method From Carbon to Energy Materials

　　此次會議請來了《表面分析(XPS和AES)引論》一書的原作者John F.Watts先生作大會報告。

中國科學院物理研究所郭沁林研究員

報告題目：樣品簡易加熱法

　　郭沁林研究員在實驗室的XPS設備條件不具備的情況，自己搭建了簡易的燈泡樣品加熱裝置，其性價比極高、操作簡單、加熱速度快、燈絲不會被污染、可在氧氣氛中工作、易維護等優(yōu)點。當然，此簡易裝置也存在著占用空間、無法原位制備薄膜等問題。

重慶大學唐文新教授

報告題目：低能電子顯微鏡在表面科學中應用

　　唐文新教授2012年承擔了國家自然科學基金委重大科研儀器設備研制專項“超快自旋極化低能電子顯微鏡”，自主設計了新型的超快高分辨自旋極化低能電子顯微鏡。該技術將用于探索和發(fā)現低維超快磁動力和量子結構的表面超快動力過程中的非平衡態(tài)物理化學現象。

山東農業(yè)大學高峰

報告題目：XPS真空原位硬件技術與精確分析軟件技術初探

　　報告中，高峰介紹了XPS真空原位分析技術及軟件新技術，及其在蛋白質研究、厭氧性細胞研究、失效分析等領域的應用前景。

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北京師范大學吳正龍教授

報告題目1：非均勻樣品的XPS分析

報告題目2：XPS名詞術語

　　吳正龍教授此次會上做了兩個報告，首先介紹的是非均勻樣品的XPS分析。電子能譜所要求的無限厚均勻樣品較少，一般樣品都屬于非均勻樣品，如有包裹層、覆蓋層、多層薄膜，或者顆粒物的存在。報告中，吳正龍教授通過實際分析例子介紹了XPS與表面分析相沖突的現象、比較了表面分布與均勻的XPS分析結果、概述了非均勻樣品的XPS分析技術。

中國計量科學研究院王海研究員

報告題目：表面分析電子能譜儀標準物質研究

　　報告中，王海研究員介紹了標物SiO2/Si、XPS能量標度標物GBW(E)130545~130547、Cu(In,Ga)Se2薄膜組成標物等的工藝優(yōu)化、均勻性與穩(wěn)定性、定值、量值驗證、與國外同類標物對比以及標物的應用。

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