鋼鐵材料晶粒度-晶粒大小計(jì)量圖像顯微鏡

偏析
  偏析是結(jié)晶過(guò)程中形成的不純凈和不均勻在鍛軋后未消除而形
成的。低倍試片上的偏析與鋼錠中的“V”形偏析和“A”形偏析有
關(guān)。根據(jù)偏析的分布和形態(tài)分為錠型偏析和點(diǎn)狀偏析兩大類(lèi)。錠型
偏析在酸蝕橫向低倍試片上為腐蝕較深、由密集的暗色小點(diǎn)所組成
的偏析帶，其形狀與錠模有關(guān)，因此叫作錠型偏析。對(duì)于方截面的
鋼錠，偏析帶為方形，也叫方框形偏析。

  偏析帶中的易腐蝕點(diǎn)反映這里的碳、硫、磷較基體高，而和基
體顏色不同的小點(diǎn)則反映了其他元素含量和基體的差別。通常根據(jù)
受蝕的深度、孔隙的連續(xù)性和框的寬度來(lái)評(píng)定級(jí)別，孔隙密排連
續(xù)成線(xiàn)，對(duì)鋼的使用性能影響較大，評(píng)級(jí)時(shí)級(jí)別高；孔隙排列松散
，框較寬，偏析是逐漸過(guò)渡的，對(duì)鋼的性能影響較小，級(jí)別應(yīng)低。
  點(diǎn)狀偏析在熱酸腐蝕橫向試片上呈暗黑色的斑點(diǎn)，一般較大，
其形態(tài)大體可分三種：第一種是形狀不規(guī)則的點(diǎn)；第二種為顏色比
基體稍深，略為凹陷的，橢圓形、瓜子形或圓形的點(diǎn)；第三種是在
第二種的基礎(chǔ)上又加上未焊合的氣泡。

  根據(jù)在斷面上的存在部位，點(diǎn)狀偏析分為一般點(diǎn)狀偏析和邊緣
點(diǎn)狀偏析兩種。前者在試樣上呈不規(guī)則分布，后者大致順著試樣各
周邊分布并距表皮有一定距離。
  偏析的聲學(xué)反射特性基本與疏松相同，需要強(qiáng)調(diào)指出的是，有
些點(diǎn)狀偏析同時(shí)伴有氣泡或打扁的氣泡，這時(shí)的反射回波就比較明
顯

晶粒粗大
  在鋼鐵材料中，一般把晶粒度的1～4級(jí)稱(chēng)做粗晶粒，5—8級(jí)稱(chēng)
做細(xì)晶粒。由于加熱溫度過(guò)高或保溫時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，在大鍛件或退火后
的工件上常常出現(xiàn)晶粒粗大。晶粒粗大屬于“全身性”缺陷，即往
往在工件各處都存在，由于某種特殊原因，晶粒粗大有時(shí)也只產(chǎn)生
在工件的一頭或鍛件上的大直徑部位。

  除了晶粒大小對(duì)超聲波的衰減有決定性的影響之外，有資料還
認(rèn)為，超聲波在材料中的衰減與鐵素體及珠光體的片層間距離有關(guān)
。該觀點(diǎn)認(rèn)為：在晶粒大小不變的情況下，珠光體組織中的超聲波
衰減取決于珠光體的片層距離，并且這個(gè)衰減隨片層間距的增大而
增加。同時(shí)如果晶粒大小不變，則衰減隨組織中鐵素體比例增大而
增加。鐵素體含量對(duì)衰減起重要作用的原因是，超聲波在傳播過(guò)程
中，鐵素體以封閉珠光體團(tuán)的連續(xù)網(wǎng)狀形式存在，從而大大增加了
衰減。

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