美國CST公司近日在業(yè)界率先發(fā)布支持200pinDDR的內(nèi)存測(cè)試儀，該測(cè)試儀已通過當(dāng)前主要的內(nèi)存生產(chǎn)廠商的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試并通過驗(yàn)證，現(xiàn)在已可批量 出貨。該測(cè)試儀包括一個(gè)實(shí)時(shí)DDR控制器ASIC，能夠向被測(cè)模塊發(fā)送實(shí)時(shí)的測(cè)試波形。 一個(gè)256M的模塊現(xiàn)在可以在9秒鐘之內(nèi)完成全部顆粒的檢測(cè)。它利用最新的價(jià)格低廉的200針Yamaichi測(cè)試插槽以取代原來需要更多時(shí)間的模塊。它是目前市場(chǎng)上性能最優(yōu)秀，且最經(jīng)濟(jì)的DDR內(nèi)存測(cè)試儀。 除此之外，CST還同時(shí)發(fā)布了200pin Roboflex Handler(內(nèi)存條測(cè)試自動(dòng)分揀機(jī)）以完善該測(cè)試儀的整體配套。該分揀機(jī)帶有SODIMM自動(dòng)上料系統(tǒng)（SODIMM PUSH SYSTEM),允許（被測(cè)）模塊直接插入測(cè)試插槽。這樣就避免了使用contactor transistion board 而導(dǎo)致信號(hào)的減弱。200pin 的SODIMM DDR內(nèi)存模塊可以在生產(chǎn)過程中全自動(dòng)地完成檢測(cè)，并充分的保證了生產(chǎn)測(cè)試（Production test)過程中對(duì)一致性檢測(cè)的要求。 CST公司，作為JEDEC組織成員之一，是該組織內(nèi)唯一一家內(nèi)存功能測(cè)試儀廠商，其內(nèi)存測(cè)試儀產(chǎn)品占據(jù)了該市場(chǎng)全球70％的份額。