馬爾文帕納科公布了其新款的Zetasizer? Pro和Ultra納米粒度電位儀,旨在當用戶進行產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制相關(guān)的關(guān)鍵分析流程時,增加其決策的信心。新產(chǎn)品基于市場領(lǐng)先并廣泛使用的Zetasizer Nano系列,通過使用動態(tài)光散射和電泳光散射技術(shù),在顆粒尺寸、分子大小和Zeta電位的測試質(zhì)量與速度上有顯著的提升,并獲得了2018年紅點設(shè)計獎。
馬爾文帕納科公司的納米材料產(chǎn)品經(jīng)理Darrell Bancarz談到:“Zetasizer Pro/Ultra的設(shè)計基于對于客戶需求的深度理解、大量研究以及測試心得,從而使我們開發(fā)出這一更智能、更直觀的光散射測量儀器。我們加入了新的功能,在提供更穩(wěn)定、可靠的結(jié)果的同時,可將樣品制備和測量的時間減半。這一革新性測試方法的應用,擴展了人們對材料的理解,使得產(chǎn)品和工藝真正地得到優(yōu)化。”
Pavel Abdulkin,生產(chǎn)高品質(zhì)微、納米顆粒的黑石控股有限公司粉體顆粒工廠主管,非常清楚這一新技術(shù)對他工作產(chǎn)生的影響。他說道:“馬爾文帕納科Zetasizer Ultra顯著地增加了我們的樣品處理通量,使我們研發(fā)周期從12個月縮短至1個月?!?p>馬爾文帕納科Zetasizer Pro/Ultra系統(tǒng)的ZS Xplorer軟件,引入了新的樣品中心流程概念,使得其方法設(shè)計和數(shù)據(jù)分析對新用戶而言更為直接,同時保留了完整的對于光散射法應用的用戶體驗。新的分析功能首次回應了使用動態(tài)光散射法表征微粒和分子過程中存在的塵?;驁F聚這一關(guān)鍵問題,通過從結(jié)果中濾除這些雜質(zhì)的曲線來得到一個更真實的樣品信息。通過集成的、深度學習的、授權(quán)的數(shù)據(jù)質(zhì)量指導的支持,為用戶測量結(jié)果提供即時反饋,以及對于低質(zhì)量數(shù)據(jù)的改進提供可操作的建議。
馬爾文帕納科Zetasizer Ultra另一個與眾不同之處是其專利的多角度動態(tài)光散射(MADLS?)技術(shù),可以自動通過多角度進行檢測,為待測樣品提供了更高的分辨率和更完整的粒徑分布信息。MADLS還可以分析不同粒徑范圍的顆粒濃度,可對大部分材料可進行無需校準的濃度分析。新的可拋棄性毛細管粒徑檢測池實現(xiàn)了無損檢測,將低容量(3微升)分析的粒度上限擴展到了10微米,在降低成本的同時還可提高數(shù)據(jù)質(zhì)量。通過這些獨特而強大的功能,Zetasizer Ultra的速度和易用性是卓越超群的,使其成為目前業(yè)內(nèi)最先進的光散射系統(tǒng)。
馬爾文帕納科Zetasizer納米粒度電位儀系列產(chǎn)品在世界范圍內(nèi)的多種工業(yè)領(lǐng)域中有所應用,能為流程控制與優(yōu)化,產(chǎn)品質(zhì)量、穩(wěn)定性及性能的改進增值。它們在學術(shù)領(lǐng)域的使用十分普遍,并在許多應用領(lǐng)域中都是不可或缺的,同時還被數(shù)以萬計的業(yè)內(nèi)刊物中發(fā)表的文章所引用。
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