掃描探針顯微鏡SPM （Scanning Probe Microscope）是各種新型探針顯微鏡的統(tǒng)稱(chēng)，如掃描隧道顯微鏡 STM（Scannning Tunneling Microscope），原子力顯微鏡 AFM（Atomic Force Microscope）, 磁力顯微鏡 MFM （Magnetic Force Microscope），摩擦力顯微鏡LFM （Lateral Force Microscope）及開(kāi)爾文探針力顯微鏡 KPFM （Kelvin Probe Force Microscope）等等。 SPM 作為一項(xiàng)表面分析技術(shù)，不僅可以在納米甚至原子級(jí)別分析樣品表面三維形貌（橫向分辨率 0.1 nm，縱向分辨率 0.01 nm），還可以表征多種物理性質(zhì)，如粘彈性，摩擦力，電學(xué)及磁學(xué)性質(zhì)等等。除了卓越的形貌分辨率及多功能化外，SPM 還可以在多樣的環(huán)境中表征，如真空環(huán)境，大氣環(huán)境，液態(tài)環(huán)境甚至低溫，常溫及高溫環(huán)境下，均可運(yùn)行。因此，SPM 被廣泛應(yīng)用于物理，化學(xué)，材料，微電子，生物及醫(yī)藥等等科學(xué)領(lǐng)域的研究。

島津公司作為世界著名的分析儀器廠(chǎng)商，在 SPM 研究開(kāi)發(fā)領(lǐng)域，不斷精益求精，銳意進(jìn)取。從 SPM9500，SPM9600，SPM9700 到 SPM-8100FM，取得了極大的突破。最新的 SPM-8000FM 采用反饋更迅速的調(diào)頻模式，極大地提高了SPM 在大氣環(huán)境和液體環(huán)境的分辨率。為了更好地服務(wù)于島津掃描探針顯微鏡 SPM 客戶(hù)，我們匯總了各個(gè)學(xué)科領(lǐng)域的研究應(yīng)用，以供閱讀。

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