快速溫變濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：

 型 號

SES-225

SES-408

SES-800

SES-1000

SES-1500

SES-2000

內(nèi)箱尺寸 

(W x D x H cm)

50 60 75

60 80 85

80 100 100

100 100 100

100 100 150

100 110 180

外箱尺寸

( W x D x H cm)

115 125 160

125 145 170

145 195 185

155 225 195

250 125 190

260 135 250

內(nèi)箱容積

225L

408L

800L

1000L

1500L

2000L

承載重量

20kg

30kg

30kg

50kg

75

100

溫度速率

5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min。

溫度范圍

-70℃－180℃

溫度波動(dòng)度

0.5℃

溫度偏差

2℃

溫變范圍

-55℃～+125℃(高溫至少 85℃以上)

濕度范圍

20%～98%

濕度偏差

-3～+2%R.H(75%R.H.以上）， 5%R.H.（75%R.H以下)

備注

以上指標(biāo)是在空載，環(huán)境溫度20℃ 2℃下測試

腳輪

4個(gè)（外形尺寸不含腳輪）腳輪增高50～120mm

觀察窗

帶加熱裝置防止冷凝和結(jié)霜

測試孔

100mm位于箱體右側(cè)（人面朝大門）

照明燈

35W/12V

節(jié)能調(diào)節(jié)方式

冷端PID調(diào)節(jié)方式（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能40%

加熱方式

電加熱（3重超溫保護(hù)）

制冷機(jī)

德國原裝進(jìn)口品牌壓縮機(jī)

制冷劑

環(huán)保制冷劑R404a / R23（臭氧耗損指數(shù)均為0）

冷卻方式

水冷（水溫7℃～28℃，水壓0.1～0.3Mpa，以便確保降溫性能

控制器

7寸彩色觸摸屏控制器

運(yùn)行方式

程序運(yùn)行+恒定運(yùn)行

程序容量

200 100可循環(huán)跳步、保持、連接

傳感器

PT100

通訊功能

RS485 標(biāo)配USB

曲線記錄功能

觸摸屏自動(dòng)記錄

電源

380V 10%/50HZ，三相五線（3P+N+G)

溫度試驗(yàn)是質(zhì)量與可靠性工程師經(jīng)常開展的環(huán)境試驗(yàn)，但要真正做好溫度試驗(yàn)，需要掌握的知識內(nèi)容很多，本文介紹溫度試驗(yàn)主要知識點(diǎn)，供學(xué)習(xí)參考。
 
溫度對試件的影響 
溫度相關(guān)試驗(yàn)是環(huán)境試驗(yàn)入門，包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)主要驗(yàn)證產(chǎn)品在極值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響，是否可以正常運(yùn)作。溫度變化試驗(yàn)主要測試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度極值的耐受力。 
 
高溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。 
高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
a. 填充物和密封條軟化或融化； 
b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減??； 
c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞； 
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等；
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
 
低溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。 
低溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
 a. 使材料發(fā)硬變脆；
 b. 潤滑劑粘度增加，流動(dòng)能力降低，潤滑作用減??；
 c. 電子元器件性能發(fā)生變化；
 d. 水冷凝結(jié)冰；
 e. 密封件失效；
 f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
 
溫度變化條件下試件的失效模式
 產(chǎn)品所使用零件、材料在溫度劇烈變化時(shí)可能發(fā)生機(jī)械故障、開裂、密封損壞、泄漏等現(xiàn)象。 
溫度劇烈變化對設(shè)備的主要影響有： 
a. 使部件裝配點(diǎn)或焊接點(diǎn)松動(dòng)或脫落；
b. 使材料本身開裂；
c. 電子元器件性能發(fā)生變化；
d. 密封件失效造成泄漏；
 
非散熱試件和散熱試件
試件內(nèi)不產(chǎn)生熱量的為非散熱試件。在實(shí)驗(yàn)室可以采用以下較嚴(yán)格的定義：在沒有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓（86－106kPa）下，試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，試驗(yàn)樣品表面最熱點(diǎn)溫度與環(huán)境溫度之差小于5℃的試驗(yàn)樣品。 
若環(huán)境溫度不變時(shí)，非散熱試件的熱流方向如下：在環(huán)境溫度較高時(shí)，熱由環(huán)境大氣傳入試件；反之，熱由試件傳入周圍大氣。熱傳輸過程將不斷進(jìn)行直至試件各部分的溫度均達(dá)到周圍大氣溫度為止。此后熱傳輸過程停止。非散熱試件的最后穩(wěn)定溫度是放置試驗(yàn)樣品試驗(yàn)箱的平均溫度。
 試件內(nèi)有熱量產(chǎn)生為散熱試件。較嚴(yán)格的定義為在沒有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓（86－106kPa）下，試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，試驗(yàn)樣品表面最熱點(diǎn)溫度與環(huán)境溫度之差大于5℃的試驗(yàn)樣品。 
散熱試件產(chǎn)生的熱量不斷向周圍環(huán)境大氣發(fā)散，直至試件產(chǎn)生的熱量與耗散在周圍大氣中的熱量相平衡，試件溫度達(dá)到穩(wěn)定。當(dāng)環(huán)境溫度上升或下降時(shí)，試件內(nèi)部的溫度也將隨著一同上升或下降，直至達(dá)到新的平衡。散熱試件的最后穩(wěn)定溫度需要進(jìn)行反復(fù)測量，當(dāng)試件的溫度每變化3℃后測量其間的時(shí)間間隔，當(dāng)相鄰兩段時(shí)間間隔之比大于1.7時(shí)，認(rèn)為已達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。
 
產(chǎn)品
對于目前的產(chǎn)品來說，在未工作狀態(tài)產(chǎn)品本身不產(chǎn)生熱量，因此在試件未工作狀態(tài)進(jìn)行的溫度試驗(yàn)都可作為非散熱試件來處理。在工作狀態(tài)進(jìn)行溫度試驗(yàn)的產(chǎn)品目前主要有燃油泵，點(diǎn)火線圈，怠速調(diào)節(jié)器等。這些產(chǎn)品如在工作條件下進(jìn)行溫度試驗(yàn)都應(yīng)作為散熱試件。特別是點(diǎn)火線圈，工作時(shí)的發(fā)熱量較大，應(yīng)對其上的溫度進(jìn)行監(jiān)測。
 
試驗(yàn)區(qū)域空氣速度的影響 
試驗(yàn)區(qū)域中空氣和試驗(yàn)樣品間的熱交換效率取決于空氣流動(dòng)的速度。
對于非散熱試件，較高的空氣流動(dòng)速度可以使試件各部分的溫度較快速的達(dá)到周圍空氣的溫度。一般在試驗(yàn)區(qū)域未擺放試件的情況下，空氣流動(dòng)速度應(yīng)不低于2m/s。
對于散熱試件，試件樣品最熱點(diǎn)的溫度高于周圍環(huán)境溫度時(shí)，應(yīng)在無強(qiáng)迫空氣流動(dòng)（自由空氣條件）的環(huán)境下進(jìn)行試驗(yàn)，否則試件的溫度將被降低，從而減小試驗(yàn)的嚴(yán)酷程度。
 
試驗(yàn)區(qū)域中試件的擺放 
多個(gè)樣品在同一試驗(yàn)箱進(jìn)行高溫實(shí)驗(yàn)時(shí)，應(yīng)保證所有樣品都處在同一環(huán)境溫度下，并具有相同的安裝條件。對于散熱樣品而言，各個(gè)試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件，即試件間間隔應(yīng)足夠大，這樣對于單個(gè)試件來說，其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小，到可忽略的程度。對于非散熱試件，溫度保持不變的高溫或低溫試驗(yàn)，試件間的間距可以不做要求，因?yàn)闇囟群愣ê笤嚰臏囟扰c溫度試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度保持一致，不發(fā)生熱量交換，試件間的間距對試驗(yàn)不會(huì)產(chǎn)生影響。非散熱試件的溫度變化試驗(yàn)試件間則應(yīng)該保持間隔，使試驗(yàn)件之間有足夠的空氣流動(dòng)，加速試件與溫度試驗(yàn)箱之間的熱交換，使試件盡快達(dá)到試驗(yàn)的溫度。
 
試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間的確定 
在化學(xué)中一條常用的規(guī)律是在高溫下反應(yīng)的速度要快一些。 這一規(guī)律被應(yīng)用到技術(shù)中，以便進(jìn)行加速試驗(yàn)，這也被稱為阿侖尼斯方程。 
阿侖尼斯關(guān)系從數(shù)學(xué)上的表示為：   
AF(T)=e^(EA/K)*(1/T實(shí)際 1/T試驗(yàn)室) 
式中數(shù)值：
AF= 加速度系數(shù)
Ea=激活能 
K=玻爾茲曼常數(shù)(8.65 10-5ev/K) 
T實(shí)際=在實(shí)際負(fù)荷下的溫度 
T實(shí)驗(yàn)室=在實(shí)驗(yàn)室負(fù)荷下的溫度
為確定加速度系數(shù)激活能必須是已知的，對于一般的電子元件經(jīng)常采用的值是：Ea=0.44Ev 
( 在產(chǎn)品不工作時(shí)進(jìn)行的低溫或高溫實(shí)驗(yàn)，試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間為試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后，根據(jù)試驗(yàn)樣品的特點(diǎn)和試驗(yàn)?zāi)康拇_定。也可從下列等級中選取：2，16，72，96h。t = t穩(wěn)定+ to (to由計(jì)算產(chǎn)生或=2，16，72，96h) 。