光學(xué)全幅分布測定法

  光學(xué)全幅分布測定法(opyi—cal profilometry)類似于探頭掃
描橫過紙面的觸針全幅測定法。在垂直分辨率類似于觸針全幅測定
儀時(shí)，水平分辨率(受光波性質(zhì)的限制)大致可為1μm。在傳感器與
紙面之間沒有物理接觸，所以不會有對試樣造成危險(xiǎn)的可能性。這
使得有可能對紙面作更快速掃描。光學(xué)全幅測定傳感器有好幾種型
式。其中多數(shù)由于結(jié)構(gòu)形狀上的原因，對最大可測傾斜角有限制。
傾斜角太高，從紙面反射的光將落在傳感器頭的合理口徑之外。通
常光學(xué)全幅分布測定儀提供比觸針式全幅測定分布儀更快的掃描和
更高的分辨率。但它們對描繪造紙涂布顏料的水平分辨率仍嫌不夠
。

  觸針全幅分布測定法

  觸針全幅分布測定法(stylus profilometry)包括使觸針移動
通過整個(gè)表面，同時(shí)測量觸針的垂直偏移。該技術(shù)可提供卓越的垂
直分辨率(大約為lnm)。但用于紙張時(shí)，由于需要防止危害到紙面
，水平分辨率一般約為lOμm。在觸針針尖上只有彈簧加壓的有限
作用力，隨著針尖半徑的減小，針尖下的壓力增加。多數(shù)觸針制成
90°坡口角，所以最大可測斜度為45°。還有觸針裝置的有限物理
慣性。這導(dǎo)致必須使觸針在測定垂直偏移前的水平移動之后能可靠
地實(shí)現(xiàn)平衡。如果我們采用很慢的掃描速度，則這項(xiàng)技術(shù)可提供非
常好的紙上纖維規(guī)格和面貌特征的分布狀況圖。

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