第六屆中國二次離子質(zhì)譜會議于2016年10月8至11日由中科院分離分析重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室在中國科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所成功舉辦。

??第六屆中國二次離子質(zhì)譜會議是一個(gè)國際性的盛會。大會邀請到一共一百多名國內(nèi)外SIMS研究人員出席了會議，當(dāng)中包括上屆國際SIMS大會主席、英國國家物理實(shí)驗(yàn)室Ian Gilmore教授，美國分析化學(xué)雜志(Analytical Chemistry)副主編、瑞典歌德堡大學(xué)Andrew?Ewing教授和日本京都大學(xué)Jiro Matsuo教授等等。

會上，專家針對SIMS儀器研發(fā)、理論發(fā)展及其在不同領(lǐng)域的開拓應(yīng)用進(jìn)行了精彩的匯報(bào)?，ULVAC-PHI分析室專門室長飯?zhí)镎嬉幌壬透叩氯~上遠(yuǎn)先生有幸獲邀參會并在會上做了精彩的分享。葉上遠(yuǎn)先生的報(bào)告以“Analyzer Acceptance Angle & The Advent of 3D Chemical and Molecular Imaging by FIB-TOF Tomography”為主題；飯?zhí)镎嬉幌壬膱?bào)告主題則是“Easy Compound Identification in TOF-SIMS By using Parallel Imaging MS/MS”。

第六屆中國二次離子質(zhì)譜會議會議現(xiàn)場

高德中國區(qū)總監(jiān)葉上遠(yuǎn)正在作專業(yè)的報(bào)告

ULVAC-PHI 分析室專門室長飯?zhí)镎嬉徽谧鲗I(yè)的報(bào)告