鋼筋混凝土斷層截面采樣分析金相顯微鏡應(yīng)用

實(shí)驗(yàn)室測試表明，x射線的斷層攝影是定位鋼筋、判斷是否存在空
隙和不連續(xù)相的理想工具。斷層影像的重構(gòu)需要從各個(gè)角度對物體
進(jìn)行x射線照射。在許多潛在的應(yīng)用中，讓x射線源和x射線檢波器
序列圍繞被測物體旋轉(zhuǎn)過所有的角度是不可能的。然而，由于定幾
何角度的重構(gòu)演繹技術(shù)的重大發(fā)展，使得上述問題并不會對x射線
的斷層攝影技術(shù)應(yīng)用于一定混凝土結(jié)構(gòu)的檢測造成重大的障礙。特
殊的解決方法和以下參數(shù)有關(guān)系。
  確定檢測器的寬度和輻射源的光點(diǎn)直徑  衰減沿著輻射光束的
確定的寬度發(fā)生，而不是理想的一條直線。
  數(shù)據(jù)采樣速率提高投影數(shù)據(jù)采樣的速率需要增加每個(gè)投影測定
的線積分的數(shù)量，以及增加每繞物體360°的投影的數(shù)量。
  視角采樣的一致性投影數(shù)據(jù)的視角覆蓋的差距會導(dǎo)致在重構(gòu)影
像上出現(xiàn)明顯的外來物質(zhì)。
  分散的輻射進(jìn)入弱光束檢測器。會提高測試噪聲檢測器前的平
行光管用來減少錯(cuò)誤的測試，但是會付出減少每個(gè)投影的檢測器數(shù)
量的代價(jià)。
  總的光子數(shù)增加輻射源的強(qiáng)度會造成遷移輻射強(qiáng)度的提高，提
高計(jì)量數(shù)據(jù)的質(zhì)量和信號對噪聲的比率。x射線管產(chǎn)生的光束強(qiáng)度
比同位素元產(chǎn)生的光束強(qiáng)度要高。

  鋼筋混凝土的x光斷層攝影
斷層攝影這一詞源自希臘詞匯切開(切分)，它有一個(gè)目的，就是用
測定切片截面的方式來評估物體的特點(diǎn)。斷層攝影屬于逆向思維這
一類技術(shù)，它經(jīng)常被用于由觀察到的現(xiàn)象進(jìn)行推斷，來得出物質(zhì)世
界的信息?；镜脑硎菑奈矬w的投影來重建一個(gè)函數(shù)，。發(fā)展一
種無損體系的結(jié)構(gòu)就可繪出體系內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方法是非常吸引人的，
特別是包括能推測內(nèi)部各相的形態(tài)和各向異性、缺陷、裂紋、不均
勻性和各向異性。
  現(xiàn)在有新的、正在涌現(xiàn)的新技術(shù)，其具有充分潛力來評估混凝
土結(jié)構(gòu)：X射線或^y射線的斷層數(shù)碼攝影，電阻抗攝影和反向散射
微波成像。x射線的斷層數(shù)碼攝影在高分辨率( 5微米)探測裂紋和
定位一般尺寸混凝土結(jié)構(gòu)中的鋼筋上有很好的前景。阻抗攝影在鋼
筋定位、含水分的裂紋和定位有相同高導(dǎo)電性的混凝土區(qū)域的應(yīng)用
上有很好的前景，還有獲得鋼筋周圍銹蝕信息的可能。反向散射微
波成像可用來檢測平直的表面，從表面定位混凝土中6～7cm深的鋼
筋。電阻抗攝影是較為廉價(jià)、快速和容易使用的技術(shù)，相對而言，
x射線的斷層數(shù)碼攝影比較復(fù)雜，測量的安裝和操作成本較高。反
向散射微波成像較為簡單、快速、操作成本也相對較低。x射線斷
層數(shù)碼攝影

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