用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410

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高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型，可方便地進行現(xiàn)場工作，并且只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。使用近紅外線作為光源，并測量了1000的光澤度（鏡面反射率100％）。

無需預熱。對于需要高表面光澤度的產(chǎn)品（例如用于汽車前燈的照明反光器，用于復印機的反光器和硅片）的質(zhì)量控制而言，它是理想的選擇。特征甚至在金屬等高光澤區(qū)域
也可以量化 模糊度  IG-410可以測量金屬等高光澤區(qū)域，是光澤度檢查儀IG系列的新產(chǎn)品。測量范圍是0到100，是傳統(tǒng)型號的10倍。也可以測量鏡面樣品。緊湊輕巧的設計，易于現(xiàn)場測量
重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產(chǎn)現(xiàn)場以方便測量。
由于將LED用作光源，因此無需擔心光源的壽命?？梢酝ㄟ^
在2個范圍之間切換來測量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
IG-410不僅可以測量高光澤度金屬，還可以測量低光澤度區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品。應用實例用于檢查金屬產(chǎn)品表面狀況的光潔度用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀用于檢查硅片的表面光潔度

*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點必須平坦。規(guī)范

光學系統(tǒng)

入射角60 -接收角60

測量面積

3 x 6毫米橢圓

光源

LED（波長890nm）

受光部

SPD（硅光電二極管）

測量范圍
（顯示分辨率）

100范圍：
0.00至10.0（顯示分辨率0.1）1000范圍：0至100（顯示分辨率1）

重復性

滿量程的 1％

電源供應

AA干電池x 4

電池壽命

200小時以上（使用堿性干電池）

工作溫度極限

10-40℃

尺寸

機身：75W x 34D x 140H mm
傳感器：30W x 45D x 88H mm

大眾

約350g（帶內(nèi)置電池）

其他功能

自動校準，自動關機
范圍切換顯示（100/1000）超范圍
顯示，電池電量顯示
測量值保持
校準值設置

配件

用于100和1000量程的校準標準板