2017年7月，TESCAN發(fā)布了一款FIB-SEM新品S8000G超高分辨雙束FIB掃描電鏡系統(tǒng)，S8000G是TESCAN S8000系列掃描電鏡的第一個(gè)新成員，搭載了TESCAN最新研發(fā)的多項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)，可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量、可完成復(fù)雜的納米操作并保證極佳的精度和操作靈活性，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)研究的所有需求。

TESCAN FIB-SEM新品S8000G

近日，TESCAN UK攜新產(chǎn)品S8000G參加了在英國(guó)曼徹斯特開(kāi)幕的MMC2017 (The Microscience Microscopy Congress 2017) 展覽會(huì)，MMC展會(huì)由皇家顯微學(xué)會(huì)和物理研究所的電子顯微分析中心共同舉辦，可追溯到20世紀(jì)60年代，具有非常悠久的展覽歷史。此次S8000G在展覽會(huì)上的首次亮相吸引了眾多眼球，TESCAN的品牌和聯(lián)用創(chuàng)新技術(shù)也引起了參會(huì)觀眾的極大興趣。?

TESCAN新品S8000G引起廣泛關(guān)注

TESCAN的研發(fā)和應(yīng)用團(tuán)隊(duì)也出席了此次展覽會(huì)，與參會(huì)觀眾熱烈交流。同期，TESCAN官網(wǎng)的S8000G網(wǎng)頁(yè)訪問(wèn)量和點(diǎn)擊量都非常巨大，受到了全球各國(guó)的關(guān)注。

TESCAN工程師與參會(huì)觀眾熱烈交流

S8000G超高分辨FIB-SEM系統(tǒng)主要特點(diǎn)：

最新的BrightBeam?SEM鏡筒，專利的70°靜電-電磁物鏡，使系統(tǒng)擁有更加出色的低電壓分辨率

無(wú)漏磁物鏡，可以最大化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析等

最新的探測(cè)器系統(tǒng)，可選擇不同角度和不同能量收集信號(hào)電子，擁有更好的表面形貌靈敏度和對(duì)比度

創(chuàng)新的 Orage? Ga FIB鏡筒，可適用于各類具有挑戰(zhàn)性的納米工程任務(wù)

擁有絕佳的離子分辨率（可達(dá)2.5nm @ 30keV）以及SmartMill級(jí)別的高速切割能力，F(xiàn)IB束流最大可達(dá)100nA

更多詳情，請(qǐng)關(guān)注TESCAN中國(guó)官方微信“TESCAN公司”

關(guān)于TESCAN

TESCAN發(fā)源于全球最大的電鏡制造基地-捷克Brno，是電子顯微鏡及聚焦離子束系統(tǒng)領(lǐng)域全球知名的跨國(guó)公司，有超過(guò)60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史，是掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù)、聚焦離子束與飛行時(shí)間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù)的開(kāi)拓者，也是行業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者。