非接觸無(wú)損方塊電阻測(cè)試儀

產(chǎn)地：美國(guó)

原理和技術(shù)：

非接觸方塊電阻測(cè)量?jī)x使用渦電流(Eddy Current)的測(cè)試原理。渦電流(也稱為感應(yīng)電流)可產(chǎn)生一個(gè)磁場(chǎng)，當(dāng)磁場(chǎng)與導(dǎo)電材料接觸時(shí)，會(huì)在材料中感應(yīng)到渦流。根據(jù)感應(yīng)渦流的電流大小，可以計(jì)算得到該材料的面電阻（方塊電阻）。

該技術(shù)的優(yōu)勢(shì)：

是一種非接觸、無(wú)損的測(cè)量方式，不破壞材料；

可以測(cè)量密封在絕緣層內(nèi)的導(dǎo)電層；

每秒采樣次數(shù)高達(dá)數(shù)萬(wàn)次，測(cè)量速度快；

測(cè)量范圍：

配備不同的測(cè)試頭可以測(cè)量不同范圍的面電阻。

10X測(cè)試頭：5 ~ 100,000 (Ohms/sq) ;

1X測(cè)試頭：0.5 ~ 10,000(Ohms/sq) ; 

0.1X測(cè)試頭：0.05 ~ 1,000(Ohms/sq);

0.01X測(cè)試頭：0.005 ~ 100(Ohms/sq);

應(yīng)用領(lǐng)域：

- 防靜電/導(dǎo)電薄膜；

- 天線；

- 汽車；

- 電池；

- 裝飾薄膜/紙張；

- 顯示器；

- 花線電路和柔性電路板；

- 電鍍；

- 玻璃窗；

- 金屬化電容用箔；

- 金屬化標(biāo)簽；

- 微波感應(yīng)器；

- 包裝；

- 雷達(dá)吸波材料；

- 反射和反光材料；

- 半導(dǎo)體；

- 太陽(yáng)能；

- 透明導(dǎo)電薄膜；

非接觸方塊電阻測(cè)試儀信息由上海載德半導(dǎo)體技術(shù)有限公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于非接觸方塊電阻測(cè)試儀報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來(lái)電或留言咨詢。

注：對(duì)于醫(yī)療器械類產(chǎn)品，請(qǐng)先查證核實(shí)企業(yè)經(jīng)營(yíng)資質(zhì)和醫(yī)療器械產(chǎn)品注冊(cè)證情況