儀器信息網(wǎng)訊 2018年9月5日，日本最大規(guī)模的分析儀器展JASIS ?2018在東京幕張國際展覽中心盛大開幕，吸引來自全球各地的萬余名觀眾參觀出席。

　　作為國際知名電子束曝光系統(tǒng)(EBL)生產(chǎn)商，Elionix在展會期間帶來其納米壓痕儀新品——ENT-NEXUS。

ELIONIX公司納米壓痕儀

????? Erionix新的ENT系列，ENT-NEXUS上市，采用允許自由組合框架和單元的模塊配置，可以進(jìn)行各種測量，例如納米壓痕測試和表面力測量。(最多兩種類型的可安裝單元)

　　產(chǎn)品特點(diǎn)包括：高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性，實現(xiàn)了高穩(wěn)定性S/ N系統(tǒng)，即使在超小負(fù)載范圍內(nèi)也可以進(jìn)行具有良好再現(xiàn)性的測試;測量環(huán)境管理組織，在納米壓痕測試中，由于樣品本身和樣品本身的溫度變化引起的熱漂移是一個嚴(yán)重的問題，為了最大限度地減少由于熱漂移對測量的影響，屏蔽罩內(nèi)的溫度控制在±0.1°C;高性能防振臺安裝，主動控制的高性能防振臺是標(biāo)準(zhǔn)配置;出色的可操作性，采用易于操作的軟件，因為只需設(shè)置測試條件即可實現(xiàn)全自動測量，即使是初學(xué)者也可輕松操作而不會出現(xiàn)人為錯;突破模塊配置等。

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