共焦顯微鏡法
共焦顯微鏡法(confocal microscopy)提供特殊情況下的光學(xué)
全幅分布測(cè)定,即此時(shí)理論的水平分辨率限制大致為超過√2的波
長(zhǎng)。它是通過在所研究的紙面上針孔成像,并再次在檢測(cè)器孔眼
上光點(diǎn)成像而獲得的。雖然該技術(shù)允許分辨較粗的涂料用顏料,但
要分辨和描繪多數(shù)顏料仍嫌太細(xì)。這種裝置主要缺點(diǎn)是價(jià)格昂貴。
成像技術(shù)涉及導(dǎo)致低的光通量,所以需要用高強(qiáng)度光源。一般這類
光源是氬或氙離子激光,這只能使它比其他的全幅測(cè)定儀更昂貴。
此外,所需的光學(xué)系統(tǒng)也非常復(fù)雜和昂貴。它的兩個(gè)特別優(yōu)點(diǎn)是能
進(jìn)行熒光成像和容積成像(Volume imaging)。例如,如果利用熒光
油墨,就可獲得油墨所在位置的高分辨率圖像。能作容積成像這是
獨(dú)一無二的,且在某些應(yīng)用上有很大效益。但多數(shù)造紙涂料都設(shè)計(jì)
高光散射性,使這項(xiàng)技術(shù)并不適合于造紙涂料的容積成像。
探頭掃描顯微鏡法
探頭掃描顯微鏡法(Scanning probe microscopy)用于研究紙
張涂層表面,可給予最高分辨率(大致以納米計(jì))。這項(xiàng)技術(shù)可提供
卓越的圖像,甚至可測(cè)定最細(xì)的造紙涂布顏料、油墨、膠黏劑和聚
合物添加劑。探頭掃描顯微鏡是一個(gè)嶄新領(lǐng)域,在該領(lǐng)域常出現(xiàn)技
術(shù)先進(jìn)和新型的探頭設(shè)計(jì)。穿隧掃描(Scanning tunneling)和原子
力(atomic force)顯微鏡是這類儀器所知的最佳例子。最新操作模
式的原子力顯微鏡可提供水平作用力(摩擦)和機(jī)械性能(彈性)的分
布圖。近場(chǎng)(near field)光學(xué)掃描顯微鏡更廣泛為人所知。在不同
發(fā)展階段的其他探頭型式包括各種不同類型的磁場(chǎng)傳感器和化學(xué)傳
感器。所有這類儀器中一般認(rèn)為用壓電掃描變送器可獲得特別高的
立體分辨率。這類儀器提供的立體動(dòng)程可精確到約0.1nm。目前微
型傳感器技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)是加強(qiáng)這種高立體分辨率的定位能力。相
同的雙層涂布SBS紙板,用原子力顯微鏡(AFM)得出的100#m2分布狀
況圖。但在該圖中,所見到的細(xì)節(jié)全然與涂層配料有關(guān)。片狀高嶺
土、針形PCC以及(在某些地方)膠乳的非晶體細(xì)粒是其顯著特征
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