SuperView W1光學(xué)儀器3D顆粒輪廓儀可廣為應(yīng)用積體電路研發(fā)及元件陶瓷檢查、3C自由電子天花板端及其精細(xì)部件、光學(xué)儀器制品、微納材質(zhì)及研發(fā)、汽車零部件、MEMS集成電路等極限精細(xì)制品服務(wù)業(yè)及航天、國防軍工、科研等應(yīng)用領(lǐng)域之中??蓽y定各類從超柔軟到柔軟、較高亮度到較高亮度的質(zhì)點(diǎn)顆粒,從石墨烯到微米層級焊的粗糙度、平整度、物理歐幾里得形狀、截面等,給予依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)化組織/ASME/洛雷托/GBT五大國內(nèi)規(guī)范共300余種2D、3D表達(dá)式作為稱贊規(guī)范。SuperView W1光學(xué)儀器3D顆粒輪廓儀形狀數(shù)據(jù)分析流程簡介:1.將試樣安放在載物臺攝像機(jī)底部;2.檢查和傳動裝置連接起來和環(huán)境噪聲,確定科學(xué)儀器平衡狀態(tài);3.采用踏板可調(diào)G齒輪,找尋試樣顆粒介入斑點(diǎn);4.修改美版齒輪,找尋待測范圍,并再次找尋介入斑點(diǎn);5.順利完成成像設(shè)立和重新命名等加載;6.點(diǎn)選開始測(離開3D配置文件站內(nèi)旋轉(zhuǎn)軸變動通過觀察一會);7.階梯試樣數(shù)據(jù)分析第一步:校平;8.離開自動化用戶界面,點(diǎn)選“校平”邊框,和三角形試樣相同,階梯試樣需要手動所選指標(biāo)范圍,選人好指標(biāo)范圍后,再“全部考慮”便“包含”;9.若試樣顆粒有好幾處范圍僅為三角形且高度一致,可多可選擇幾個范圍作為基準(zhǔn)開展校平;10.階梯傾斜度測:支線階梯傾斜度測11.離開數(shù)據(jù)分析方法用戶界面,點(diǎn)選“階梯傾斜度”邊框,需單獨(dú)得到自動檢測平衡狀態(tài)下的面上階梯傾斜度關(guān)的資料;12.在左邊點(diǎn)選“手動檢查”,根據(jù)需求量可選擇適當(dāng)?shù)膱A形作為三角形1和三角形2的測范圍,資料欄可單獨(dú)存取兩個范圍的面上階梯傾斜度誤差;13.階梯傾斜度測:支線階梯傾斜度測14.離開自動化用戶界面,點(diǎn)選“提煉構(gòu)造”邊框,采用適當(dāng)路徑的構(gòu)造支線,提煉最終目標(biāo)一段距離的構(gòu)造形狀橢圓;15.離開數(shù)據(jù)分析方法用戶界面,點(diǎn)選“階梯傾斜度”邊框,由于所測為兩端溝槽到兩邊三角形傾斜度,因此點(diǎn)選左邊桌面,測條正弦可選擇“2”,將白色基準(zhǔn)線對安放到溝槽三角形兩端,兩對測支線對分別安放在兩邊三角形,需在資料鋼索存取階梯傾斜度資料。