輪廓儀是對(duì)物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進(jìn)行測(cè)試與檢驗(yàn)的儀器。輪廓儀主要優(yōu)點(diǎn)是可以直接測(cè)量某些難以測(cè)量到的零件表面，如孔、槽等的表面粗糙度，又能直接按某種評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)讀數(shù)或是描繪出表面輪廓曲線的形狀，且測(cè)量速度快、結(jié)果可靠、操作方便。輪廓儀廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、電機(jī)、汽配、摩配、精密五金、精密工具、刀具、模具、光學(xué)元件等行業(yè)。 精品推薦
品牌： 美國(guó)Filmetrics 型號(hào)： Profilm 3D 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：優(yōu)尼康科技有限公司

Profilm3D僅用10倍物鏡就提供了達(dá)到2mm的超大視場(chǎng)范圍，同時(shí)其最大4倍光學(xué)變焦的功能緩解了不同應(yīng)用時(shí)切換多個(gè)物鏡的需求。這些都進(jìn)一步降低了采購(gòu)成本。

品牌： 西班牙Sensofar 型號(hào)： S neox 產(chǎn)地：西班牙 供應(yīng)商：北京東方德菲儀器有限公司

3D光學(xué)輪廓儀S neox 將共聚焦、干涉和多焦面疊加3種測(cè)量技術(shù)融合于一體，測(cè)量頭內(nèi)無運(yùn)動(dòng)部件。3D光學(xué)輪廓儀S neox 為客戶展現(xiàn)全新的3D立體形貌。

品牌： 上海孚光精儀 型號(hào)： profiler 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款三維臺(tái)階儀是德國(guó)進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測(cè)量?jī)x器，也是一款光學(xué)表面臺(tái)階儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺(tái)階高度，距離，面積，角度和體積進(jìn)行多范圍測(cè)量。三維臺(tái)階儀根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算2D和3D參數(shù)，使用最新的ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)表面紋理分析，依靠最新的 ISO 16610 濾除技術(shù)進(jìn)行計(jì)算，從而保證了國(guó)際公信力。三維表面臺(tái)階儀儀創(chuàng)造性地采用接觸式和非接觸式測(cè)量合并技術(shù)，一套表面形貌儀可同時(shí)具有接觸式和非接觸式測(cè)量的選擇。三維臺(tái)階儀參數(shù)：定位臺(tái)行程范圍：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (電動(dòng))接觸式測(cè)量范圍： 范圍0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范圍：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接觸式測(cè)量范圍： 范圍：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范圍：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面臺(tái)階儀應(yīng)用：測(cè)量輪廓，臺(tái)階高度，表面形貌，距離，面積，體積 分析形態(tài)，粗糙度，波紋度，平整度，顆粒度 摩擦學(xué)研究，光譜分析三維臺(tái)階儀廣泛用于：磨料磨具，航天，汽車，化妝品，能源，醫(yī)療，微機(jī)電系統(tǒng)，冶金，造紙和塑料等領(lǐng)域。

品牌： 上海孚光精儀 型號(hào)： 3D profiler 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款三維表面形貌儀是德國(guó)進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測(cè)量?jī)x器，也是一款光學(xué)表面形貌儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺(tái)階高度，距離，面積，角度和體積進(jìn)行多范圍測(cè)量。三維表面形貌儀根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算2D和3D參數(shù)，使用最新的ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)表面紋理分析，依靠最新的 ISO 16610 濾除技術(shù)進(jìn)行計(jì)算，從而保證了國(guó)際公信力。三維表面形貌儀創(chuàng)造性地采用接觸式和非接觸式測(cè)量合并技術(shù)，一套表面形貌儀可同時(shí)具有接觸式和非接觸式測(cè)量的選擇。三維形貌儀參數(shù)：定位臺(tái)行程范圍：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (電動(dòng))接觸式測(cè)量范圍： 范圍0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范圍：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接觸式測(cè)量范圍： 范圍：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范圍：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面形貌儀應(yīng)用：測(cè)量輪廓，臺(tái)階高度，表面形貌，距離，面積，體積 分析形態(tài)，粗糙度，波紋度，平整度，顆粒度 摩擦學(xué)研究，光譜分析三維形貌儀廣泛用于：磨料磨具，航天，汽車，化妝品，能源，醫(yī)療，微機(jī)電系統(tǒng)，冶金，造紙和塑料等領(lǐng)域。

品牌： 上海孚光精儀 型號(hào)： Profilometers 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款三維表面輪廓儀是德國(guó)進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測(cè)量?jī)x器，也是一款光學(xué)輪廓儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)2D輪廓或三維輪廓表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺(tái)階高度，距離，面積，角度和體積進(jìn)行多范圍測(cè)量。三維表面輪廓儀根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算2D和3D參數(shù)，使用最新的ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)表面紋理分析，依靠最新的 ISO 16610 濾除技術(shù)進(jìn)行計(jì)算，從而保證了國(guó)際公信力。三維表面輪廓儀創(chuàng)造性地采用接觸式和非接觸式測(cè)量合并技術(shù)，一套表面輪廓儀可同時(shí)具有接觸式和非接觸式測(cè)量的選擇。三維輪廓儀參數(shù)：定位臺(tái)行程范圍：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (電動(dòng))接觸式測(cè)量范圍： 范圍0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范圍：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接觸式測(cè)量范圍： 范圍：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范圍：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面輪廓儀應(yīng)用：測(cè)量輪廓，臺(tái)階高度，表面形貌，距離，面積，體積 分析形態(tài)，粗糙度，波紋度，平整度，顆粒度 摩擦學(xué)研究，光譜分析三維輪廓儀廣泛用于：磨料磨具，航天，汽車，化妝品，能源，醫(yī)療，微機(jī)電系統(tǒng)，冶金，造紙和塑料等領(lǐng)域。

品牌： 上海孚光精儀 型號(hào)： SRMFP 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款表面粗糙度測(cè)量?jī)x非常適合冷軋鋼的表面粗糙度測(cè)量。表面粗糙度測(cè)量?jī)x具有如下特點(diǎn)：對(duì)鋼卷長(zhǎng)度方向的表面粗糙度進(jìn)行可視化和記錄；在線記錄這款表面粗糙度測(cè)量?jī)x每秒鐘可處理10幅激光圖片和表面顯微結(jié)構(gòu)。給出Ra，Rz和RPc等指標(biāo)。

品牌： 德國(guó)GBS 型號(hào)： SmartWLI - Microscope 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡升級(jí)技術(shù) 亞納米級(jí)分辨率白光干涉技術(shù)與三維表面形貌測(cè)量傳統(tǒng)二維光學(xué)顯微鏡可以升級(jí)為三維表面形貌測(cè)量裝置，極大提升應(yīng)用效能。圖1.干涉物鏡通過接合器安裝于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡，升級(jí)后的顯微鏡具備高分辨三維表面形貌測(cè)量功能顯微鏡的重要性不只在于研究與記錄，更在于產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測(cè)與樣品表面分析。光學(xué)顯微鏡已經(jīng)成為許多實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)配設(shè)備。對(duì)于大多數(shù)樣品來說，傳統(tǒng)二維顯微鏡不足以獲得其表面所有形貌細(xì)節(jié)。因此，三維表面形貌測(cè)量技術(shù)正逐漸成為一種重要的表征手段。 圖2. 金屬表面二維、三維測(cè)量結(jié)果比較 其典型應(yīng)用領(lǐng)域包括不同表面粗糙度試樣的三維表面形貌觀察（如晶片結(jié)構(gòu)，鏡面，玻璃，金屬），臺(tái)階高度測(cè)定和曲面精確測(cè)量（如微型透鏡）。當(dāng)前，許多研究機(jī)構(gòu)都有三維表面形貌測(cè)量設(shè)備的采購(gòu)需求。但事實(shí)上，只要滿足下列條件，世界上多數(shù)知名品牌的傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡都可以升級(jí)為高精度三維表面形貌測(cè)量設(shè)備：* 無限遠(yuǎn)、中間像光學(xué)系統(tǒng)；* 反射明場(chǎng)照明系統(tǒng)；* CCD攝像頭接口；* 可更換物鏡的鏡筒位于德國(guó)Ilmenau的GBS公司已經(jīng)成功利用其SmartWLI顯微鏡升級(jí)技術(shù)為蔡司、尼康、萊卡、奧林巴斯等眾多品牌的傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡完成升級(jí)工作。其基本原理為白光干涉一種成熟的三維表面形貌測(cè)量方法，測(cè)量精度可以達(dá)到亞納米量級(jí)。同傳統(tǒng)的單色光干涉技術(shù)大為不同，SmartWLI白光干涉技術(shù)采用相干長(zhǎng)度達(dá)到2um的寬頻帶光。實(shí)際測(cè)量必須深入相干區(qū)域掃描，每隔70-80nm取樣。而單色光干涉技術(shù)多用激光，相干長(zhǎng)度達(dá)到數(shù)千米，不能用來觀察納米級(jí)的區(qū)域。當(dāng)光程差接近相干長(zhǎng)度時(shí)，干涉差變得更小。通過參考面，以設(shè)定好的步頻移動(dòng)被測(cè)物體，每移動(dòng)一個(gè)步頻，記錄一個(gè)干涉圖樣，這樣大量干涉圖樣就以像素為單位記錄下來。若數(shù)據(jù)的采集與處理同時(shí)進(jìn)行即可在數(shù)秒之內(nèi)得到測(cè)量表面區(qū)域的高度信息（形貌特征）。GBS公司研發(fā)的Smart WLI軟件可以對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行高速運(yùn)算。三維數(shù)據(jù)的計(jì)算任務(wù)轉(zhuǎn)交圖形處理器（GPU）完成，一百萬測(cè)量點(diǎn)的數(shù)據(jù)處理時(shí)間可從30秒降到1秒以內(nèi)。SmartWLI顯微鏡升級(jí)技術(shù)特征德國(guó)GBS公司的SmartWLI 顯微鏡升級(jí)技術(shù)可以將傳統(tǒng)二維顯微鏡升級(jí)為先進(jìn)的三維表面形貌測(cè)量設(shè)備。該技術(shù)涉及硬件組件包括：* 一套基于壓電效應(yīng)、由電腦控制的定位系統(tǒng)（定位精度在納米量級(jí)）；* 一款高質(zhì)量的干涉透鏡；* 一款高靈敏度CCD攝像頭,帶有GigE接口；選件：電動(dòng)XY軸平臺(tái)、高性能電腦與拼接技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)大表面三維形貌測(cè)量。PC配置要求：因特爾i5處理器，微軟Windows操作系統(tǒng)，4G內(nèi)存，具備高速計(jì)算能力 的英偉達(dá)圖形處理器（NVIDA GPU）,TFT液晶顯示屏，鍵盤與鼠標(biāo)。GBS SmartWLI顯微鏡升級(jí)技術(shù)選用的壓電調(diào)節(jié)器由德國(guó)Piezo System Jena公司開發(fā)研制。該款MIPOS透鏡調(diào)節(jié)器縱向方向（Z軸方向）掃描范圍可達(dá)500 um，可選擇相干透鏡（物鏡）的放大倍數(shù)在2.5倍到100倍之間。GBS公司開發(fā)的SmartWLI軟件具備操作直觀、數(shù)據(jù)分析快速、納米級(jí)精度顯示等優(yōu)點(diǎn)，可以對(duì)采集到的三維測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行基礎(chǔ)運(yùn)算。經(jīng)SmartWLI軟件處理后的三維測(cè)量結(jié)果，可再交由圖形分析軟件MountainsMap做進(jìn)一步處理，最終可得到二維、三維表面形貌圖像、粗糙度、臺(tái)階高度、微粒分析與報(bào)告等。 基于圖形處理器GPU的高速運(yùn)算功能，三維測(cè)量數(shù)據(jù)運(yùn)算可以與形貌掃描同步進(jìn)行。在不過度占用電腦中央處理器（CPU）與內(nèi)存空間的前提下，實(shí)現(xiàn)大范圍的三維形貌測(cè)量。顯微鏡升級(jí)后的主要測(cè)量參數(shù)：縱向測(cè)量范圍: 最大可達(dá)400 um橫向測(cè)量范圍： 649 um×483 um (10倍物鏡)；324 um×241 um (20倍物鏡) 129 um×96 um (50倍物鏡) (注意：上述數(shù)據(jù)皆為估算值，實(shí)際橫向測(cè)量范圍需參考用戶現(xiàn)有顯微鏡參數(shù))縱向(Z軸)分辨率: ＜1 nm橫向分辨率: 1.66 um(10倍物鏡)；0.96 um(20倍物鏡)；700 nm(50倍物鏡) 掃描速度： 3.6 - 16 um/s 計(jì)算時(shí)間: 一百萬測(cè)量點(diǎn)數(shù)據(jù)/一秒內(nèi)SmartWLI顯微鏡升級(jí)技術(shù)的其它優(yōu)勢(shì)：* 無需新的設(shè)備技術(shù)，縮短培訓(xùn)周期；* 利用現(xiàn)有測(cè)量平臺(tái)，節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間；* 保留原有二維測(cè)量功能，兼具三維測(cè)量能力；* 立足用戶原有組件，大幅節(jié)省升級(jí)費(fèi)用； （可利用組件包括：光源、鏡筒、鏡頭旋轉(zhuǎn)器、Z軸調(diào)節(jié)器、XY軸測(cè)量平臺(tái)）。* 全面的三維表面形貌測(cè)量功能自動(dòng)拼接技術(shù)與鉆石磨削頭的三維表面形貌測(cè)量升級(jí)后的顯微鏡可以對(duì)鉆石磨削頭進(jìn)行納米級(jí)分辨率的三維表面形貌測(cè)量，可得到表面鉆石的形貌和體積。我們可借助本次測(cè)量實(shí)例，深入了解一種SmartWLI 顯微鏡升級(jí)技術(shù)獨(dú)具的“自動(dòng)拼接”功能 - 即將大量二維測(cè)量區(qū)域上的“干涉圖樣摞”再次疊加，生成更大檢測(cè)區(qū)域的三維圖像。軟件上的“自動(dòng)拼接”功能結(jié)合硬件上的電動(dòng)XY軸平臺(tái)，就可實(shí)現(xiàn)更大表面的三維形貌測(cè)量。 圖3.鉆石磨削頭三維表面形貌測(cè)量結(jié)果 （10倍物鏡，3×3陣列拼接） 圖3所示為選用10倍物鏡，以3×3陣列（9倍單位掃描區(qū)域），經(jīng)“自動(dòng)拼接”得到的三維表面形貌測(cè)量結(jié)果。借助“自動(dòng)拼接”功能，可以在數(shù)分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)大表面（百倍以上單位測(cè)量區(qū)域）的三維形貌測(cè)量。結(jié)語：德國(guó)GBS公司SmartWLI 顯微鏡升級(jí)技術(shù)為傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡提供了一種全新的升級(jí)方式。經(jīng)驗(yàn)豐富的GBS工程師可以為您升級(jí)現(xiàn)有的顯微鏡，培訓(xùn)操作人員。SmartWLI顯微鏡升級(jí)技術(shù)不但不會(huì)對(duì)用戶現(xiàn)有顯微鏡的固有功能造成損害或限制，還可以兼容其原有軟件。1) 德國(guó)GBS公司官網(wǎng)：www.gbs-ilmenau.de2) 德國(guó)WinWinTec公司（GBS中國(guó)市場(chǎng)渠道商）官網(wǎng)：www.winwintec.com

品牌： 德國(guó)GBS 型號(hào)： SmartWLI Extended 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測(cè)量技術(shù)白光干涉測(cè)量技術(shù)廣泛應(yīng)用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測(cè)量精度可以達(dá)到納米級(jí)別。SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀擁有納米級(jí)測(cè)試精度，外接PC或筆記本電腦進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析。SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀功能全面，輕松應(yīng)對(duì)各種測(cè)試環(huán)境。電動(dòng)XY雙軸樣品臺(tái)匹配自動(dòng)拼接程序，應(yīng)對(duì)大面積測(cè)試任務(wù)。典型應(yīng)用包括科學(xué)研究、質(zhì)量控制和工藝管理。德國(guó)GBS公司SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀具備如下優(yōu)點(diǎn)： 通用型 精度高 測(cè)速快 穩(wěn)定可靠 自動(dòng)拼接SmartWLI- 擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀技術(shù)參數(shù)：花崗巖基座、腳架電動(dòng)X Y雙軸樣品臺(tái)（尺寸：226 x 232 mm2；移動(dòng)范圍：76 x 52mm2） 測(cè)量端配物鏡轉(zhuǎn)換臺(tái)、同時(shí)兼容4款物鏡PC界面、Windows 7系統(tǒng)，NVIDIA 圖形處理器具備超速運(yùn)算功能SmartWLI形貌測(cè)量軟件、“自動(dòng)拼接”功能MountainsMap三維圖像處理軟件 MountainsMAP分析軟件作為一款高品質(zhì)的表面成像與分析軟件，MountainsMAP 適合實(shí)驗(yàn)室、研究機(jī)構(gòu)及工廠各類機(jī)能表面的設(shè)計(jì)、測(cè)試或制造設(shè)備使用。MountainsMAP擁有一整套全面的解決方案，專用于表面外觀及形貌的成像與分析，提供詳盡的三維可視化測(cè)量報(bào)告。 SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀技術(shù)參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)量測(cè)原理 白光干涉Z軸定位系統(tǒng)壓電效應(yīng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)高度量測(cè)范圍最大可達(dá)400 μm攝像頭參數(shù)CCD攝像頭；1624x 1234相素干涉物鏡系統(tǒng)放大倍數(shù)MAG視場(chǎng)范圍FOV (mm)橫向分辨率 (um)2.5 ×, 5 ×, 10 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×4.12 × 3.06 mm2 - 0.103 × 0.076mm210.54 μm - 0.55 μm光源LED測(cè)試時(shí)間通常＜20秒軟件系統(tǒng)SmartWLI基于微軟Win7操作系統(tǒng)，64位表面形貌測(cè)量軟件；三維數(shù)據(jù)可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數(shù)據(jù)分析軟件，輪廓及三維影像結(jié)果輸出、測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)處理及后處理、德標(biāo)（DIN）歐標(biāo)（ EN） ISO標(biāo)準(zhǔn)粗糙度及高度測(cè)定、串行處理及測(cè)試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF更多SmarWLI系列白光干涉三維輪廓儀產(chǎn)品信息，請(qǐng)?jiān)L問www.WinWinTec.com與 www.smartWLI.de（2012年1月技術(shù)數(shù)據(jù)）SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（一）-液態(tài)軸承SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（二）-晶片SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果(三) - 鉆石工具SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（四）-透鏡工具SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（五）-金屬表面SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（六）-汽車車身表面SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（七）-粗糙度標(biāo)準(zhǔn)片SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（八） - 發(fā)動(dòng)機(jī)汽缸

品牌： 西班牙Sensofar 型號(hào)： S lynx 產(chǎn)地：西班牙 供應(yīng)商：北京東方德菲儀器有限公司

非接觸式3D光學(xué)輪廓儀S lynx是一款專為工業(yè)和研究所設(shè)計(jì)的全新非接觸式3D光學(xué)輪廓儀。它設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔、用途多樣。S lynx能夠測(cè)量不同的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、表面粗糙度和波度，幾乎涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的高端形貌測(cè)量應(yīng)用。Sensofar的核心專利是將共聚焦、干涉和多焦面疊加3種測(cè)量方式融于一體，確保了其完美的性能。配合SensoSCAN軟件系統(tǒng)，用戶將獲得難以置信的直觀操作體驗(yàn)。

品牌： 西班牙Sensofar 型號(hào)： S onix 產(chǎn)地：西班牙 供應(yīng)商：北京東方德菲儀器有限公司

光學(xué)三維在線測(cè)量?jī)xS onix的設(shè)計(jì)理念簡(jiǎn)潔、穩(wěn)健并易于組裝。S onix有著全面且靈活的測(cè)量能力，定位于多用途的工業(yè)在線測(cè)量系統(tǒng)。輕便、小尺寸的設(shè)計(jì)讓裝配變得更加簡(jiǎn)單，可以任意方向進(jìn)行組裝來滿足不同方向上的測(cè)量應(yīng)用需求。

品牌： 西班牙Sensofar 型號(hào)： S mart 產(chǎn)地：西班牙 供應(yīng)商：北京東方德菲儀器有限公司

光學(xué)3D在線測(cè)量?jī)xS mart是世界上首款將Focus varition（多焦面疊加）、Confocal（共聚焦）、VSI（白光干涉）三種成像技術(shù)融為一體 高性能在線光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x。

品牌： 德國(guó)布魯克 型號(hào)： ContourGT 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：北京億誠(chéng)恒達(dá)科技有限公司

ContourGT 非接觸3D光學(xué)輪廓儀 ContourGT表面計(jì)量系列產(chǎn)品用于生產(chǎn)和研發(fā)的非接觸式三維光學(xué)輪廓儀業(yè)界最高垂直分辨率極高的可靠性和最好的測(cè)量重復(fù)性最高的表面測(cè)量和分析速度最強(qiáng)的使用性，操作簡(jiǎn)便，分析功能強(qiáng)大30年技術(shù)革新，實(shí)現(xiàn)非接觸式表面測(cè)量技術(shù)高峰ContourGT系列結(jié)合先進(jìn)的64位多核操作和分析處理軟件，專利技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和前所未有的操作簡(jiǎn)易性，推出歷年來來最先進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學(xué)表面輪廓儀擁有超大視野內(nèi)埃級(jí)至毫米級(jí)的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界最高的測(cè)量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，最廣泛使用和最直觀的3D表面計(jì)量平臺(tái)。業(yè)界最高的垂直分辨率，最強(qiáng)大的測(cè)量性能0.5倍至200倍的放大倍率，在極寬的測(cè)量范圍內(nèi)，對(duì)樣品表面形狀和紋理進(jìn)行表征。任何倍率下亞埃級(jí)至毫米級(jí)垂直測(cè)量量程提供了無以倫比的測(cè)量靈活性。高分辨率攝像頭可選配件，提高了橫向分辨率和GR R測(cè)量的重復(fù)性。多核處理器下運(yùn)行的Vision64? 軟件，大大提高三維表面測(cè)量和分析速度新的軟件設(shè)計(jì)使數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍。多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度提高十倍。無以倫比的無縫拼接能力，可以把成千上萬個(gè)數(shù)據(jù)拼接成一張連續(xù)的完美圖像 測(cè)量硬件的獨(dú)特設(shè)計(jì)增強(qiáng)生產(chǎn)環(huán)境中的可靠性和重復(fù)性高亮度的雙LED照明專利技術(shù)提高測(cè)量質(zhì)量。最佳化的硬件設(shè)計(jì)提高了儀器對(duì)震動(dòng)的容忍度和GR R測(cè)量的能力。專利的自動(dòng)校準(zhǔn)能力確保了儀器與儀器之間的相關(guān)性，測(cè)量準(zhǔn)確度和重復(fù)性。高度直觀的用戶界面，擁有業(yè)界最強(qiáng)的操作簡(jiǎn)便和分析功能強(qiáng)大優(yōu)化的用戶界面大大簡(jiǎn)化測(cè)量和數(shù)據(jù)分析過程，從而提高儀器和操作者效率獨(dú)特的可視化操作工具為用戶提供易于學(xué)習(xí)和使用的數(shù)據(jù)分析選項(xiàng)用戶可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面 三十年技術(shù)創(chuàng)新，迎來第十代全新產(chǎn)品我們的干涉儀是世界上第一個(gè)包含了著名的垂直掃描干涉技術(shù)（VSI模式），掃描頭傾斜調(diào)整，專利的自動(dòng)校準(zhǔn)和雙LED照明等革新技術(shù)。ContourGT系列既結(jié)合了這些已被證實(shí)的設(shè)計(jì)功能，又在硬件上進(jìn)行了大量的改進(jìn)，從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復(fù)性最好的光學(xué)輪廓儀性能。 Bruker的光學(xué)輪廓儀具有已被證實(shí)的，將近三十年的優(yōu)越性能運(yùn)行跟蹤記錄，從研究型實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺(tái)安裝記錄。 ContourGT-X光學(xué)輪廓儀配備有一體式的氣動(dòng)平臺(tái)和雙層金屬鑄件，此兩種設(shè)計(jì)都是為了隔離震動(dòng)以避免干擾測(cè)量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測(cè)試的測(cè)量結(jié)果。OMM結(jié)合了Bruker專利的雙LED照明光源技術(shù)，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供卓越的照明強(qiáng)度和均勻性。OMM還能在整個(gè)10mm測(cè)量量程內(nèi)提供無以倫比的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的多放大倍率檢測(cè)器可包含最大三個(gè)視場(chǎng)目鏡，以最大化放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。ContourGT系列可選擇型號(hào)中，具有包含Bruker專利技術(shù)的內(nèi)置一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)自校準(zhǔn)功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能最大化。此模塊包含一個(gè)參考信號(hào)，在儀器啟動(dòng)時(shí)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行自校準(zhǔn)，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測(cè)量，以保證絕對(duì)的精確度和卓越的重復(fù)性。Bruker的傾斜調(diào)整支架設(shè)計(jì)可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測(cè)量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測(cè)量的視野中，確保了操作的一致性和簡(jiǎn)易性。*這些選項(xiàng)僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號(hào)上具有。在ContourGT-X型號(hào)中具有全自動(dòng)的8英寸或12英寸樣品臺(tái)。兩種樣品臺(tái)均配備有0.5um重復(fù)性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。選配的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)塔臺(tái)可安裝最多4個(gè)干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺(tái)設(shè)計(jì)確保了當(dāng)您切換物鏡時(shí)，您的測(cè)試點(diǎn)始終處于聚焦和中心位置。在防震臺(tái)的后面配備有一個(gè)LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。輔助操作燈泡*塔臺(tái)自動(dòng)樣品臺(tái)傾斜調(diào)整支架*自校準(zhǔn)功能*光學(xué)計(jì)量模塊(OMM)卓越的震動(dòng)隔離性能*

品牌： 德國(guó)布魯克 型號(hào)： DektakXT 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：北京億誠(chéng)恒達(dá)科技有限公司

DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡(jiǎn)易，檢測(cè)過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。DektakXT 完美設(shè)計(jì)探針系統(tǒng)的評(píng)價(jià)體系受三個(gè)因素影響：能否重復(fù)測(cè)量，數(shù)據(jù)采集和分析速度快慢，操作的難易程度。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率。DektakXT利用全新結(jié)構(gòu)和和最佳軟件來實(shí)現(xiàn)可重復(fù)、時(shí)間短、易操作這三個(gè)必要因素，達(dá)到最佳的儀器使用效果。強(qiáng)化操作的可重復(fù)性 Delivering Repeatable MeasurementsDektakXT在設(shè)計(jì)上的幾個(gè)提高，使其在測(cè)量臺(tái)階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn)，臺(tái)階高度重復(fù)性可以到達(dá)5?.使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計(jì)更堅(jiān)硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動(dòng)噪音對(duì)測(cè)量信號(hào)的影響。同時(shí)，Bruker還對(duì)儀器的智能化電子器件進(jìn)行完善，提高其穩(wěn)定性，降低溫度變化對(duì)它的影響，并采用先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會(huì)把可能引起誤差的噪音降到最低，DektakXT的系統(tǒng)因此可以更穩(wěn)定可靠的實(shí)現(xiàn)對(duì)高度小于10nm的臺(tái)階的掃描。Single-arch結(jié)構(gòu)和智能器件的聯(lián)用，大大降低了掃描臺(tái)的噪音，增強(qiáng)了穩(wěn)定性，使其成為一個(gè)極具競(jìng)爭(zhēng)力的臺(tái)階儀（表面輪廓儀）。提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis利用獨(dú)特的直接掃描平臺(tái)，DektakXT通過減少?gòu)牡玫皆紨?shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時(shí)間，來提高掃描效率。這一改進(jìn)，大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復(fù)性的前提下，可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時(shí)的數(shù)據(jù)分析處理效率。Vision64還具有最有效直觀的用戶界面，簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置，可以自動(dòng)完成多掃描模式，使很多枯燥繁復(fù)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡(jiǎn)潔。完善的操作和分析系統(tǒng) PerfectingOperationand Analysis與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上最實(shí)用簡(jiǎn)潔的用戶界面，具備智能結(jié)構(gòu)，可視化的使用流程，以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求，快速簡(jiǎn)便的實(shí)現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。DektakXT 技術(shù)參數(shù)—臺(tái)階高度重復(fù)性5?—Single-arch設(shè)計(jì)大大提高了掃描穩(wěn)定性—前置敏化器件，降低了噪音對(duì)測(cè)量的干擾—新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%—64-bit，這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。功能卓越，操作簡(jiǎn)易—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡(jiǎn)便易行—針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事臺(tái)階儀（表面輪廓儀）領(lǐng)域無可撼動(dòng)的世界領(lǐng)先地位—布魯克的臺(tái)階儀，體積輕巧，功能強(qiáng)大?！獑蝹鞲衅髟O(shè)計(jì)提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍

品牌： 德國(guó)GBS 型號(hào)： SmartWLI-Prime Double Z-axis 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI-Prime雙軸三維形貌輪廓儀配備0.1nm高分辨率的小量程Z軸和小于100nm分辨率的大量程Z軸 2015年11月,德國(guó)WinWinTec公司再次向市場(chǎng)推出了一款由我公司代理的SmartWLI品牌的三維相貌輪廓儀，該產(chǎn)品將兩種Z軸方向的移動(dòng)控制模式整合在一起，是兩種模式一體化，可以實(shí)現(xiàn)兩種Z軸移動(dòng)模式的自由切換，測(cè)量范圍從nm水平到mm水平，實(shí)現(xiàn)納米分辨率到亞微米分辨率，可測(cè)量不同類型的產(chǎn)品，適用于大輪廓形貌到微小形貌的多種應(yīng)用需求。v產(chǎn)品特點(diǎn) 1．兩種Z軸移動(dòng)控制模式，壓電陶瓷馬達(dá)控制小量程和步進(jìn)電機(jī)控制大量程,整體測(cè)量范圍實(shí)現(xiàn)0.1nm~100mm； 2．小量程Z軸實(shí)現(xiàn)最大400um的測(cè)量范圍，測(cè)量分辨率在PSI模式下0.1nm； 3．大量程Z軸實(shí)現(xiàn)最大100mm的測(cè)量范圍，測(cè)量分辨率小于100nm； 4．Z軸方向移動(dòng)的實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制，通過相關(guān)軟件和控制手柄可自動(dòng)對(duì)焦，同時(shí)Z軸采用自動(dòng)拼接技術(shù)，實(shí)現(xiàn)整體全自動(dòng)測(cè)量； 5．標(biāo)配壓電陶瓷馬達(dá)控制的Z軸測(cè)量頭，樣品垂直方向測(cè)量最大高度：400um，測(cè)量分辨率PSI模式：0.1nm，VSI模式：1nm； 6．可選配不同放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)干涉物鏡（2.5X，5X，10X,20X，50X，100X）；配置控制和快速采集信號(hào)采集軟件SmartWLI_VIS。

品牌： 德國(guó)GBS 型號(hào)： SmartWLI Portable 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測(cè)量技術(shù)白光干涉測(cè)量技術(shù)廣泛應(yīng)用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測(cè)量精度可以達(dá)到納米級(jí)別。SmartWLI - 便攜式白光干涉三維輪廓儀，專用于大尺寸部件表面形貌測(cè)量與分析。儀器操作簡(jiǎn)單，測(cè)量時(shí)放置于樣品表面；獨(dú)有的三腳支架結(jié)構(gòu)，方便曲面部件測(cè)量；外接筆記本電腦完成數(shù)據(jù)分析，測(cè)量結(jié)果立體直觀呈現(xiàn)。SmartWLI - 便攜式白光干涉三維輪廓儀外形緊湊、結(jié)構(gòu)穩(wěn)固，輕松應(yīng)對(duì)多種測(cè)量環(huán)境；測(cè)速快，精度高，為工業(yè)用戶提供最優(yōu)化的產(chǎn)品表面形貌測(cè)量條件，適用于產(chǎn)品工藝控制與質(zhì)量管理。SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀具備如下優(yōu)點(diǎn)：靈活便攜精度高測(cè)速快穩(wěn)定可靠 SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀技術(shù)參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)量測(cè)原理 白光干涉Z軸定位系統(tǒng)壓電效應(yīng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)高度量測(cè)范圍最大可達(dá)400 μm干涉物鏡系統(tǒng)放大倍數(shù)10×20×視場(chǎng)范圍（μm2）480 × 360320 × 240最小可分辨橫向?qū)挾龋é蘭）1.200.90工作距離（mm）7.44.7注：上述數(shù)據(jù)皆為估算值。垂直分辨率小于1 nm光源系統(tǒng)LED外觀尺寸270 mm（高）× 127 mm （寬） × 165 mm（長(zhǎng)）毛重3 Kg 約值，取決于具體配置。操作界面筆記本電腦、Windows 7操作系統(tǒng)、DVD刻錄。量測(cè)時(shí)間通常小于1分鐘軟件系統(tǒng)SmartWLI基于微軟Win7操作系統(tǒng)，64位表面形貌測(cè)量軟件、三維數(shù)據(jù)可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數(shù)據(jù)分析軟件，輪廓及三維影像結(jié)果輸出、測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)處理及后處理、德標(biāo)（DIN）歐標(biāo)（ EN） ISO標(biāo)準(zhǔn)粗糙度及高度測(cè)定、串行處理及測(cè)試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF

品牌： 德國(guó)GBS 型號(hào)： SmartWLI Basic 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI 標(biāo)準(zhǔn)型白光干涉三維輪廓儀--非接觸三維表面形貌測(cè)量技術(shù) 白光干涉測(cè)量技術(shù)廣泛應(yīng)用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測(cè)量精度可以達(dá)到納米級(jí)別。 德國(guó)SmartWLI標(biāo)準(zhǔn)型白光干涉三維輪廓儀結(jié)構(gòu)緊湊，精度高，測(cè)速快，滿足不同領(lǐng)域用戶的測(cè)量需求，廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究、質(zhì)量管理與工藝控制。 德國(guó)SmartWLI標(biāo)準(zhǔn)型白光干涉三維輪廓儀具備如下優(yōu)點(diǎn)： 1.結(jié)構(gòu)緊湊 2.精度高 3.測(cè)速快 4.穩(wěn)定耐用 5.經(jīng)濟(jì)實(shí)惠MountainsMAP表面分析軟件與三維可視化測(cè)量報(bào)告作為一款高品質(zhì)的表面成像與分析軟件，MountainsMAP適合實(shí)驗(yàn)室、研究機(jī)構(gòu)及工廠各類機(jī)能表面的設(shè)計(jì)、測(cè)試或制造設(shè)備使用。MountainsMAP擁有一整套全面的解決方案，專用于表面外觀及形貌的成像與分析，提供詳盡的三維可視化測(cè)量報(bào)告。SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（一） - 液態(tài)軸承SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（二） - 晶片SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果(三) - 鉆石工具SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（四） - 透鏡工具SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（五） - 金屬表面SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（六） - 汽車車身表面SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（七） - 粗糙度標(biāo)準(zhǔn)片SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測(cè)量結(jié)果（八） - 發(fā)動(dòng)機(jī)汽缸

品牌： 德國(guó)GBS 型號(hào)： SmartWLI PortableLA 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI 大視場(chǎng)便攜式白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測(cè)量技術(shù)技術(shù)特點(diǎn)：5cm直徑視場(chǎng)（光斑），800μm垂直測(cè)量高度，無需拼接即可在短時(shí)間內(nèi)（通常1分鐘）完成大區(qū)域面積的三維形貌(輪廓)的測(cè)量任務(wù)！SmartWLI 大視場(chǎng)便攜式白光干涉三維輪廓儀，專用于車身、印刷滾筒、太陽能電池等工業(yè)產(chǎn)品的表面形貌測(cè)量與分析。儀器采用白光干涉測(cè)量原理，操作簡(jiǎn)單， 可輕放于樣品表面執(zhí)行測(cè)量任務(wù)。特有的三腳螺紋支架結(jié)構(gòu)，便于測(cè)量彎曲表面。系統(tǒng)內(nèi)置三束激光校準(zhǔn)系統(tǒng)，便于迅速鎖定測(cè)量區(qū)域。外接筆記本電腦完成數(shù)據(jù)分析，測(cè)量結(jié)果立體直觀呈現(xiàn)。SmartWLI 大視場(chǎng)便攜式白光干涉三維輪廓儀方便攜帶、易于運(yùn)輸?，F(xiàn)場(chǎng)安裝與啟動(dòng)幾分鐘內(nèi)即可完成。適用于工業(yè)產(chǎn)品表面快速、納米級(jí)精度測(cè)量。SmartWLI 大視場(chǎng)便攜式白光干涉三維輪廓儀具備如下優(yōu)點(diǎn)：靈活便攜操作簡(jiǎn)單厘米級(jí)視場(chǎng)納米級(jí)精度典型應(yīng)用領(lǐng)域包括：質(zhì)量管理工藝控制產(chǎn)品研發(fā) SmartVIS 3D測(cè)量軟件 歐元硬幣表面三維形貌測(cè)量圖數(shù)據(jù)分析與結(jié)果輸出：樣品表面三維形貌圖解表示幾何分析（長(zhǎng)度、角度、面積測(cè)量；不規(guī)則區(qū)域、坑洞體積；樣品表面臺(tái)階高度與側(cè)面輪廓剖面圖）粗糙度分析（樣品粗糙度與表面波度）材料屬性分析（材料摩擦磨損實(shí)驗(yàn)測(cè)定）區(qū)域計(jì)算與輪廓參數(shù)（滿足ISO 25178 : Sa, Sz… 與ISO 4287 : Ra, Rz…標(biāo)準(zhǔn)要求） SmartWLI 大視場(chǎng)便攜式白光干涉三維輪廓儀技術(shù)參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)量測(cè)原理 白光干涉Z軸定位系統(tǒng)壓電效應(yīng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)高度量測(cè)范圍最大可達(dá)800 μm攝像頭參數(shù)CCD攝像頭；1624x 1234相素校平系統(tǒng)三束激光干涉物鏡系統(tǒng)視場(chǎng)范圍（mm2）35 x 35最小可分辨橫向?qū)挾龋╱m）28工作距離（mm）10垂直分辨率小于10nm光源系統(tǒng)LED外觀尺寸295 mm（高）× 180 mm (寬) × 245 mm（長(zhǎng)）支架高度調(diào)節(jié)范圍（三腳螺紋支架）大約5-30 mm毛重約3.5 Kg 操作界面筆記本電腦、Windows 7操作系統(tǒng)量測(cè)時(shí)間通常小于1分鐘工作溫度10-35℃推薦工作溫度18-22℃軟件系統(tǒng)SmartWLI基于微軟Win7操作系統(tǒng)，64位表面形貌測(cè)量軟件、三維數(shù)據(jù)可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數(shù)據(jù)分析軟件，輪廓及三維影像結(jié)果輸出、測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)處理及后處理、德標(biāo)（DIN）歐標(biāo)（ EN） ISO標(biāo)準(zhǔn)粗糙度及高度測(cè)定、串行處理及測(cè)試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF 車身部件表面三維形貌測(cè)試結(jié)果 印刷行業(yè)：激光凹版容積 （油墨消耗）工藝控制產(chǎn)品研 注塑行業(yè)：注塑機(jī)的校準(zhǔn) 硅晶片表面波紋度與粗糙度測(cè)試 其它測(cè)試結(jié)果欣賞 其它測(cè)量結(jié)果欣賞

品牌： 韓國(guó)Nano System 型號(hào)： NVM-6000P 產(chǎn)地：韓國(guó) 供應(yīng)商：安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司

產(chǎn)品描述NVM-6000P是專用型設(shè)備，用于基板表面形貌的測(cè)量?；迳系腣ia Hole，Pad形狀，pattem形貌和表面形貌等11個(gè)項(xiàng)目可以進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量。在高速測(cè)量下仍具有優(yōu)秀的重復(fù)性和準(zhǔn)確性，支持用戶設(shè)定測(cè)量條件和測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)保存及分析功能。產(chǎn)品規(guī)格掃描范圍：0-180um（270um可選）垂直分辨率：WSI：0.5nm臺(tái)階高度重復(fù)性:0.5%(1σ)橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）工作臺(tái)面：510x405mm（程控）尺寸：1200(w)X1250(D)X1900(H)應(yīng)用領(lǐng)域Nano View系列為L(zhǎng)CD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)），Engineering Surfaces（工程表面）等等領(lǐng)域提供納米級(jí)別精度的量測(cè)。

品牌： 韓國(guó)Nano System 型號(hào)： Nano View-3000 產(chǎn)地：韓國(guó) 供應(yīng)商：安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司

產(chǎn)品描述Nano View-3000是高端機(jī)型，包括：非接觸3D形貌測(cè)量，更廣的測(cè)量范圍（5mm可選），自動(dòng)聚焦功能（可選），拼接和線路縱斷面等功能。產(chǎn)品規(guī)格干涉物鏡：5物鏡可選(程控）掃描范圍：0-180um（270um，5mm可選）垂直分辨率：WSI：0.5nm，PSI ：0.1nm橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）傾斜度：±6°工作平臺(tái)：NV-P2020 200x200mm（程控）NV-P4050400x500mm（程控）應(yīng)用領(lǐng)域Nano View系列為L(zhǎng)CD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)），Engineering Surfaces（工程表面)等等領(lǐng)域提供納米級(jí)別精度的量測(cè)。

品牌： 韓國(guó)Nano System 型號(hào)： Nano View-2000 產(chǎn)地：韓國(guó) 供應(yīng)商：安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司

產(chǎn)品描述Nano View-2000是經(jīng)濟(jì)型機(jī)型，通過非接觸式的方法對(duì)0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測(cè)量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺(tái)可方便的進(jìn)行放大倍數(shù)的轉(zhuǎn)換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。產(chǎn)品規(guī)格干涉物鏡：5個(gè)物鏡可選掃描范圍：0-180um（270um，5mm可選）垂直分辨率：WSI：0.5nm，PSI ：0.1nm傾斜臺(tái)：±6°Z軸行程：100mm（手動(dòng)）工作臺(tái)面：100x100mm（程控)應(yīng)用領(lǐng)域Nano View系列為L(zhǎng)CD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)），Engineering Surfaces（工程表面）等等領(lǐng)域提供納米級(jí)別精度的量測(cè)。

品牌： 德國(guó)Nanofocus 型號(hào)： NanoFocus usurf cylinder 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞，再將物鏡垂直移動(dòng)，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式，不會(huì)破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測(cè)量，也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測(cè)量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測(cè)物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。德國(guó)μsurf cylinder機(jī)臺(tái)是世界上唯一的一款專為測(cè)量桶狀內(nèi)壁設(shè)計(jì)的非接觸式三維表面測(cè)量?jī)x，并擁有超高光學(xué)分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析能力，被世界頂級(jí)的汽車廠商所應(yīng)用。產(chǎn)品特點(diǎn)：耐用可靠無損測(cè)量光學(xué)分辨率高速度快，數(shù)秒內(nèi)完成測(cè)量真實(shí)的3D數(shù)據(jù)產(chǎn)品功能：紋理分析（角度分析）粗糙度計(jì)算符合DIN EN ISO標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算三維表面粗糙度參數(shù)磨損分析，缺陷檢測(cè)和體積參數(shù)應(yīng)用領(lǐng)域：3D表面形貌2D的縱深形貌輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）表面粗糙度有利于提高成形性，改善外觀以及涂漆性能，降低磨損，提高效率usurf cylinder是一款為汽車行業(yè)度身定做的機(jī)臺(tái)設(shè)備，該產(chǎn)品還可以根據(jù)客戶需求進(jìn)行自動(dòng)編程，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化的拼接測(cè)量，并且自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告和相關(guān)數(shù)據(jù)。目前大眾、奔馳、寶馬等汽車行業(yè)巨頭都在使用該設(shè)備，由于精度高，操作簡(jiǎn)便，又是基于發(fā)動(dòng)機(jī)引擎定制的機(jī)臺(tái)，可操作性很強(qiáng)，鋼桶內(nèi)壁的測(cè)量始終是一個(gè)技術(shù)難關(guān)，現(xiàn)在usurf cylinder的研發(fā)頓時(shí)解決了這個(gè)技術(shù)難題，使得發(fā)動(dòng)機(jī)技術(shù)部門的工程師只需要進(jìn)行幾步簡(jiǎn)單的操作即可完成測(cè)量。

品牌： 德國(guó)Nanofocus 型號(hào)： uscan custom 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

n產(chǎn)品介紹μscan系列機(jī)臺(tái)采用模塊化設(shè)計(jì)，特點(diǎn)是快速測(cè)量、不接觸、不破壞、自動(dòng)化。主要應(yīng)用于材料表面的三維輪廓測(cè)量，粗糙度測(cè)量，寬度，高度，角度，半徑、粗糙度等二維、三維數(shù)據(jù)分析。能直接測(cè)量較大面積的樣品，而不用通過拼接。μScan的中心部件掃描模塊(x/y方向樣品掃描)可以和不同的傳感器(Z方向測(cè)量)連用，如Confocal point sensor(CF)、Autofocus sensor(AF)、Chromatic white light sensor(CLA)、Holographic sensor(CP)等。目前主配的是連接CF4激光共聚焦傳感器。CF4激光共聚焦傳感器內(nèi)，被照亮的小孔成像在被測(cè)量的表面，激光光束經(jīng)由物鏡迅速上下移動(dòng)聚焦于待測(cè)物上，只有當(dāng)焦平面和真實(shí)表面的點(diǎn)配對(duì)的時(shí)候，探測(cè)器才記錄到一個(gè)表面信號(hào)。因此物鏡得通過小的垂直步位移動(dòng)，使信號(hào)通過位移傳感器的位置移動(dòng)被測(cè)出。根據(jù)特殊的內(nèi)插技術(shù)，該系統(tǒng)的精度能達(dá)到10nm以下。n應(yīng)用ü集成電路封裝和表面貼裝：快速獲得封裝翹曲變形、引線共面性、粗糙度、焊料的體積、引線輪廓。ü厚膜混合電路:膜厚度的自動(dòng)化測(cè)量ü精密部件：測(cè)量精密五金配件、塑料、半導(dǎo)體材料的輪廓、粗糙度等n技術(shù)參數(shù)1.測(cè)量原理：非接觸，激光共聚焦2.掃描模塊：2.1XY方向測(cè)量范圍50x50mm/100x100mm/150x100mm/200x200mm（可選）,馬達(dá)驅(qū)動(dòng)2.2XY方向平臺(tái)分辨率0.5um2.3Z方向位移范圍100mm2.4最大測(cè)量速度50mm/S.3.傳感器模塊3.1共聚焦傳感器，激光光源1.5μm spot size，1 kHz data rate3.2Z方向分辨率0,02um3.3XY方向分辨率1um，可連續(xù)一次掃描成像，最大范圍達(dá)到200mmX200mm3.4工作距離4mm3.5Z方向測(cè)量范圍1mm4系統(tǒng)配置4.1計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)；4.2配有專業(yè)工作臺(tái)，尺寸L1000 x H750 x W800 (mm)4.3可為CF傳感器選配離軸攝像頭(10X)，最大視野8 x 6 mm24.4功能全面的軟件4.5數(shù)據(jù)分析：輪廓測(cè)量、寬度，高度，角度，半徑、粗糙度等二維、三維數(shù)據(jù)分析設(shè)備咨詢聯(lián)系人:Ronnie Chen電話：+86-13651969369 +86-21-61533166

品牌： 德國(guó)Nanofocus 型號(hào)： usurf mobile 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

n產(chǎn)品介紹μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞，再將物鏡垂直移動(dòng)，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式，不會(huì)破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測(cè)量，也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測(cè)量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測(cè)物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。NanoFocus μsurf mobile移動(dòng)式3D測(cè)量系統(tǒng)，適用于對(duì)大型樣品的測(cè)量，所以可以在很多惡劣的環(huán)境下進(jìn)行使用，并且不會(huì)影響到使用壽命。當(dāng)人們還在為測(cè)量物體太過于龐大而一籌莫展時(shí)，μsurf mobile移動(dòng)式3D測(cè)量系統(tǒng)的橫空出世徹底解決了人們的這個(gè)困惑，該機(jī)臺(tái)不需要移動(dòng)龐大的被測(cè)物體，只需要帶著便捷的μsurf mobile，放在被測(cè)物體上，就可以在短時(shí)間內(nèi)得出精確的三維表面形貌。n應(yīng)用μsurf系列用來測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。μsurf mobile主要對(duì)大型樣品進(jìn)行測(cè)試，在以下幾個(gè)行業(yè)中被眾多知名企業(yè)廣泛使用：ü汽車行業(yè)ü印刷和造紙行業(yè)ü鋼鐵行業(yè)n技術(shù)參數(shù)LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h測(cè)量時(shí)間：5~10秒測(cè)量原理：非接觸、共聚焦、可移動(dòng)，可以檢測(cè)大型的物體X/Y方向移動(dòng)范圍：50mmX50mm，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，X/Y方向分辨率：0.3μmZ方向移動(dòng)范圍：35mmZ方向測(cè)量范圍：250μm，Z方向分辨率： 10nm物鏡：10X、20X、50X、100X(可選)計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能強(qiáng)大且全面的軟件，有拼接功能工作電源：90-265 V, 50-60 Hz, input 50 W（也可用電池做電源）材質(zhì)：鋼鐵、橡膠、大理石外型尺寸：380*110*115mm重量：5.5KG（不含防震拉桿箱）潔凈室等級(jí): Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)設(shè)備咨詢聯(lián)系人:Ronnie Chen電話：+86-13651969369 +86-21-61533166

品牌： 德國(guó)Nanofocus 型號(hào)： μsurf solar 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

產(chǎn)品介紹usurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞，再將物鏡垂直移動(dòng)，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間內(nèi)(約幾秒)精確量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式，不會(huì)破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測(cè)量，也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測(cè)量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測(cè)物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。NanoFocus usurf solar太陽能電池3D顯微鏡，可以對(duì)太陽能電池片進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)量，廣泛適用于單晶、多晶和薄膜太陽能電池片，一分鐘內(nèi)可以自動(dòng)測(cè)量12個(gè)區(qū)域，是質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)控制中的最有效的光學(xué)三維表面測(cè)量和分析工具?？梢赃M(jìn)行太陽能電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測(cè)量，制絨后3D形貌表征（單晶金字塔大小、數(shù)量、角度、比表面積，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析，以及減反射層腐蝕表面的測(cè)量，薄膜小孔的檢測(cè)和自動(dòng)分析。 作為太陽能行業(yè)必要設(shè)備，usurf solar太陽能電池3D顯微鏡從硬件到軟件均是針對(duì)太陽能行業(yè)定制開發(fā)出來的，其測(cè)量樣品的平臺(tái)帶有真空吸盤，可以承受210mmX210mm的樣品，能確保太陽能電池片移動(dòng)時(shí)不破壞。適用usurf solar有利于控制生產(chǎn)工藝,提高效率,是質(zhì)量的可靠保證。技術(shù)參數(shù) LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測(cè)量時(shí)間：2~10秒 測(cè)量原理：非接觸、共聚焦 X/Y方向：平臺(tái)移動(dòng)范圍200mmX200mm，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，最大移動(dòng)速度40 mm/s，X/Y方向分辨率：0.3μm Z方向測(cè)量范圍：500μm，Z方向分辨率：1nm 物鏡：10X、20X、50X、100X(可選) 離軸攝像頭(10X)，最大視野8 x 6 mm2(選配) 計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能強(qiáng)大且附帶全面解決方案的自動(dòng)化軟件 工作電源：100-240V, 50-60Hz，input: 550 VA 材質(zhì)：鋼鐵、橡膠、大理石 潔凈室等級(jí): Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

品牌： 德國(guó)Nanofocus 型號(hào)： usurf custom 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

產(chǎn)品介紹 usurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞，再將物鏡垂直移動(dòng)，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式，不會(huì)破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測(cè)量，也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測(cè)量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測(cè)物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。 NanoFocus μsurf custom三維共聚焦表面測(cè)量系統(tǒng)，可以根據(jù)客戶的具體需求進(jìn)行樣品平臺(tái)和軟件的定制，功能齊全，可以自動(dòng)測(cè)量，能精確捕捉樣品的三維結(jié)構(gòu)和微納米尺度的復(fù)雜幾何形狀，并擁有超高光學(xué)分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析處理能力。該機(jī)臺(tái)還配備了整合計(jì)算機(jī)和測(cè)量系統(tǒng)的工作臺(tái)，可以將一些測(cè)試報(bào)告等資料放在工作臺(tái)的抽屜里，便捷可靠。應(yīng)用 usurf系列用來測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。 精密部件：檢測(cè)對(duì)表面磨損，表面粗糙度，表面微結(jié)構(gòu)有要求的零部件，比如發(fā)動(dòng)機(jī)汽缸、刀口等; 生命科學(xué)：測(cè)量stents支架上鍍層厚度等 微電子機(jī)械系統(tǒng)：微型器件的檢測(cè)，醫(yī)藥工程中組織結(jié)構(gòu)的檢測(cè)，如基因芯片等 半導(dǎo)體：檢測(cè)微型電子系統(tǒng)，封裝及輔助產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 太陽能：太陽能電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測(cè)量，制絨后3D形貌表征（單晶金字塔大小、數(shù)量、角度，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析等 紙張：紙張、錢幣表面三維形貌測(cè)量 LED：用于藍(lán)寶石襯底的測(cè)量，抽檢PSS ICP后的WAFER的3D形貌技術(shù)參數(shù) LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測(cè)量時(shí)間：2~10秒 測(cè)量原理：非接觸、共聚焦 X/Y方向：平臺(tái)移動(dòng)范圍：100mmX100mm/200mmX200mm/300mmX300mm(大小可選)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，X/Y方向分辨率：0.3μm Z方向測(cè)量范圍：350μm，Z方向分辨率： 1nm 物鏡：10X、20X、50X、100X(可選) 離軸攝像頭(10X)，最大視野8 x 6 mm2(選配) 計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能強(qiáng)大且全面的軟件，有拼接功能 配有專業(yè)工作臺(tái)：尺寸1550x800x750 mm (LxWxH) 工作電源：100-240V, 50-60Hz，input: 550 VA 材質(zhì)：鋼鐵、橡膠、大理石 重量：約150KG+80KG 潔凈室等級(jí): Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

品牌： 德國(guó)Nanofocus 型號(hào)： usurf explorer 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

產(chǎn)品介紹 μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞，再將物鏡垂直移動(dòng)，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式，不會(huì)破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測(cè)量，也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測(cè)量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測(cè)物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。 NanoFocus μsurf explorer機(jī)臺(tái)功能齊全，結(jié)構(gòu)緊湊，性價(jià)比高，并擁有超高光學(xué)分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析能力。 應(yīng)用 μsurf系列用來測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。 精密部件：檢測(cè)對(duì)表面磨損，表面粗糙度，表面微結(jié)構(gòu)有要求的零部件，比如發(fā)動(dòng)機(jī)汽缸、刀口等; 生命科學(xué)：測(cè)量stents支架上鍍層厚度等 微電子機(jī)械系統(tǒng)：微型器件的檢測(cè)，醫(yī)藥工程中組織結(jié)構(gòu)的檢測(cè)，如基因芯片等 半導(dǎo)體：檢測(cè)微型電子系統(tǒng)，封裝及輔助產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 太陽能：電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測(cè)量，制絨后3D形貌表征（單晶金字塔大小、數(shù)量、角度，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析等 紙張：紙張、錢幣表面三維形貌測(cè)量技術(shù)參數(shù) LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測(cè)量時(shí)間：5~10秒 測(cè)量原理：非接觸、共聚焦 X/Y方向，平臺(tái)移動(dòng)范圍：50mmX50mm，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，分辨率：0.3μm Z方向測(cè)量范圍：250μm，分辨率：2nm 物鏡：10X、20X、50X、100X(可選) 計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能全面的軟件，有拼接功能， 工作電源：100-240V, 50-60Hz, input 45W 材質(zhì)：鋼鐵、橡膠、大理石 外型尺寸：710x270x330 mm (HxWxD) 重量：28KG 潔凈室等級(jí): Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

品牌： 德國(guó)布魯克 型號(hào)： Contour Elite 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：德國(guó)布魯克AXS有限公司北京代表處

可信計(jì)量、逼真成像、清晰結(jié)果?逼真成像與可信測(cè)量數(shù)據(jù)的結(jié)合?簡(jiǎn)易直觀的操作界面提供良好的用戶體驗(yàn)?更快速地解決復(fù)雜研究和生產(chǎn)要求下的各種挑戰(zhàn)布魯克Contour Elite三維光學(xué)顯微鏡在已經(jīng)業(yè)界廣泛使用的技術(shù)領(lǐng)先的平臺(tái)上，進(jìn)一步增強(qiáng)Vision64軟件的用戶易用性，創(chuàng)新性加入全新的成像軟硬件，拓展高保真成像能力。在要求極高的研發(fā)、質(zhì)量控制領(lǐng)域，Contour Elite可為用戶提供高速、準(zhǔn)確和重復(fù)性極佳的測(cè)量結(jié)果。同時(shí)，它為用戶提供在通常共聚焦顯微鏡下能得到的成像與顯示效果，如彩色影像等。建立在Wyko專有白光干涉儀基礎(chǔ)上，歷經(jīng)三十多年軟硬件的積累與創(chuàng)新，布魯克Contour Elite系統(tǒng)提供了直觀可視化的操作界面，豐富的用戶自定義方式，自動(dòng)化程序控制功能，以及最快速、廣泛適用的表面三維形貌的高保真成像與準(zhǔn)確測(cè)量，來保證各種領(lǐng)域研發(fā)、生產(chǎn)應(yīng)用的測(cè)試需求。Contour Elite K高穩(wěn)定性，具備一定防震性能設(shè)計(jì)的桌面式型號(hào)Contour Elite I全自動(dòng)，有集成防震墊設(shè)計(jì)的桌面式型號(hào)Contour Elite X全自動(dòng)，集成落地式防震臺(tái)的型號(hào)

ContourGT系列結(jié)合先進(jìn)的64位多核操作和分析處理軟件，專利技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和前所未有的操作簡(jiǎn)易性，推出歷年來來最先進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學(xué)表面輪廓儀擁有超大視野內(nèi)埃級(jí)至毫米級(jí)的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界最高的測(cè)量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，最廣泛使用和最直觀的3D表面計(jì)量平臺(tái)。 業(yè)界最高的垂直分辨率，最強(qiáng)大的測(cè)量性能
三十年技術(shù)創(chuàng)新，迎來第十代全新產(chǎn)品 我們的干涉儀是世界上第一個(gè)包含了著名的垂直掃描干涉技術(shù)（VSI模式），掃描頭傾斜調(diào)整，專利的自動(dòng)校準(zhǔn)和雙LED照明等革新技術(shù)。 ContourGT系列既結(jié)合了這些已被證實(shí)的設(shè)計(jì)功能，又在硬件上進(jìn)行了大量的改進(jìn)，從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復(fù)性最好的光學(xué)輪廓儀性能。 Bruker的光學(xué)輪廓儀具有已被證實(shí)的，將近三十年的優(yōu)越性能運(yùn)行跟蹤記錄，從研究型實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺(tái)安裝記錄。
ContourGT-X光學(xué)輪廓儀配備有一體式的氣動(dòng)平臺(tái)和雙層金屬鑄件，此兩種設(shè)計(jì)都是為了隔離震動(dòng)以避免干擾測(cè)量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測(cè)試的測(cè)量結(jié)果。
OMM結(jié)合了Bruker專利的雙LED照明光源技術(shù)，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供卓越的照明強(qiáng)度和均勻性。OMM還能在整個(gè)10mm測(cè)量量程內(nèi)提供無以倫比的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的多放大倍率檢測(cè)器可包含最大三個(gè)視場(chǎng)目鏡，以最大化放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。
ContourGT系列可選擇型號(hào)中，具有包含Bruker專利技術(shù)的內(nèi)置一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)自校準(zhǔn)功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能最大化。此模塊包含一個(gè)參考信號(hào)，在儀器啟動(dòng)時(shí)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行自校準(zhǔn)，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測(cè)量，以保證絕對(duì)的精確度和卓越的重復(fù)性。
Bruker的傾斜調(diào)整支架設(shè)計(jì)可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測(cè)量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測(cè)量的視野中，確保了操作的一致性和簡(jiǎn)易性。 *這些選項(xiàng)僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號(hào)上具有。
在ContourGT-X型號(hào)中具有全自動(dòng)的8英寸或12英寸樣品臺(tái)。兩種樣品臺(tái)均配備有0.5um重復(fù)性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。
選配的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)塔臺(tái)可安裝最多4個(gè)干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺(tái)設(shè)計(jì)確保了當(dāng)您切換物鏡時(shí)，您的測(cè)試點(diǎn)始終處于聚焦和中心位置。
布魯克納米表面儀器部開通優(yōu)酷視頻專輯 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 歡迎訂閱優(yōu)酷上Bruker Nano Surfaces的相關(guān)視頻，觀看最新的AFM產(chǎn)品和相關(guān)技術(shù)進(jìn)展，以及歷屆網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)和培訓(xùn)資料，精彩內(nèi)容持續(xù)更新中！ http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy 布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces 北京辦公室 北京市海淀區(qū)中關(guān)村南大街 11號(hào)光大國(guó)信大廈6層 6218室 電話：010-68474806 -630 傳真：010-88417855 上海辦公室 上海市徐匯區(qū)漕河涇開發(fā)區(qū)桂平路 418號(hào)新園科技廣場(chǎng) 19樓 E-mail：Sales.asia@bruker-nano.com 產(chǎn)品咨詢熱線：400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測(cè)量 布魯克的NPFLEXTM 3D表面測(cè)量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來前所未有的檢測(cè)能力，實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量時(shí)間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x（CMM）和工業(yè)級(jí)探針式輪廓儀的測(cè)量技術(shù)。測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)包括獲得高分辨的三維圖像，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，NPFLEXTM是第一個(gè)可以靈活地測(cè)量大尺寸樣品的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。 其靈活性表現(xiàn)在可用于測(cè)量表征更大的面型和更難測(cè)的角度樣品
滿足不同客戶的測(cè)量需求： 可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)的樣品部位，測(cè)量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復(fù)性好。 獲得研發(fā)大獎(jiǎng)的透過透明介質(zhì)測(cè)量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊,，結(jié)合環(huán)境測(cè)試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對(duì)樣品進(jìn)行加熱或者冷卻，進(jìn)行原位測(cè)量。 可選的折疊鏡頭能夠測(cè)量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。 納米級(jí)分辨率的三維表面信息測(cè)量 大家對(duì)很多樣品的表面性質(zhì)感興趣，但是要獲得這些品性質(zhì)，需要檢測(cè)大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航 天，汽車，醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測(cè)工具進(jìn)行表征，獲得的只是一條線測(cè)量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。NPFLEX測(cè)試系統(tǒng)采用白光干涉原理，在每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)可以實(shí)現(xiàn)表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級(jí)的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測(cè)量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果，更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來幫助分析樣品性質(zhì)。 快速獲取數(shù)據(jù)，保證測(cè)試迅速高效 NPFLEX三維測(cè)量系統(tǒng)，能夠靈活高效的獲取大量測(cè)試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時(shí)間和測(cè)量方案設(shè)置時(shí)間，操作者可以快速更換樣品，而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下，對(duì)樣品的不同表面進(jìn)行測(cè)量。僅需要不到15秒的時(shí)間，就可以出色地完成一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的數(shù)據(jù)采集和分析工作。自動(dòng)對(duì)焦，光強(qiáng)調(diào)節(jié)以及其他配套軟件功能，大大節(jié)約了測(cè)試分析時(shí)間，而且可以根據(jù)操作者的實(shí)驗(yàn)需求，量身定做最優(yōu)化的實(shí)驗(yàn)方案，而不影響數(shù)據(jù)的精度和質(zhì)量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準(zhǔn)確地獲得大型零部件的高精度測(cè)量結(jié)果，提供一站式的測(cè)量解決方案。
品牌： 德國(guó)布魯克 型號(hào)： NT9100 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：德國(guó)布魯克AXS有限公司北京代表處

儀器簡(jiǎn)介： NT9100光學(xué)輪廓儀是一款使用便利、性能卓越，性價(jià)比高的非接觸無損傷三形貌維測(cè)量?jī)x器。Wyko最新的第九代系統(tǒng)采用獨(dú)有的雙LED照明光源專利技術(shù)，能夠更好的檢測(cè)超光滑表面及非常粗糙的表面；它的測(cè)量范圍可達(dá)亞納米級(jí)粗糙度到毫米級(jí)的臺(tái)階高度。作為第九代白光干涉儀的桌面機(jī)臺(tái)，NT 9100同樣具有大機(jī)臺(tái)才有的優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單易用的操作方式、快速數(shù)據(jù)獲取能力、強(qiáng)大的軟件功能及埃級(jí)的重現(xiàn)性等。同時(shí)，可選配的X-Y自動(dòng)平臺(tái)，使NT9100具有程序化處理樣品的功能。
品牌： 德國(guó)布魯克 型號(hào)： NT9800 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：德國(guó)布魯克AXS有限公司北京代表處

儀器簡(jiǎn)介：Wyko NT9800 光學(xué)輪廓儀在0.1nm 到 10mm 的垂直掃描范圍內(nèi)提供了非接觸式高速高精度三維表面測(cè)量工能，縱向分辨率可達(dá)0.1nm。NT9800 采用了Veeco專利的內(nèi)部實(shí)時(shí)激光參考信號(hào)進(jìn)行持續(xù)的自校準(zhǔn)，減小了通常情況下使用標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)設(shè)備的需要，并且能夠補(bǔ)償工作環(huán)境下系統(tǒng)產(chǎn)生的熱漂誤差。作為業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的第九代Wyko NT系列光學(xué)輪廓儀產(chǎn)品，NT9800 具有最高的自動(dòng)化水平，友好的用戶界面，以及業(yè)內(nèi)最好的Wyko Vision分析軟件系統(tǒng)。眾多先進(jìn)技術(shù)的集成、經(jīng)過長(zhǎng)期實(shí)用驗(yàn)證的測(cè)量技術(shù)核心以及適合于各種專業(yè)應(yīng)用需要的軟件功能，使 NT9800 成為世界上最先進(jìn)的光學(xué)干涉測(cè)量設(shè)備，可滿足MEMS、金屬研究、材料科學(xué)、半導(dǎo)體、醫(yī)用器械等眾多領(lǐng)域科研和生產(chǎn)工作中對(duì)高精度自動(dòng)化表面測(cè)量的需要。技術(shù)參數(shù)：1、縱向掃描范圍：0.1nm~1mm (標(biāo)配） 2、垂直掃描速度：25um/s 3、樣品臺(tái)尺寸：200mm主要特點(diǎn)：1. 非接觸測(cè)量 2. 重復(fù)性高 3. 測(cè)量精度高

品牌： 德國(guó)布魯克 型號(hào)： NT9300 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：德國(guó)布魯克AXS有限公司北京代表處

儀器簡(jiǎn)介：Wyko NT9300采用了Veeco第九代光學(xué)輪廓探測(cè)技術(shù)，在0.1nm到10mm的垂直掃描范圍內(nèi)提供了快速、高精度的三維表面形貌測(cè)量功能，是大范圍表面測(cè)量、數(shù)據(jù)縫合以及不規(guī)則樣品測(cè)量的理想設(shè)備。專利的雙路LED照明源顯著提高了光強(qiáng)并延長(zhǎng)了光源器件的使用壽命，使操作者的各種測(cè)量應(yīng)用都能獲得最佳效果。無論操作者經(jīng)驗(yàn)水平如何，XYZ三向可編程控制馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的工作臺(tái)系統(tǒng)以及Veeco獨(dú)有的Tip/Tilt傾斜測(cè)量裝置都使得測(cè)量工作變得異常輕松。業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的Wyko Vision軟件系統(tǒng)為用戶提供了超過200種的分析功能和自動(dòng)測(cè)量控制功能。NT9300集先進(jìn)的硬件結(jié)構(gòu)與軟件系統(tǒng)于一身，是一款滿足實(shí)驗(yàn)室科研以及工業(yè)生產(chǎn)批量自動(dòng)化在線檢測(cè)應(yīng)用需要的高性能表面檢測(cè)設(shè)備。技術(shù)參數(shù)：1、縱向掃描范圍：0.1nm~10mm (標(biāo)配） 2、最大掃描速度：24um/s 3、樣品臺(tái)尺寸：200mm XY自動(dòng)樣品臺(tái)（標(biāo)配）主要特點(diǎn)：1. 非接觸測(cè)量 2. 重復(fù)性高 3. 測(cè)量精度高

品牌： 德國(guó)布魯克 型號(hào)： DEKTAK 8 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：德國(guó)布魯克AXS有限公司北京代表處

儀器簡(jiǎn)介：Dektak8臺(tái)階式探針輪廓儀，結(jié)構(gòu)緊湊，可提供很高的重復(fù)性和精度。獨(dú)特的XY方向定位系統(tǒng)可移動(dòng)到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測(cè)量臺(tái)階高度和表面紋理，還能測(cè)量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點(diǎn)高度、纖維光學(xué)元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak8系統(tǒng)對(duì)于MEMS，納米技術(shù)和半導(dǎo)體應(yīng)用都非常方便。技術(shù)參數(shù)：臺(tái)階高度重復(fù)性: 7.5,1σ在1um標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階上 最大晶圓尺寸：200mm 最大樣品厚度：25.4mm （1 in.) 每次掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)：最多可達(dá)60，000數(shù)據(jù)點(diǎn) 掃描長(zhǎng)度范圍：標(biāo)配最大50mm 垂直范圍：標(biāo)配262um；可選1mm 最大垂直分辨率：1 (6.55微米垂直范圍下）主要特點(diǎn)：1. 臺(tái)階高度測(cè)量重復(fù)性高 2. 是功能最為強(qiáng)大的探針輪廓儀，可最大限度的滿足各種應(yīng)用需要 3. 簡(jiǎn)單易用 4. 作為一款桌面型輪廓儀，掃描范圍可達(dá)200mm

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