化石植物細(xì)胞壁細(xì)微結(jié)構(gòu)的研究光學(xué)顯微鏡

  化石植物(特別是木化石和木炭)細(xì)胞壁的顯微和超微結(jié)構(gòu)研
究中的方法?；?xì)胞壁細(xì)微結(jié)構(gòu)的研究已運(yùn)用于多種領(lǐng)域，包括
不同植物類群間壁結(jié)構(gòu)、成層現(xiàn)象、紋飾和紋孔的詳細(xì)比較研究和
細(xì)胞壁生物降解、因泥炭化而導(dǎo)致的分解，以及木炭化效應(yīng)的埋藏
學(xué)研究

  透射和反射光學(xué)顯微鏡
  用透射光學(xué)顯微鏡觀察薄片是一種研究植物細(xì)胞壁的常規(guī)方法
。對于巖石切片，Humphries(1992)的定義為：標(biāo)準(zhǔn)的切片厚度30
μm；超薄切片10μm。標(biāo)準(zhǔn)切片通常更適合于年代較新的地層，如
全新世的泥炭，甚至能夠染色。對于炭化程度較深的材料，相對應(yīng)
地要逐步減薄切片。有些材料(如木炭)和一些礦物質(zhì)(如黃鐵礦)，
即便制成超薄切片，也不透明。盡管電子顯微鏡具有更高的分辨率
，但是透射光學(xué)顯微鏡有其特定的用途，如：鑒定細(xì)胞壁的基本特
征(如細(xì)胞壁的紋孔式)和評估保存狀態(tài)。
  在反射光下檢查植物細(xì)胞壁能揭示其它顯微技術(shù)看不到的信息
。采用第14章概述的技術(shù)對材料進(jìn)行包埋和磨光。反射系數(shù)的數(shù)量
變化顯示：隨著細(xì)胞壁反射系數(shù)的增加，掃描電鏡觀察到的細(xì)胞壁
超微結(jié)構(gòu)有著明顯的特征變化，即從分層到同質(zhì)化，再到細(xì)胞壁分解

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