客戶可選擇兩臺(tái)光譜儀，量測(cè)波段分別為180-1100 nm和950-1700 nm，再搭配OtO客制化之雙光譜儀系統(tǒng)，即可輕鬆擁有180-1700 nm的波段範(fàn)圍和高光學(xué)分辨率，突破單一光譜儀量測(cè)的限制，適合需紫外至近紅外波段範(fàn)圍的量測(cè)應(yīng)用，如：橢偏儀。

OtO開(kāi)發(fā)的「消雜散光演算法」，適用於低穿透率、低反射率、高吸收度、量測(cè)光源偏弱、曝光時(shí)間極短的量測(cè)情境，經(jīng)演算法校正後雜散光可降至0.01%。

地址：30072 新竹市關(guān)新路27號(hào)9樓之5

2017 光譜儀、光纖光譜儀、拉曼光譜儀、紅外光譜儀、微型光譜儀生產(chǎn)領(lǐng)導(dǎo)者 - 臺(tái)灣超微光學(xué) OtO Photonics Inc.