等離子體發(fā)生器的長(zhǎng)期穩(wěn)定性是無(wú)故障用戶體驗(yàn)的一個(gè)重要部分。射頻發(fā)生器插件板屬于水冷型，可延長(zhǎng)使用壽命。另外，作為射頻電路系統(tǒng)的一個(gè)組成部分，所提供的一整套電子產(chǎn)品可以保護(hù)功率晶體管，有助于長(zhǎng)期穩(wěn)定性。專為 NexION 2000 系統(tǒng)設(shè)計(jì)的射頻發(fā)生器電路系統(tǒng)同時(shí)使用寬頻帶和窄頻帶電路技巧，從而保護(hù)晶體管不受快速電壓瞬變和電壓擊穿的影響。

功率晶體管之間的功率和電流失配是任何等離子體射頻發(fā)生器都需要避免的結(jié)果。當(dāng)其中一個(gè)晶體管驅(qū)動(dòng)過(guò)猛，運(yùn)行溫度高于另一個(gè)晶體管時(shí)這個(gè)問(wèn)題就會(huì)出現(xiàn)，對(duì)晶體管的可靠性造成負(fù)面影響。這類(lèi)問(wèn)題一般源于裝置增益、輸出負(fù)載或輸入驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度的失配，這些都會(huì)導(dǎo)致晶體管的功率載荷不均。由于失配有很多種起因，所以解決這類(lèi)問(wèn)題不能光靠解決一條電路。因此我們的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)通過(guò)嚴(yán)格的設(shè)計(jì)和測(cè)試方法確?？刂?NexION 2000 射頻等離子體發(fā)生器載荷兩個(gè)功率晶體管的電流，使兩者幾近相同，保持平衡。這就是對(duì)稱均衡微分射頻等離子體發(fā)生器的特點(diǎn)；其優(yōu)點(diǎn)不僅是減小等離子體電勢(shì)，還能增加等離子體發(fā)生器的 MTBF（平均故障間隔時(shí)間）

NexION 2000 ICP-MS 的等離子體發(fā)生器配備了一個(gè)裝有內(nèi)置固件的 32b 微控制器（MCU）。MCU 執(zhí)行數(shù)字控制回路，監(jiān)測(cè)和管理等離子體的操作條件。它確保晶體管在工作電壓和電流下運(yùn)行，從而使出錯(cuò)的余地大化，避免同時(shí)發(fā)生電壓擊穿和電流故障。一個(gè)全新的特征是 MCU 可以在正常操作時(shí)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)功率晶體管的健康狀態(tài)。當(dāng) MCU 檢測(cè)出晶體管即將崩潰或故障剛剛發(fā)生時(shí)，MCU 會(huì)自動(dòng)采取相應(yīng)的措施并關(guān)閉等離子體發(fā)生器，從而避免部件被損壞。這個(gè)特征有助于延長(zhǎng)功率晶體管的使用壽命。在操作過(guò)程中，MCU 還提供了一整套診斷信息，并通過(guò) Syngistix ICP-MS 軟件與用戶分享該信息。