你知道幾種可靠性試驗(yàn)方法?
你知道幾種可靠性試驗(yàn)方法?電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)方法有多種，下面介紹幾種常用的方法。
第1種方法是 試驗(yàn) 問(wèn)題記錄 再試驗(yàn) 模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，不是立即進(jìn)行改進(jìn)，而是把問(wèn)題記錄下來(lái)，待在一個(gè)試驗(yàn)階段結(jié)束以及下一個(gè)階段開(kāi)始之前，根據(jù)各種失效模式的失效機(jī)理，集中地進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn)。采用這種試驗(yàn)法，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗(yàn)法，比較適用于一批試驗(yàn)機(jī)中，出現(xiàn)幾個(gè)問(wèn)題，其中一種問(wèn)題是占主要地位而其余問(wèn)題是次要的情況。
第2種方法是 試驗(yàn) 改進(jìn) 再試驗(yàn) 模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗(yàn)，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理，找出問(wèn)題就立即改進(jìn)，然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問(wèn)題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長(zhǎng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn)，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(zhǎng)，這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問(wèn)題的情況，針對(duì)性較強(qiáng)。
第3種方法是 含延緩改進(jìn)的試驗(yàn) 改進(jìn) 再試驗(yàn) 模式。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來(lái)，通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問(wèn)題，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中了產(chǎn)品的問(wèn)題，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中立即著手進(jìn)行，有些延緩到試驗(yàn)結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗(yàn)中，對(duì)能及時(shí)改進(jìn)的問(wèn)題，立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品，提高可靠性，在試驗(yàn)階段結(jié)束后，把延緩的問(wèn)題至下次試驗(yàn)開(kāi)始前進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn)，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長(zhǎng)。這種方法比較適合于試中出現(xiàn)幾種問(wèn)題，并且一些問(wèn)題能短期容易改進(jìn)的，另一些問(wèn)題卻需要相當(dāng)一段時(shí)間才能改進(jìn)的綜合情況。
1.本機(jī)若在0℃以下運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，應(yīng)盡量避免打開(kāi)箱門(mén)，因?yàn)樵谧龅蜏貢r(shí)，若開(kāi)啟箱門(mén)易造成內(nèi)部蒸發(fā)及其它部份之封冰現(xiàn)象，尤其溫度愈低愈嚴(yán)重，若必須打開(kāi)，則應(yīng)盡量縮短開(kāi)啟時(shí)間。
2.當(dāng)完成低溫運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)或溫濕度運(yùn)轉(zhuǎn)后，務(wù)必設(shè)定溫度條件60℃施行干燥處理約半小時(shí)，并打開(kāi)箱門(mén)，以免影響下一作業(yè)之測(cè)定時(shí)間或蒸發(fā)器結(jié)冰現(xiàn)象或測(cè)試物損壞。(若未實(shí)際60℃之干燥處理，機(jī)器因而故障，雖于保固期內(nèi)，亦屬人為疏失，恕本公司不予免費(fèi)服務(wù))
*若長(zhǎng)時(shí)間不使用，請(qǐng)將水箱之水清除干凈并關(guān)掉電源，再按照第3項(xiàng)步驟操作。
3.本機(jī)機(jī)側(cè)附有測(cè)試孔，可經(jīng)由此接電源至內(nèi)箱測(cè)試線使用。
4.運(yùn)轉(zhuǎn)中，請(qǐng)勿以手觸檢查，以免觸電或?yàn)轱L(fēng)扇所傷，而發(fā)生危險(xiǎn)，因此請(qǐng)先停止運(yùn)轉(zhuǎn)，關(guān)掉電源后再修理。