自從電荷耦合器件（ccd，charge-coupled device）在大名鼎鼎的貝爾實驗室發(fā)明儀器，其技術突飛猛進，在航空航天、醫(yī)療和工業(yè)等方面得到了廣泛應用。特別在新型的aes光譜儀中，ccd就像眼睛一樣，感知樣品激發(fā)的等離子體發(fā)出的光。在微光應用方面，科學級ccd已經(jīng)能打到探測到幾個光子的水平，如果ccd能夠準確的將光子信號轉換為電荷信號，那新型的ccd光譜儀的檢測極限將大大提高，但是實際情況中，這些微弱的光子信號產(chǎn)生的電荷信息，被ccd產(chǎn)生的暗電流淹沒。

暗電流（dark current）， 也稱無照電流，指在沒有光照射的狀態(tài)下,在光導電元件、光電管等的受光元件中流動的電流。它包括晶體材料表面缺陷形成的泄漏電流和載流子熱擴散形成的本征暗電流。現(xiàn)代科學研究主要兩個方向去解決，一個是提升材料性能，一個是降低ccd的工作溫度。

暗電流的大小與溫度的關系極為密切,溫度每降低10℃,暗電流約減小一半。越小的暗電流，同等條件下，光譜的檢測下限越好。

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