掃描探針顯微鏡
余憶童稚時,能張目對日,明察秋毫。見藐小微物,必細察其紋理,故時有物外之趣。 《幼時記趣》 ----沈復(fù)
縱觀古今所有的發(fā)明無一不是對自然現(xiàn)象的觀察,進而觸發(fā)靈感再經(jīng)研究發(fā)展而生新事物,由此凸顯 觀察 的重要性.隨著科技的發(fā)展進入到納米世界領(lǐng)域,而 觀察 這項工作也漸漸遠超過肉眼,放大鏡,光學(xué)顯微鏡等儀器所能負荷的范圍.
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡(STM)及在掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡AFM,橫向力顯微鏡LFM,磁力顯微鏡MFM等等)的統(tǒng)稱,是國際上近年發(fā)展起來的表面分析儀器。
掃描探針顯微鏡的工作原理
就像用手指頭觸摸點字一般,當(dāng)受過訓(xùn)練的手指劃過一排盲文字體時就能讀取其中的意義,探針代替了手指,精密的移動裝置代替了手指的移動過程。原子力顯微鏡(AFM)的工作原理
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