《常見動(dòng)物源性成分快速測定 膜芯片法》國家標(biāo)準(zhǔn)征求意見函

各有關(guān)單位及專家：

　　根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)國家標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃，由中國標(biāo)準(zhǔn)化研究院提出并歸口，由中國標(biāo)準(zhǔn)化研究院等單位負(fù)責(zé)起草的國家標(biāo)準(zhǔn)《常見動(dòng)物源性成分快速測定 膜芯片法》(計(jì)劃編號(hào)：20170498-T-424)已形成征求意見稿，按照《國家標(biāo)準(zhǔn)管理辦法》的有關(guān)規(guī)定，現(xiàn)向社會(huì)各界公開征求意見，請(qǐng)?zhí)顚憽兑庖姺答伇怼?，并?017年8月10日前以信函、傳真或Email的形式分別反饋給聯(lián)系人，如沒有意見也請(qǐng)復(fù)函說明，逾期未復(fù)函，將按無異議處理。

　　感謝您對(duì)我們工作的支持。

　　聯(lián)系人：云振宇/張瑤

　　電 話： 13810820671/13910401970

　　傳 真： 010-58811645

　　電子郵件：yunzy@cnis.gov.cn/zhangyao@cnis.gov.cn

　　地址：北京市海淀區(qū)知春路4號(hào)817室

　　中國標(biāo)準(zhǔn)化研究院

　　2017年7月11日

　　附件：

　　附件1《常見動(dòng)物源性成分快速測定 膜芯片法》國家標(biāo)準(zhǔn)征求意見稿.pdf.pdf

　　附件2《常見動(dòng)物源性成分快速測定 膜芯片法》國家標(biāo)準(zhǔn)編制說明.pdf.pdf

　　附件3 《常見動(dòng)物源性成分快速測定 膜芯片法》國家標(biāo)準(zhǔn)意見反饋表.doc.doc