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暗視野顯微鏡

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放大字體  縮小字體    發(fā)布日期:2019-08-31  來源:儀器信息網(wǎng)  作者:Mr liao  瀏覽次數(shù):147
核心提示:暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡 暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡是光學(xué)顯微鏡的一種,也叫超顯微鏡。暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡的聚光鏡中央有擋光片,使照明光線不直接進(jìn)人物鏡,只允許被標(biāo)本反射和衍射的光線進(jìn)入物鏡,因而視野的背景是黑的,物體的邊緣是亮的。暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡常用來觀察未染色的透明樣品。這些樣品因?yàn)榫哂泻椭車h(huán)境相似的折射率,不易在一般明視野之下看的清楚,于是利用暗視野提高樣品本身與背景之間的對比。 精品推薦 品牌: 蘇州歐米特 型號: OMT-5RT 產(chǎn)地:蘇州 供應(yīng)商:蘇州歐米特光電科技有限公司
暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡 暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡 暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡是光學(xué)顯微鏡的一種,也叫超顯微鏡。暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡的聚光鏡中央有擋光片,使照明光線不直接進(jìn)人物鏡,只允許被標(biāo)本反射和衍射的光線進(jìn)入物鏡,因而視野的背景是黑的,物體的邊緣是亮的。暗視野顯微鏡/暗場顯微鏡常用來觀察未染色的透明樣品。這些樣品因?yàn)榫哂泻椭車h(huán)境相似的折射率,不易在一般明視野之下看的清楚,于是利用暗視野提高樣品本身與背景之間的對比。 精品推薦
品牌: 蘇州歐米特 型號: OMT-5RT 產(chǎn)地:蘇州 供應(yīng)商:蘇州歐米特光電科技有限公司

OMT-5RT系列研究級金相顯微鏡提供優(yōu)越的圖像質(zhì)量和穩(wěn)固可靠的機(jī)械結(jié)構(gòu); 操作簡便,附件齊全,廣泛應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、 半導(dǎo)體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域 OMT-5RT系列研究級金相顯微鏡


品牌: 上海長方 型號: CMM-40 產(chǎn)地: 供應(yīng)商:上海長方光學(xué)儀器有限公司

一、用途: CMM-40E/CMM-40Z 系列暗場金相顯微鏡是一種多用途工業(yè)檢驗(yàn)顯微鏡。暗場金相顯微鏡視場寬闊,成像清晰明亮,操作舒適,是半導(dǎo)體硅晶片、掩模板、LCD基板、生物,金相試樣及其它不透明工業(yè)試樣的理想檢驗(yàn)儀器。暗場金相顯微鏡可選配高精度大行程載物臺,便于大尺寸試樣的檢驗(yàn)。暗場金相顯微鏡還可選配顯微攝影射像,數(shù)碼相機(jī)、暗場、偏光及試樣壓平器等附件。暗場顯微鏡CMM-40E暗場顯微鏡CMM-40Z查看大圖查看大圖二、系統(tǒng)簡介暗場金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與計(jì)算機(jī)(數(shù)碼相機(jī))通過光電轉(zhuǎn)換有機(jī)的結(jié)合在一起,不僅可以在目鏡上作顯微觀察,還能在計(jì)算機(jī)(數(shù)碼相機(jī))顯示屏幕上觀察實(shí)時動態(tài)圖像,暗場金相顯微鏡并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。三、技術(shù)參數(shù):1.目鏡類型放大倍數(shù)視場(mm)廣角目鏡10XФ202.物鏡物鏡類型放大倍數(shù)數(shù)值孔徑 (NA)平場消色差物鏡10X0.2525X0.4540X0.60100X (油)1.25平場暗視野物鏡10X0.2520X0.3240X0.603.總放大倍數(shù)光學(xué)放大倍數(shù):100X 250X 400X 1000X 系統(tǒng)參考放大倍數(shù):100X-2600X4.載物臺:50mm*75mm5.調(diào)焦系統(tǒng):帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微動,微動格值 0.002mm6.瞳距調(diào)節(jié)范圍:53-75mm7.濾色片:黃、綠、藍(lán)8.照明系統(tǒng):12V/50W 反射,6V/30W大功率鹵素?zé)?亮度可調(diào)9.防霉:特有的防霉系統(tǒng)四、系統(tǒng)組成:電腦型暗場金相顯微鏡(CMM-40E):1、金相顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計(jì)算機(jī)數(shù)碼相機(jī)型暗場金相顯微鏡(CMM-40Z):1、金相顯微鏡 2、適配鏡 3、數(shù)碼相機(jī)五、儀器的選購件:1.目鏡:20X 2.物鏡:4X 20X 3.高像素成像系統(tǒng)4.金相圖像測量軟件 CF-2000C5.金相組織圖譜分析軟件(定量) CF-2000JX相關(guān)應(yīng)用:暗場金相顯微鏡有較好的成像質(zhì)量,可用要求高的檢驗(yàn)室,倍數(shù)范圍寬


品牌: 北京濱松光子 型號: THEMOS mini 產(chǎn)地:日本 供應(yīng)商:濱松光子學(xué)商貿(mào)(中國)有限公司

mini是一款發(fā)熱顯微鏡,配備了高靈敏度InSb相機(jī),可探測半導(dǎo)體器件的內(nèi)部發(fā)熱。通過將高精度熱探測器探測到的發(fā)熱圖與模板圖像疊加,可高精度地識別失效位置。特性高靈敏度是通過以下方式獲得的:InSb相機(jī)在3 μm到5 μm波段內(nèi)具有高靈敏度專為3 μm 到 5 μm波段優(yōu)化的鏡頭設(shè)計(jì)使用lock-in功能(選配)實(shí)現(xiàn)低噪聲使用斯特林循環(huán)冷卻器實(shí)現(xiàn)高制冷性能噪聲等效溫差(NETD)只有20mK高分辨率是通過以下方式獲得的:InSb相機(jī)為640 × 512像素(像素尺寸:15μm)可選擇熱納米鏡頭(選配)使用窗口功能,可獲得高速探測能力視頻功能連接測試機(jī),可獲得動態(tài)分析功能系統(tǒng)結(jié)構(gòu)靈活,可進(jìn)行微觀到宏觀的觀測與PHEMOS、μAMOS系列一樣具有用戶友好型操作全系列的選配選項(xiàng)應(yīng)用金屬布線短路接觸孔異常氧化物層微等離子體泄露氧化物層擊穿TFT-LCD泄露/有機(jī)EL泄露定位器件開發(fā)過程中溫度異常監(jiān)測器件和PC板的溫度映射溫度測量功能在器件設(shè)計(jì)早期,通過獲取器件工作時的溫度信息,反饋回設(shè)計(jì)流程,可以縮短器件驗(yàn)證時間,也可增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性。在觀測基于工作環(huán)境的溫度行為改變上,該功能也很有用。通過增加U11389溫度測量功能,便可以方便地獲得該測量功能。宏觀分析新研發(fā)的0.29×紅外鏡頭可提供無水仙現(xiàn)象、無陰影的清晰視場圖像。熱納米鏡頭系統(tǒng)(Thermal NanoLens System)熱納米鏡頭系統(tǒng)因?yàn)楦邤?shù)值孔徑,大大提高了光校正效率和分辨率。通過在樣品(即便樣品表面平整度很差)和透鏡之間施加顯微鏡浸潤油來獲取高數(shù)值孔徑。使用操縱器來簡化納米透鏡系統(tǒng)的設(shè)計(jì),可使工作設(shè)備的更新更簡單。LSI測試機(jī)對接半導(dǎo)體器件變得越來越復(fù)雜,因此必須通過與LSI測試機(jī)對接來初始化采樣測量、設(shè)置特殊條件。安裝專用探針卡適配器后,可以用線纜與LSI測試機(jī)對接,執(zhí)行分析。激光標(biāo)記在定位后的失效點(diǎn)附近進(jìn)行標(biāo)記,或者在失效點(diǎn)周圍的四個點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記,可以輕松地將失效點(diǎn)的位置信息傳輸?shù)狡渌姆治鲈O(shè)備上。測量示例案例研究:封裝器件觀測案例研究:對器件一側(cè)開口進(jìn)行失效層觀測案例研究:CMOS觀測發(fā)現(xiàn)凸球下的缺陷案例研究:PCB和封裝器件之間的布線失效在打開封裝之前觀測熱源;打開封裝以后獲取相位圖像以縮小熱源范圍。參數(shù)尺寸/重量880 mm(W)×840 mm(D)×1993 mm(H), Approx. 450 kgPC桌:700 mm(W)×700 mm(D)×700 mm(H), Approx. 50 kg線電壓AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗約 700W真空度約80 kPa或更大壓縮空氣0.5 MPa to 0.7 MPa系統(tǒng)配置C9985-04 InSb相機(jī)標(biāo)配自動平臺控制手動標(biāo)準(zhǔn)透鏡0.8×、4×、15×樣品平臺HPK 平臺 (8英寸)探測目鏡標(biāo)配探測鏡頭NIR 5×抗震桌標(biāo)配THEMOS分析軟件標(biāo)配FOV(mm)12×9.6 to 0.64×0.51目標(biāo)PCB*,晶片(可達(dá)12英寸),Si 片, 封裝*:集成0.29×物鏡時。功能熱lock-in測量選配 3D-IC測量選配熱測量功能選配熱納米鏡頭選配視頻功能標(biāo)配外部觸發(fā)標(biāo)配窗口功能標(biāo)配光學(xué)系統(tǒng)物鏡/微距鏡頭N.A.WD(mm)FOV(mm)配置MWIR 0.29×0.0481233×26td 選配MWIR 0.8×0.132212.0×9.6標(biāo)配MWIR 4×0.52252.4×1.9標(biāo)配MWIR 8×0.75151.2×0.96選配MWIR 15×0.71150.64×0.51標(biāo)配MWIR 30×0.71130.32×0.26選配M Plan NIR 5×0.1437.52.6×2.6標(biāo)配外形圖(單位:mm)


品牌: 北京濱松光子 型號: THEMOS-1000 產(chǎn)地:日本 供應(yīng)商:濱松光子學(xué)商貿(mào)(中國)有限公司

熱點(diǎn)檢測微光顯微鏡THEMOS系列THEMOS-1000發(fā)熱分析工具是一套用于通過半導(dǎo)體器件探測、熱信號定位來進(jìn)行半導(dǎo)體失效分析的系統(tǒng)。通過將高精度熱探測器探測到的發(fā)熱圖與從紅外共焦激光顯微鏡獲取的高分辨率模板圖像疊加,可快速、高精度地識別失效位置。特性高靈敏度是通過以下方式獲得的:InSb相機(jī)在3 μm到5 μm波段內(nèi)具有高靈敏度專為3 μm 到 5 μm波段優(yōu)化的鏡頭設(shè)計(jì)使用lock-in功能(選配)實(shí)現(xiàn)低噪聲使用斯特林循環(huán)冷卻器實(shí)現(xiàn)高制冷性能噪聲等效溫差(NETD)只有20mK高分辨率是通過以下方式獲得的:InSb相機(jī)為640 × 512像素(像素尺寸:15μm)疊加的激光模板圖像來自紅外共焦激光顯微鏡可選擇熱納米鏡頭(選配)使用窗口功能,可獲得高速探測能力視頻功能連接測試機(jī),可獲得動態(tài)分析功能系統(tǒng)結(jié)構(gòu)靈活,可進(jìn)行微觀到宏觀的觀測與PHEMOS、μAMOS系列一樣具有用戶友好型操作全系列的選配選項(xiàng)應(yīng)用金屬布線短路接觸孔異常氧化物層微等離子體泄露氧化物層擊穿TFT-LCD泄露/有機(jī)EL泄露定位器件開發(fā)過程中溫度異常監(jiān)測器件和PC板的溫度映射在器件設(shè)計(jì)早期,通過獲取器件工作時的溫度信息,反饋回設(shè)計(jì)流程,可以縮短器件驗(yàn)證時間,也可增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性。在觀測基于工作環(huán)境的溫度行為改變上,該功能也很有用。通過增加U11389溫度測量功能,便可以方便地獲得該測量功能。IR-OBIRCH分析功能極受歡迎的IR-OBIRCH(Infrared Optical Beam Induced Resistance CHange,紅外光致阻值變化)分析功能可以作為選配增加到設(shè)備中,來探測漏電流或靜態(tài)電流缺陷(leakage or IDDQ defects)等的線缺陷??梢砸?象限電壓/電流的形式測量。使用激光激勵組件進(jìn)行動態(tài)分析(DALS)使用激光激勵組件進(jìn)行動態(tài)分析(DALS)是一種利用激光照射來分析器件工作狀況的新方式。在使用LSI測試機(jī)的測試模板操作器件過程中,使用1.3 μm激光激勵器件,器件的工作狀態(tài)(通過/失敗)因激光產(chǎn)生的熱量而改變。通過/失敗信號的改變以圖像形式呈現(xiàn),表明了引起時序延遲的點(diǎn),邊際缺陷等等。熱納米鏡頭系統(tǒng)(Thermal NanoLens System)熱納米鏡頭系統(tǒng)因?yàn)楦邤?shù)值孔徑,大大提高了光校正效率和分辨率。通過在樣品(即便樣品表面平整度很差)和透鏡之間施加顯微鏡浸潤油來獲取高數(shù)值孔徑。使用操縱器來簡化納米透鏡系統(tǒng)的設(shè)計(jì),可使工作設(shè)備的更新更簡單。LSI測試機(jī)對接半導(dǎo)體器件變得越來越復(fù)雜,因此必須通過與LSI測試機(jī)對接來初始化采樣測量、設(shè)置特殊條件。安裝專用探針卡適配器后,可以用線纜與LSI測試機(jī)對接,執(zhí)行分析。激光標(biāo)記在定位后的失效點(diǎn)附近進(jìn)行標(biāo)記,或者在失效點(diǎn)周圍的四個點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記,可以輕松地將失效點(diǎn)的位置信息傳輸?shù)狡渌姆治鲈O(shè)備上。EO探針單元EO探針單元是一款工具,通過使用非連續(xù)光源,透過硅基底來觀察晶體管狀態(tài)。它由EOP(Electro Optical Probing)來快速測量晶體管工作電壓,由EOFM(Electro Optical Frequency Mapping)以特定頻率對活躍晶體管成像。測量示例案例研究:封裝器件觀測案例研究:對器件一側(cè)開口進(jìn)行失效層觀測案例研究:CMOS觀測發(fā)現(xiàn)凸球下的缺陷案例研究:PCB和封裝器件之間的布線失效在打開封裝之前觀測熱源;打開封裝以后獲取相位圖像以縮小熱源范圍。參數(shù)尺寸/重量主單元:1360 mm(W)×1410 mm(D)×2120 mm(H), Approx. 900 kg控制臺:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kgPC桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg線電壓AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗約 3000W真空度約80 kPa或更大壓縮空氣0.5 MPa to 0.7 MPa系統(tǒng)配置C9985-04 InSb相機(jī)標(biāo)配紅外共焦顯微鏡標(biāo)配自動平臺控制XYZ標(biāo)準(zhǔn)透鏡0.8×、4×、15×樣品平臺PM8、PM8DSP探測目鏡標(biāo)配探測鏡頭NIR 5×抗震桌標(biāo)配黑盒標(biāo)配THEMOS分析軟件標(biāo)配FOV(mm)12×9.6 to 0.64×0.51目標(biāo)晶片(可達(dá)12英寸), Si 片, 封裝功能熱lock-in測量選配 3D-IC測量選配熱測量功能選配熱納米鏡頭選配視頻功能標(biāo)配外部觸發(fā)標(biāo)配窗口功能標(biāo)配IR-OBIRCH分析功能選配DALS選配光發(fā)射分析選配EO探測單元選配光發(fā)射觀測的相機(jī)選擇型號制冷類型有效像素?cái)?shù)光譜靈敏度InGaAs 相機(jī) C8250-21液氮制冷640(H)×512(V)900 nm to 1550 nmInGaAs 相機(jī) C8250-27半導(dǎo)體制冷640(H)×512(V)900 nm to 1550 nmInGaAs 相機(jī) C8250-31液氮制冷1000(H)×1000(V)900 nm to 1550 nm制冷型CCD 相機(jī) C4880-59水冷1024(H)×1024(V)300 nm to 1100 nmSi-CCD 相機(jī) C11231-01半導(dǎo)體制冷1024(H)×1024(V)400 nm to 1100 nm紅外共焦激光顯微鏡1.3 μm激光二極管輸出: 100 mW1.3 μm高功率激光器(選配)輸出: 超過400 mW1.1 μm脈沖激光器(選配)輸出: 200 mW (CW), 800 mW (pulse)光學(xué)系統(tǒng)物鏡/微距鏡頭N.A.WD(mm)FOV(mm)配置MWIR 0.8×0.132212.0×9.6標(biāo)配MWIR 4×0.52252.4×1.9標(biāo)配MWIR 8×0.75151.2×0.96選配MWIR 15×0.71150.64×0.51標(biāo)配MWIR 30×0.71130.32×0.26選配M Plan NIR 5×0.1437.52.6×2.6標(biāo)配M Plan NIR 20×0.4200.65×0.65標(biāo)配M Plan NIR 100×0.5120.13×0.13標(biāo)配


品牌: 北京濱松光子 型號: TriPHEMOS 產(chǎn)地:日本 供應(yīng)商:濱松光子學(xué)商貿(mào)(中國)有限公司

TriPHEMOS 實(shí)時分析微光顯微鏡為了滿足CPU越來越快的速度和移動設(shè)備中低功耗的需求,先進(jìn)的IC已經(jīng)具有降低電壓、轉(zhuǎn)化為倒裝芯片、多布線層以及進(jìn)一步減小尺寸等特點(diǎn)。由此也導(dǎo)致使用傳統(tǒng)技術(shù)難以分析芯片內(nèi)部工作的時序。TriPHEMOS工具使用二維紅外探測器,可以皮秒級精度分析器件時序。特性全新的探測器,其靈敏度范圍可達(dá)1600nm全新的探測器靈敏度范圍為950nm到1600nm,而傳統(tǒng)探測器的范圍只能到1400nm。擴(kuò)展出來的光譜靈敏度增加了背面分析和低電壓驅(qū)動IC的探測效率。全新的TDC(Time to Digital Converter),減少了分析時間全新設(shè)計(jì)的TDC可以以12.5ps的時間分辨率測量10ms內(nèi)發(fā)生的光發(fā)射。專用分析軟件可以在全測量范圍的任何時間窗內(nèi)獲取結(jié)果,因此可探究出每個事件的更多細(xì)節(jié)。TDC可提供更高的重復(fù)頻率專門設(shè)計(jì)的TDC最大可提供10MHz的重復(fù)頻率。TDC的重復(fù)頻率范圍為100Hz到10MHz,因此使用者在測試工程中可更加靈活(循環(huán)長度)。二維探測器同時測量近紅外二維探測器同時測量視場內(nèi)所有晶體管的光發(fā)射波形,因此可快速識別目標(biāo)晶體管。低噪聲測量TriPHEMOS的近紅外二維探測器的ems噪聲比傳統(tǒng)固態(tài)探測器的要低1/1000(室內(nèi)),因此可以捕獲非常微弱的光現(xiàn)象。多功能平臺TriPHEMOS 配備了適用于背面操作的多功能平臺。該平臺允許使用者增加額外的探測器,可與激光應(yīng)用配合工作。通過降低樣品設(shè)置的復(fù)雜度進(jìn)而流程長度,平臺將設(shè)置樣品的效率最大化。分析功能可在測量中實(shí)時成像。ROI(感興趣區(qū)域)窗口可對特定的晶體管進(jìn)行分析。邏輯仿真器下載輸出。選配CAD導(dǎo)航軟件選配的CAD導(dǎo)航接口軟件可使用戶在CAD數(shù)據(jù)上覆蓋發(fā)光,以進(jìn)一步分析。EO探針單元C12323-01EO探針單元是一款工具,通過使用非連續(xù)光源,透過硅基底來觀察晶體管狀態(tài)。它由EOP(Electro Optical Probing)來快速測量晶體管工作電壓,由EOFM(Electro Optical Frequency Mapping)以特定頻率對活躍晶體管成像。應(yīng)用時序驗(yàn)證IC開發(fā)中的設(shè)計(jì)驗(yàn)證DFM參數(shù)收集器件失效分析LSI器件光發(fā)射的動態(tài)測量LSI器件內(nèi)部的CMOS晶體管在源極和漏極施加電壓時由于電流流動而發(fā)光,該發(fā)光現(xiàn)象可分為瞬變態(tài)和靜止態(tài)。測量瞬變光發(fā)射(瞬變態(tài))當(dāng)邏輯狀態(tài)轉(zhuǎn)換時,LSI器件內(nèi)部的晶體管開關(guān)轉(zhuǎn)換,晶體管瞬間的電流反射出脈沖光。對該脈沖光的波形進(jìn)行時域測量,可以皮秒級精確度對時間進(jìn)行測量。測量靜止光發(fā)射(靜止態(tài))無論晶體管是維持在開還是關(guān)狀態(tài),對其施加電壓會產(chǎn)生電流并且發(fā)光。該現(xiàn)象因?qū)SI施加的電壓以及門電壓的不同而不同。當(dāng)晶體光處于關(guān)狀態(tài)時,決定晶體光特性和缺陷數(shù)目的亞閾值電壓還影響電流流動中的漏電流量。分析靜止態(tài)的光發(fā)射可以定位缺陷點(diǎn),追蹤晶體管特性浮動、LSI供電不規(guī)則性等等參量。測量示例參數(shù)產(chǎn)品名稱TriPHEMOS靈敏度范圍950 nm to 1600 nm有效視場7.8 mm×7.8 mm結(jié)構(gòu)倒置型觸發(fā)間隔(測量范圍)100 ns/10 MHz to 10.5 ms/100 Hz最小時間分辨率12.5 ps軟件測量控制,分析, CAD 導(dǎo)航, VCD尺寸/重量*1主單元:1580 mm (W)×1270 mm (D)×1500 mm (H), Approx. 1500 kg控制臺1:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kg控制臺2:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kg選配桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg線電壓AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗約 4400W壓縮空氣0.5 MPa to 0.7 MPa*1:重量因選配不同而變化。


品牌: 北京濱松光子 型號: iPHEMOS-SD 產(chǎn)地:日本 供應(yīng)商:濱松光子學(xué)商貿(mào)(中國)有限公司

倒置微光顯微鏡iPHEMOS系列該儀器設(shè)計(jì)緊湊,高度僅為80cm,因此可與多種測試機(jī)方便地對接。其配備的高靈敏度InGaAs相機(jī)以及多種激光選配件擴(kuò)大了其動態(tài)分析的范圍。特性高精度級的多相機(jī)平臺靈活的系統(tǒng)設(shè)計(jì)多種探測器,可觀測低壓工作IC倍率從1×到100×,多種鏡頭可選(可選配10鏡頭轉(zhuǎn)臺)背面觀測探針可測量從整個300mm晶片到單個die的范圍簡化了測試機(jī)頭對接,便于動態(tài)分析用戶友好型操作系統(tǒng)易于升級,有利于后期應(yīng)用高分辨率模板圖像選配高分辨率、高靈敏度觀測用納米透鏡使用納米透鏡可增加數(shù)值孔徑,顯著提高分辨率和光采集效率。這樣可以減少探測時間,卻可以提供更好的分辨率。紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析功能極受歡迎的紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析功能可作為選配增加到儀器中,來探測漏電流或靜態(tài)電流缺陷(leakage or IDDQ defects)等的線缺陷使用數(shù)字lock-in組件,可提高IR-OBIRCH分析的探測功能軟件提供的數(shù)字lock-in功能即使是很短的圖像采集時間,也可以保證獲得比模擬lock-in更清晰和銳利的圖像。激光輻射的動態(tài)分析功能使用激光束照射,來觀測器件工作中的狀態(tài)變化(通過或者失敗),以分析功能缺陷序列測量軟件通過使用者執(zhí)行一套流程,該功能可自動進(jìn)行微光/IR-OBIRCH觀測。連接半自動探針后,微光/IR-OBIRCH圖像可按照序列測量并保存。連接大規(guī)模集成電路測試機(jī)或者外部電源也可以進(jìn)行測量。EO探針單元C12323-01EO探針單元是一款工具,通過使用非連續(xù)光源,透過硅基底來觀察晶體管狀態(tài)。配置參數(shù)產(chǎn)品名稱iPHEMOS-SD尺寸/重量*1主單元:805 mm (W)×915 mm (D)×1180 (775*2) mm (H), Approx. 500 kg*2控制臺:880 mm (W)×1000 mm (D)×1775 mm (H), Approx. 200 kg*1:重量因配置不同而改變。*2:高度等于iPHEMOS-SD上樣品邊緣的高度。


品牌: 北京濱松光子 型號: iPHEMOS-TP 產(chǎn)地:日本 供應(yīng)商:濱松光子學(xué)商貿(mào)(中國)有限公司

倒置微光顯微鏡iPHEMOS系列該產(chǎn)品配備了Cascade Microtech公司的300mm晶片用背部微光探針(backside emission prober,BEP),其快速準(zhǔn)確的晶片多管腳探測或微探測使其可高效地從晶片背部對晶片進(jìn)行分析。該產(chǎn)品具有多個平臺,有包括激光應(yīng)用、晶片自動測量軟件等全系列的選配,可進(jìn)行多種背面分析。一個單元最多可安裝3個探測器。LCD監(jiān)控?zé)艉y,請根據(jù)當(dāng)?shù)胤ㄒ?guī)處理。特性高精度級的多相機(jī)平臺靈活的系統(tǒng)設(shè)計(jì)多種探測器,可觀測低壓工作IC倍率從1×到100×,多種鏡頭可選(可選配10鏡頭轉(zhuǎn)臺)背面觀測探針可測量從整個300mm晶片到單個die的范圍簡化了測試機(jī)頭對接,便于動態(tài)分析用戶友好型操作系統(tǒng)易于升級,有利于后期應(yīng)用高分辨率模板圖像選配高分辨率、高靈敏度觀測用納米透鏡使用納米透鏡可增加數(shù)值孔徑,顯著提高分辨率和光采集效率。這樣可以減少探測時間,卻可以提供更好的分辨率。紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析功能極受歡迎的紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析功能可作為選配增加到儀器中,來探測漏電流或靜態(tài)電流缺陷(leakage or IDDQ defects)等的線缺陷使用數(shù)字lock-in組件,可提高IR-OBIRCH分析的探測功能軟件提供的數(shù)字lock-in功能即使是很短的圖像采集時間,也可以保證獲得比模擬lock-in更清晰和銳利的圖像。激光輻射的動態(tài)分析功能使用激光束照射,來觀測器件工作中的狀態(tài)變化(通過或者失敗),以分析功能缺陷序列測量軟件通過使用者執(zhí)行一套流程,該功能可自動進(jìn)行微光/IR-OBIRCH觀測。連接半自動探針后,微光/IR-OBIRCH圖像可按照序列測量并保存。連接大規(guī)模集成電路測試機(jī)或者外部電源也可以進(jìn)行測量。EO探針單元C12323-01EO探針單元是一款工具,通過使用非連續(xù)光源,透過硅基底來觀察晶體管狀態(tài)。配置參數(shù)產(chǎn)品名稱iPHEMOS-TP尺寸/重量主單元:1990 mm (W)×1510 mm (D)×2090 mm (H), Approx. 1800 kg*2控制臺:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kg選配桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg*2:iPHEMOS-TP主單元重量包含一個探針或等效重量。


品牌: 北京濱松光子 型號: PHEMOS-1000 產(chǎn)地:日本 供應(yīng)商:濱松光子學(xué)商貿(mào)(中國)有限公司

微光顯微鏡PHEMOS系列PHEMOS-1000是一款標(biāo)準(zhǔn)型高分辨率微光顯微鏡,其包含了一個紅外共焦激光顯微鏡。PHEMOS-1000可根據(jù)設(shè)備環(huán)境和設(shè)備裝置來靈活改變包括插座板到300mm雙面晶片探針等等的部件。它還可以適配高靈敏度近紅外相機(jī)和高分辨率納米透鏡等選配件。該顯微鏡有多種選配,包括紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析、與大規(guī)模集成電路測試機(jī)連接和CAD導(dǎo)航功能等,這些選配有助于該顯微鏡處理多種測量需要。黑盒照明燈含水銀,請根據(jù)當(dāng)?shù)胤ㄒ?guī)處理。特性可選配適用于高分辨率、高靈敏度觀測的納米透鏡紅外共焦激光顯微鏡紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析功能(選配)低電壓樣品用高靈敏度近紅外相機(jī)(選配)數(shù)字lock-in組件加強(qiáng)紅外-光致阻值改變的檢測能力(選配)可安裝300mm雙面半自動探針顯示功能PHEMOS-1000將發(fā)光圖像疊加到高分辨率模板圖像上來快速定位缺陷點(diǎn)。對比度增強(qiáng)功能可使圖像更清晰,細(xì)節(jié)更多。顯示功能注釋圖像的任何位置都可以顯示評論、箭頭等注釋符號。比例顯示可使用分段,在圖像上顯示比例寬度。柵格顯示圖像上可現(xiàn)實(shí)水平和垂直柵格。縮略圖顯示圖像可以以縮略圖的形式存儲和調(diào)用,stage坐標(biāo)等圖像信息也可顯示。分屏顯示模板圖像、發(fā)光圖像、疊加圖像以及參考圖像可一次顯示在4個窗口的屏幕上。參數(shù)產(chǎn)品名稱PHEMOS-1000探測目標(biāo)器件發(fā)光(發(fā)光探測功能)電流改變(IR-OBIRCH功能)可用器件300 mm 晶片200 mm晶片方塊形芯片切割后晶片、封裝后器件(取決于探針和樣品固定裝置)適配探針200/300 mm晶片用雙面半自動探針*1200/300 mm晶片用雙面手動探針*1200/300 mm晶片用半自動探針(正面觀測)*1200/300 mm晶片用手動探針(正面觀測)*1尺寸/重量主單元: 1360 mm (W)×1410 mm (D)×2120 mm (H), Approx. 900 kg*2控制臺:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kgPC桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg線電壓AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗3000W真空度約80 kPa壓縮空氣約0.5 MPa~0.7 MPa*1:根據(jù)需求選購。 *2:PHEMOS主單元重量包含一個探針或等效重量。


品牌: 北京濱松光子 型號: PHEMOS-200 產(chǎn)地:日本 供應(yīng)商:濱松光子學(xué)商貿(mào)(中國)有限公司

微光顯微鏡PHEMOS系列特性軟件環(huán)境和用戶界面與高端模型一致操作簡單可安裝300 mm手動探針顯示功能PHEMOS-200將發(fā)光圖像疊加到高分辨率模板圖像上來快速定位缺陷點(diǎn)。對比度增強(qiáng)功能可使圖像更清晰,細(xì)節(jié)更多。顯示功能注釋圖像的任何位置都可以顯示評論、箭頭等注釋符號。比例顯示可使用分段,在圖像上顯示比例寬度。柵格顯示圖像上可現(xiàn)實(shí)水平和垂直柵格??s略圖顯示圖像可以以縮略圖的形式存儲和調(diào)用,stage坐標(biāo)等圖像信息也可顯示。分屏顯示模板圖像、發(fā)光圖像、疊加圖像以及參考圖像可一次顯示在4個窗口的屏幕上。參數(shù)產(chǎn)品名稱PHEMOS-200探測目標(biāo)器件發(fā)光(發(fā)光探測功能)可用器件300 mm晶片200 mm晶片方塊形芯片切割后晶片、封裝后器件(取決于探針和樣品固定裝置)適配探針200/300 mm晶片用人工探針200 mm晶片用雙面人工探針尺寸/重量主單元: 1360 mm (W)×1410 mm (D)×2120 mm (H), Approx. 900 kg*1控制臺:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kgPC桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg線電壓AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗3000W真空度約80 kPa壓縮空氣約0.5 MPa~0.7 MPa*1:PHEMOS主單元重量包含一個探針或等效重量。


品牌: 上海蒲柘光電 型號: XS-35C 產(chǎn)地:上海 供應(yīng)商:銀河晟聯(lián)(北京)科技有限公司

產(chǎn)品概述三目暗視野顯微鏡XS-35C采用了優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),配置了暗場裝置和大視野目鏡,視場大而且清晰。暗場生物顯微鏡又叫暗視野顯微鏡,暗視野顯微鏡的聚光鏡中央有當(dāng)光片,使照明光線不直接進(jìn)人物鏡,只允許被標(biāo)本反射和衍射的光線進(jìn)入物鏡,因而視野的背景是黑的,物體的邊緣是亮的。主要用來觀察和研究點(diǎn)狀、線狀的細(xì)薄結(jié)構(gòu)的微小透明體的輪廓形狀,而這透明體的形態(tài)在一般視場下觀察是很困難的??偡糯蟊稊?shù):40X -1000X◆產(chǎn)品特點(diǎn):1、采用了優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)和暗視野聚光鏡,被觀察物輪廓清晰。2、采用了可升降阿貝聚光鏡、內(nèi)置視場光欄、鏡下圖像襯度好。3、三目鏡筒可自由地切換,100%通光目視觀察與鏡下顯微攝影。4、采用符合人機(jī)工程學(xué)外觀設(shè)計(jì),鉸鏈?zhǔn)酵嗾{(diào)節(jié),性價比高?!舻湫蛻?yīng)用:1、未染色的透明樣品, 2、膠體化學(xué)領(lǐng)域中觀察溶質(zhì)粒子的布朗運(yùn)動。 3、觀察人體內(nèi)體液中的螺旋體、尿管形、結(jié)晶及細(xì)胞內(nèi)線粒體的運(yùn)動。規(guī)格參數(shù)一、顯微鏡參數(shù):序號名稱技術(shù)參數(shù)01大視野平場目鏡WF10X/Φ18mm02消色差物鏡4X/0.10、10X/0.25、40X/0.65(彈簧)、100X/1.25(油、彈簧)03總放大倍數(shù)40X-1000x04觀察頭三目,鉸鏈?zhǔn)?0°傾斜可360°旋轉(zhuǎn)05轉(zhuǎn)換器四孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)06粗微調(diào)調(diào)焦范圍20mm,微動格值:2um,粗微動同軸調(diào)焦,松緊可調(diào),帶鎖緊和限位07載物臺雙層機(jī)械移動式(尺寸:135mmX125mm, 移動范圍:75mmX35mm), 游標(biāo)格值0.1mm08機(jī)械筒長160mm 09光瞳距離55-75mm10濾色片黃、綠、藍(lán)、磨砂11暗場裝置暗場聚光鏡(40X干式)12聚光鏡阿貝聚光鏡N.A.1.25,帶可變光欄,可上下升降13照明6V20W鹵素?zé)? 亮度可調(diào)14儀器重量凈重5.0公斤  毛重6.5公斤15儀器尺寸儀器尺寸20x37X31(cm) 包裝尺寸28X40x59(cm)二、目鏡參數(shù):型號T ype放大倍率Magnification視場直徑(mm)F.O.V外徑(mm)Tube diameterWF10X/1810XΦ18Φ23.2三、物鏡參數(shù):放大倍率 Magnification數(shù)值孔徑 N.A分辨率 R(μm)工作距離WD(mm)共軛距離Conjugate(mm)齊焦距離Parfocus(mm)蓋玻片厚度CoverGlass(mm)4X0.102.7537.50195450.1710X0.251.106.54195450.1740X(s)0.650.420.63195450.17100X(s)(oil)1.250.220.20195450.17


品牌: 上海蒲柘光電 型號: XS-34C 產(chǎn)地:上海 供應(yīng)商:銀河晟聯(lián)(北京)科技有限公司

產(chǎn)品概述三目暗視野顯微鏡XS-34C采用了優(yōu)質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng),配置了暗場聚光鏡、大視野目鏡和平場物鏡,視場大而且清晰。暗場生物顯微鏡又叫暗視野顯微鏡,暗視野顯微鏡的聚光鏡中央有當(dāng)光片,使照明光線不直接進(jìn)人物鏡,只允許被標(biāo)本反射和衍射的光線進(jìn)入物鏡,因而視野的背景是黑的,物體的邊緣是亮的。主要用來觀察和研究點(diǎn)狀、線狀的細(xì)薄結(jié)構(gòu)的微小透明體的輪廓形狀,而這透明體的形態(tài)在一般視場下觀察是很困難的??偡糯蟊稊?shù):40X -1000X◆產(chǎn)品特點(diǎn):1、采用機(jī)座一體化設(shè)計(jì)及低位同軸調(diào)節(jié)手輪,操作更舒適方便。2、配置平場消色差物鏡和寬視野平場目鏡,視場大,圖像清晰。3、采用了可升降阿貝聚光鏡和暗場聚光鏡,被觀察物輪廓清晰。4、采用可升降阿貝聚光鏡、內(nèi)置光欄、柯拉照明,圖像襯度好。5、整機(jī)采用防霉處理,有效保護(hù)了鏡頭,延長了儀器使用壽命。6、三目鏡筒可自由地切換,100%通光目視觀察與鏡下顯微攝影。7、采用雙切片夾和雙層機(jī)械平臺,為鏡下顯微對比提供了方便?!舻湫蛻?yīng)用:1、未染色的透明樣品, 2、膠體化學(xué)領(lǐng)域中觀察溶質(zhì)粒子的布朗運(yùn)動,3、觀察人體內(nèi)體液中的螺旋體、尿管形、結(jié)晶及細(xì)胞內(nèi)線粒體的運(yùn)動。規(guī)格參數(shù)一、顯微鏡參數(shù):序號名稱技術(shù)參數(shù)01大視野平場目鏡WF10X/Φ20mm02平場消色差物鏡PL 4X/0.10、10X/0.25、40X/0.65(彈簧)、100X/1.25(油、彈簧)03總放大倍數(shù)40X-1000x04觀察頭三目,鉸鏈?zhǔn)?0°傾斜可360°旋轉(zhuǎn)05轉(zhuǎn)換器四孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)06粗微調(diào)調(diào)焦范圍30mm,微動格值:2um,粗微動同軸調(diào)焦,松緊可調(diào),帶鎖緊和限位07載物臺210x140mm雙層機(jī)械平臺,雙切片夾,移動范圍:70x50mm 游標(biāo)格值0.1mm08機(jī)械筒長160mm 09光瞳距離55-75mm10濾色片黃、綠、藍(lán)、磨砂11暗場裝置暗場聚光鏡(40X干式)12聚光鏡阿貝聚光鏡N.A.1.25,帶可變光欄,可上下升降13照明柯拉照明,6V 20W鹵素?zé)? 亮度可調(diào),寬電壓AC 85-265V輸入14儀器重量凈重8.0公斤  毛重9.5公斤15儀器尺寸儀器尺寸28X36X42(cm) 包裝尺寸:40x32X59(cm )二、目鏡參數(shù):型號T ype放大倍率Magnification視場直徑(mm)F.O.V外徑Tube diameterWF10X/2010XΦ20Φ23.2三、物鏡參數(shù):放大倍率 Magnification數(shù)值孔徑 N.A分辨率 R(μm)工作距離WD(mm)共軛距離Conjugate(mm)齊焦距離Parfocus(mm)蓋玻片厚度CoverGlass(mm)4X0.102.7517.90195450.1710X0.251.108.80195450.1740X(s)0.650.420.56195450.17100X(s)(oil)1.250.220.33195450.17


品牌: 上海蒲柘光電 型號: XS-33C 產(chǎn)地:上海 供應(yīng)商:銀河晟聯(lián)(北京)科技有限公司

產(chǎn)品概述科研級三目暗視野顯微鏡XS-33C采用了先進(jìn)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),配置了暗場聚光鏡、大視野目鏡和無限遠(yuǎn)平場物鏡,視場大而且清晰。暗場生物顯微鏡又叫暗視野顯微鏡,暗視野顯微鏡的聚光鏡中央有當(dāng)光片,使照明光線不直接進(jìn)人物鏡,只允許被標(biāo)本反射和衍射的光線進(jìn)入物鏡,因而視野的背景是黑的,物體的邊緣是亮的。主要用來觀察和研究點(diǎn)狀、線狀的細(xì)薄結(jié)構(gòu)的微小透明體的輪廓形狀,而這透明體的形態(tài)在一般視場下觀察是很困難的??偡糯蟊稊?shù):40X -1000X◆產(chǎn)品特點(diǎn):1、采用了最為先進(jìn)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),提供了卓越的光學(xué)性能。2、采用了可升降阿貝聚光鏡和暗場聚光鏡,被觀察物輪廓清晰。3、配置了大視野目鏡和無限遠(yuǎn)平場消色差物鏡,視場大,平坦。 4、采用機(jī)座一體化設(shè)計(jì)及低位同軸調(diào)節(jié)手輪,操作更舒適方便。5、整機(jī)采用防霉處理,有效保護(hù)了鏡頭,延長了儀器使用壽命。6、采用了柯勒照明方式。內(nèi)置視場光欄,亮度可調(diào),圖像襯度高。7、三目鏡筒可自由地推拉切換為100%通光目視觀察與顯微攝影?!舻湫蛻?yīng)用:1、未染色的透明樣品, 2、膠體化學(xué)領(lǐng)域中觀察溶質(zhì)粒子的布朗運(yùn)動。 3、觀察人體內(nèi)體液中的螺旋體、尿管形、結(jié)晶及細(xì)胞內(nèi)線粒體的運(yùn)動。規(guī)格參數(shù)一、顯微鏡參數(shù):序號名稱技術(shù)參數(shù)01大視野平場目鏡WF10X/Φ22mm02無限遠(yuǎn)平場物鏡PL 4X/0.10、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.65(彈簧)、100X/1.25(油、彈簧)03總放大倍數(shù)40X-1000x04觀察頭三目,鉸鏈?zhǔn)?0°傾斜可360°旋轉(zhuǎn)05轉(zhuǎn)換器五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)06粗微調(diào)調(diào)焦范圍30mm,微動格值:2um,粗微動同軸調(diào)焦,松緊可調(diào),帶鎖緊和限位07載物臺180mmX150mm雙層機(jī)械平臺,雙切片夾,移動范圍:75mmX50mm 游標(biāo)格值0.1mm08機(jī)械筒長160mm 09光瞳距離55-75mm10濾色片藍(lán)、磨砂11暗場裝置暗場聚光鏡(40X干式)12聚光鏡阿貝聚光鏡N.A.1.25,帶可變光欄,可上下升降13照明柯拉照明,6V 30W鹵素?zé)?3W LED光源(二選一),亮度可調(diào)寬電壓AC85-265V輸入14儀器重量凈重8.0公斤  毛重9.5公斤15儀器尺寸儀器尺寸18X25X39(cm) 包裝尺寸28X33.5X59(cm)二、目鏡參數(shù):型號T ype放大倍率Magnification視場直徑(mm)F.O.V外徑(mm)Tube diameterWF10X/2210XΦ22Φ30.0三、物鏡參數(shù):放大倍率 Magnification數(shù)值孔徑 N.A分辨率 R(μm)工作距離WD(mm)共軛距離Conjugate(mm)齊焦距離Parfocus(mm)蓋玻片厚度CoverGlass(mm)4X0.102.8021.00∞450.1710X0.251.105.00∞450.1720X0.400.708.80∞450.1740X(s)0.650.420.66∞450.17100X(s)(oil)1.250.220.36∞450.17


[公開招標(biāo)]永春縣醫(yī)院微生物分析系統(tǒng)等儀器設(shè)備采購項(xiàng)目招標(biāo)

永春縣醫(yī)院公開招標(biāo)微生物分析系統(tǒng),視野計(jì)、尿液分析儀,全自動免疫分析系統(tǒng),項(xiàng)目編號:[350525]HH[GK]2019012


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