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Signatone四點(diǎn)樣品與導(dǎo)電性次測(cè)試的設(shè)備QuadPro Resistivity Wafer Mapping Control

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放大字體  縮小字體    發(fā)布日期:2021-01-27  來(lái)源:儀器網(wǎng)  作者:Mr liao  瀏覽次數(shù):54
核心提示:Signatone四點(diǎn)探針與電阻率測(cè)試設(shè)備    Signatone 公司生產(chǎn)制造的QuadPro 制程發(fā)展電阻率測(cè)量系統(tǒng)包含了手動(dòng)和自動(dòng)的測(cè)量系統(tǒng)。手動(dòng)系統(tǒng)包含一個(gè)滾珠軸承的四點(diǎn)探針機(jī)臺(tái),為因應(yīng)使用的需要,手動(dòng)機(jī)臺(tái)往后

Signatone四點(diǎn)探針與電阻率測(cè)試設(shè)備

    Signatone 公司生產(chǎn)制造的QuadPro 制程發(fā)展電阻率測(cè)量系統(tǒng)包含了手動(dòng)和自動(dòng)的測(cè)量系統(tǒng)。手動(dòng)系統(tǒng)包含一個(gè)滾珠軸承的四點(diǎn)探針機(jī)臺(tái),為因應(yīng)使用的需要,手動(dòng)機(jī)臺(tái)往后可以升級(jí)增加自動(dòng)機(jī)臺(tái)的功能.自動(dòng)機(jī)臺(tái)系統(tǒng)是由計(jì)算機(jī)控制馬達(dá)帶動(dòng)的,在測(cè)量100毫米、125 毫米、150 毫米、200 毫米、300 毫米的待測(cè)樣品時(shí),可設(shè)定自動(dòng)測(cè)量9、25、49、或121 個(gè)測(cè)試點(diǎn).系統(tǒng)使用四點(diǎn)探針,雙架構(gòu)測(cè)試方式,并整合了目前最佳的測(cè)量?jī)x表可達(dá)到在1mΩ/□至2MΩ/□間小于1% 的誤差.系統(tǒng)的準(zhǔn)確度(Accuracy)與校準(zhǔn)(Calibration)可追朔至美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局(NIST)。

其它特點(diǎn):

平均電阻率(Resitivity)、電阻率標(biāo)準(zhǔn)差(Standard Deviation)、平均片電阻(Sheet Resistance)、片電阻標(biāo)準(zhǔn)差

電阻溫度系數(shù)(TCR, Temperature Coefficient of Resistance)

使用自動(dòng)溫度控制器與溫控待測(cè)樣品載臺(tái)(選用)及儀表測(cè)量電阻溫度系數(shù)

測(cè)量結(jié)果可以用二維(2D)或三維(3D)方式圖形表示

采用雙架構(gòu)測(cè)試方式(Dual Configuration)以達(dá)到最佳的系統(tǒng)準(zhǔn)確性(Accuracy)與重復(fù)性(Repeatability)

待測(cè)樣品大小可由10 毫米到300 毫米

在每個(gè)待測(cè)樣品可上可自動(dòng)測(cè)量高達(dá)49個(gè)可追朔至美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局的測(cè)試點(diǎn)

QuadPro Automatic System (自動(dòng)系統(tǒng))

自動(dòng)的QuadPro 系統(tǒng)包括計(jì)算器、歩進(jìn)馬達(dá)控制單元、機(jī)臺(tái)本體、200 毫米或者300 毫米隔離的待測(cè)樣品載臺(tái)(Isolated Chuck)。

系統(tǒng)軟件的設(shè)計(jì)讓使用者可針對(duì)測(cè)量需求選擇在每個(gè)待測(cè)樣品上測(cè)量1、5、9、25 或者49 個(gè)自動(dòng)測(cè)試點(diǎn),并可自動(dòng)繪圖顯示測(cè)量結(jié)果。使用者并可設(shè)定測(cè)試點(diǎn)在待測(cè)樣品上的分布為方型或圓性。

為提升測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性與統(tǒng)計(jì)的有效性,軟件可定義待測(cè)樣品邊緣的測(cè)量數(shù)據(jù)是否被采用。

在測(cè)量開(kāi)始時(shí),系統(tǒng)軟件自動(dòng)搜集阻值范圍,并據(jù)以作最佳的儀表設(shè)定。系統(tǒng)采用的雙架構(gòu)測(cè)試方式可消除因四點(diǎn)探針頭結(jié)構(gòu)誤差所產(chǎn)生的測(cè)量誤差,以提升系統(tǒng)測(cè)量的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。

系統(tǒng)軟件會(huì)控制并紀(jì)錄每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置與測(cè)量值,測(cè)量的結(jié)果如片電阻、電阻率和V /I(電壓/電流)可在同一個(gè)測(cè)量結(jié)果的表格中表示。

在完成全部測(cè)試點(diǎn)測(cè)量時(shí),系統(tǒng)會(huì)用等高線圖展示測(cè)量結(jié)果,此等高線圖可在二維圖與三維圖間輕易的切換觀看.

電阻率與片電阻的平均值及標(biāo)準(zhǔn)差都會(huì)顯示在等高線圖上

 

 

QuadPro TCR Option (電阻溫度系數(shù)測(cè)量選用項(xiàng))

電阻溫度系數(shù)量測(cè)選用項(xiàng)整合了待測(cè)樣品溫度控制、儀表控制與溫度系數(shù)運(yùn)算的能力以完成電阻溫度系數(shù)量測(cè)的功能。

Signatone 提供了多種溫度范圍的溫控待測(cè)樣品載臺(tái)系統(tǒng)供使用者選用。使用者可依測(cè)量需要設(shè)定開(kāi)始溫度、截止溫度與在每個(gè)溫度點(diǎn)停留多少時(shí)間后在開(kāi)始量測(cè)。

溫度與量測(cè)得到的電阻值會(huì)存在同一個(gè)表格或圖表內(nèi),以方便后續(xù)的分析使用。

一般最常被采用的溫控待測(cè)樣品載臺(tái)系統(tǒng)為室溫至350°C。但是除了350°C 溫控待測(cè)樣品載臺(tái)系統(tǒng)之外,Signatone 也提供低至-55°C 與高至600°C 的溫控待測(cè)樣品載臺(tái)系統(tǒng)。


一般QuadPro 的系統(tǒng)架構(gòu)包括一臺(tái)吉時(shí)利(Keithley)的2400 儀表(Source Measurement Meter)。吉時(shí)利2400 可測(cè)量的電阻范圍為1mΩ至2MΩ。若使用者要測(cè)量更高電阻的材料,QuadPro 的系統(tǒng)架構(gòu)將包括安捷倫(Agilent)的4156 參數(shù)分析儀,并采用隔離式的三軸系統(tǒng)架構(gòu),如此架構(gòu)的QuodPro 系統(tǒng)的電阻測(cè)量范圍為100mΩ 至10GΩ。

為達(dá)到最佳的量測(cè)準(zhǔn)確度,QuadPro 采用了美國(guó)ASTM 標(biāo)準(zhǔn)F84-99 測(cè)試方法的雙架構(gòu)測(cè)試方式以補(bǔ)償因?yàn)樗狞c(diǎn)探針頭間距可能不精確或量測(cè)接近導(dǎo)電層邊緣而造成的量測(cè)誤差.Signatone 同時(shí)也提供準(zhǔn)確度可追朔至美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局(NIST)的校準(zhǔn)片,適當(dāng)?shù)氖褂眯?zhǔn)片和QuadPro 提供的校準(zhǔn)程序,可確保系統(tǒng)的準(zhǔn)確性優(yōu)于1%.

Four Point Probe Head (四點(diǎn)探針頭)

Signatone 提供了兩大系列的四點(diǎn)探針頭供使用者選用;SP4 系列和HT4

系列.SP4 系列四點(diǎn)探針頭是被大多數(shù)應(yīng)用所采用的四點(diǎn)探針頭,它是由直線排列的塑鋼探針?biāo)M成.SP4 系列四點(diǎn)探針頭提供了下列選項(xiàng)以適應(yīng)各種應(yīng)用:

探針間距:0.040、0.050、0.0625 英寸

探針針壓:45、85、180 克

探針材質(zhì):碳化鎢(Tungsten Carbide)、鋨(Osmium)

探針半徑:0.0016、0.005、0.010 英寸

HT4 系列四點(diǎn)探針頭表面看起來(lái)與SP4 系列四點(diǎn)探針頭類似,但是HT4系列四點(diǎn)探針頭適用陶瓷做的,故適用于高溫與高電阻的測(cè)量,HT4 系列四點(diǎn)探針頭可工作至650oC,而且HT4 系列四點(diǎn)探針頭的耐高溫同軸接線設(shè)計(jì)使其可測(cè)量的電阻值高達(dá)10GΩ.

探針間距:0.050、0.0625 英寸

探針針壓:180 克

探針材質(zhì):碳化鎢(Tungsten Carbide)、鋨(Osmium)

探針半徑:0.0016、0.005、0.010 英寸

QuadPro Test & Calibration (測(cè)試與校準(zhǔn))

Pro4-440N configuration (系統(tǒng)架構(gòu))電壓與電流(V/I)的量測(cè)結(jié)果會(huì)記錄在軟件內(nèi).系統(tǒng)采用了美國(guó)ASTM 標(biāo)準(zhǔn)F84-99 測(cè)試方法的雙架構(gòu)測(cè)試方式以補(bǔ)償因?yàn)樗狞c(diǎn)探針頭間距可能不精確或量測(cè)接近導(dǎo)電層邊緣而造成的量測(cè)誤差.Signatone 同時(shí)也提供準(zhǔn)確度可追朔至美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局(NIST)的校準(zhǔn)片,適當(dāng)?shù)氖褂眯?zhǔn)片和QuadPro 提供的校準(zhǔn)程序,可確保系統(tǒng)的準(zhǔn)確性優(yōu)于1%.Pro4-440N 系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)范圍是1mΩ/□至800KΩ/□.

Pro4 Manual Four-Point Probe with Computerized Measurement System

(Pro4 手動(dòng)四點(diǎn)探針臺(tái)與測(cè)量軟件)

Signatone 自1968 年就已經(jīng)開(kāi)始提供業(yè)界四點(diǎn)探針電阻率量測(cè)系統(tǒng),其中的Pro4 系列手動(dòng)四點(diǎn)探針臺(tái)提供了簡(jiǎn)易且方便量測(cè)片電阻率(Sheet Resistivity)與體電阻率(Bulk Resistivity)的有效方法。使用者只要手動(dòng)下針并操作軟件上的量測(cè)按鍵,軟件會(huì)自動(dòng)控制吉時(shí)利儀表做最佳的電流設(shè)定并得到準(zhǔn)確的量測(cè)。

Pro4-440N configuration (系統(tǒng)架構(gòu))電壓與電流(V/I)的量測(cè)結(jié)果會(huì)記錄在軟件內(nèi).系統(tǒng)采用了美國(guó)ASTM 標(biāo)準(zhǔn)F84-99 測(cè)試方法的雙架構(gòu)測(cè)試方式以補(bǔ)償因?yàn)樗狞c(diǎn)探針頭間距可能不精確或量測(cè)接近導(dǎo)電層邊緣而造成的量測(cè)誤差.Signatone 同時(shí)也提供準(zhǔn)確度可追朔至美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局(NIST)的校準(zhǔn)片,適當(dāng)?shù)氖褂眯?zhǔn)片和QuadPro 提供的校準(zhǔn)程序,可確保系統(tǒng)的準(zhǔn)確性優(yōu)于1%.Pro4-440N 系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)范圍是1mΩ/□至800KΩ/□.

Pro4 Software (軟件)使用者只需輸入待測(cè)樣品的大小、形狀、待測(cè)樣品邊緣不包括部分的大小與測(cè)量點(diǎn)數(shù),Pro4 軟件會(huì)控制系統(tǒng)的測(cè)量、測(cè)量資料的擷取、顯示、打印與資料的輸出(Export),使用者可設(shè)定要顯示的參數(shù)(如電阻、片電阻或電壓/電流),也可以定義良品/不良品(Pass/Fail)的條件.測(cè)量點(diǎn)會(huì)在軟件上以圖樣標(biāo)示出來(lái),同時(shí)提醒使用者將探針移至待測(cè)點(diǎn).測(cè)量結(jié)束,測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、最大值與最小值會(huì)被標(biāo)示出來(lái),同時(shí)可打印測(cè)量數(shù)據(jù)含良品/不良品的報(bào)表.

Pro4-4400 configuration (系統(tǒng)架構(gòu))

 

Pro4-4400 系統(tǒng)與Pro4-440N 相同,但是不含計(jì)算器.使用者需自備計(jì)算器,計(jì)算器需含窗口軟件與一個(gè)RS-232 接口.Pro4 用于測(cè)量芯片或其它材料的電阻率或片電阻. Pro4 使用雙架構(gòu)測(cè)試方式和自動(dòng)設(shè)定儀表以保證測(cè)量的準(zhǔn)確性.系統(tǒng)包括手動(dòng)四點(diǎn)探針臺(tái)、二個(gè)四點(diǎn)探針頭、吉時(shí)利儀表(Keithley 2400)與軟件.

 

Pro4-4000 configuration (系統(tǒng)架構(gòu))

 

Pro4-4000 不包括計(jì)算器與儀表,但是包含軟件.使用者需自備計(jì)算器與吉時(shí)利儀表(Keithley 2400)系統(tǒng)包括手動(dòng)四點(diǎn)探針臺(tái)、二個(gè)四點(diǎn)探針頭與軟件.

Manual Four-Point Probes (手動(dòng)四點(diǎn)探針臺(tái))

Signatone 生產(chǎn)各式電阻率測(cè)量設(shè)備,包括簡(jiǎn)易型四點(diǎn)探針臺(tái)與四點(diǎn)探針頭.

 S-302-4

右圖是四吋的四點(diǎn)探針臺(tái),可測(cè)量大至四吋的芯片,含四吋鐵氟龍(Teflon)待測(cè)樣品載臺(tái)。四點(diǎn)探針臺(tái)也有6 、8”與12”的.

 

 

Four Point Probe Heads (四點(diǎn)探針頭)

除了四點(diǎn)探針臺(tái)之外,Signatone 也生產(chǎn)四點(diǎn)探針頭。

SP4 系列四點(diǎn)探針頭是設(shè)計(jì)給在室溫使用的。

HT4 系列四點(diǎn)探針頭是設(shè)計(jì)給在高溫使用的。

一般四點(diǎn)探針頭是由四支直線排列的探針組成,但是Signatone 也提供不同排列方式的訂制探針頭,例如四支針成矩形排列.



Signatone四點(diǎn)探針與電阻率測(cè)試設(shè)備信息由上海尖豐光電技術(shù)有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于Signatone四點(diǎn)探針與電阻率測(cè)試設(shè)備報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來(lái)電或留言咨詢。

注:對(duì)于醫(yī)療器械類產(chǎn)品,請(qǐng)先查證核實(shí)企業(yè)經(jīng)營(yíng)資質(zhì)和醫(yī)療器械產(chǎn)品注冊(cè)證情況

 
 
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