介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GCSTD-A/B
技術規(guī)格：

極寬的溫度范圍：室溫~1000℃，

多種型號選擇： 

室溫~500℃， 

室溫~800℃， 

室溫~1000℃

介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GCSTD-A/B

極高的測量精度±0.1℃；

精確控溫±1℃；

升溫斜率：3°C /min (典型值)

測量頻率：20Hz---20MHz

測量精度：0.05%

①電橋法：將被測件接在電橋的測量臂上，根據(jù)接入前后電橋平衡時電容和電阻（或相移和衰減）的變化量可以算出ε′和tanδ,這種方法可用于10～10赫的頻率范圍，并適于測量損耗較大的電介質(zhì)。

②傳輸線法：將被測件與測量線終端的短路波導或同軸線相連接，通過測量接入前后駐波節(jié)點位置和駐波系數(shù)的變化量可以算出ε′和tanδ。這種方法可用于10～10赫的頻率范圍，適于測量損耗量中的電介質(zhì)。

③諧振法：將被測件接在諧振回路（或諧振腔）中，通過測量接入前后回路電容和Q值（或腔長和Q值）的變化量可以算出ε′和tanδ。這種方法可用于10～10赫的頻率范圍，適于測量損耗較小的電介質(zhì)。GCSTD-A/B

寬帶法包括階躍法和時域法。利用電介質(zhì)對階躍波（或電脈沖）的響應，即電介質(zhì)的電特性與頻域散射參數(shù)S(ω)的關系，通過時域測量和傅里葉變換求出在不同頻率下的ε′和tanδ。這種方法可用于10～10赫的頻率范圍。

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

二、方法概述介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GCSTD-A/B

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至最低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

三、主要用途:介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GCSTD-A/B

 主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）

四、應用對象:介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GCSTD-A/B

 該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

五、技術指標:

功能名稱：

GCSTD-A

GCSTD-AI

GCSTD-B

信號源范圍DDS數(shù)字合成信號

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

100KHZ-160MHz

信號源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

信號源頻率精度 6位有效數(shù)

3×10-5 ±1個字 

3×10-5 ±1個字 

3×10-5 ±1個字 

Q測量范圍

1-1000自動/手動量程

1-1000自動/手動量程

1-1000自動/手動量程

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

4位有效數(shù),分辨率0.1

4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測量工作誤差

5%

5%

5%

電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H  分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

電感測量誤差

5%

5%

5%

調(diào)諧電容

主電容30-540pF

主電容30-540pF

主電容17-240pF

電容直接測量范圍

1pF～2.5uF

1pF～2.5uF

1pF～25nF

調(diào)諧電容誤差

分辨率

±1 pF或 1%

0.1pF

±1 pF或 1%

0.1pF

±1 pF或 1%

0.1pF

諧振點搜索

自動掃描

自動掃描

自動掃描

Q合格預置范圍 

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

Q量程切換

自動/手動

自動/手動

自動/手動

LCD顯示參數(shù)

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

F，L，C，Q，Lt，Ct波段等

自身殘余電感和測試引線電感的
自動扣除功能(獨創(chuàng))

有

有

有

大電容值直接測量顯示功能(獨創(chuàng))

測量值可達2.5uF

測量值可達2.5uF

測量值可達25nF

介質(zhì)損耗系數(shù)

精度 萬分之五

精度 萬分之五

精度 萬分之五

 備注說明:

 三種不同型號的儀器,主要區(qū)別是頻率不同,根據(jù)自己測試頻率,選擇合適的型號

六、電極規(guī)格介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GCSTD-A/B

 固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm  

液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

 試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

七、產(chǎn)品配置：介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GCSTD-A/B

 1、測試主機：一臺

 2、測試電感：9個

 3、測試夾具：1套（標配固體測試夾具一套）

八、其它規(guī)格：

 1、 環(huán)境溫度：0℃～+40℃； 

2、相對濕度： 80％； 

3、電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

 4、消耗功率：約25W； 

 5、凈重：約7kg； 

6、外型尺寸：（長寬高）：380×280×132（mm）

九：9個電感規(guī)格：介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀GCSTD-A/B

電感No

電感量

準確度%

Q值≥

分布電容約略值

諧振頻率范圍 MHz

適合介電常數(shù)測試頻率

GCSTD/A/AI

GCSTD-B

1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

警告——本試驗執(zhí)行期間，致命電壓是一種潛在的危險。所有試驗裝置及電連接到其上的所有相關設備需進行適當?shù)脑O計和安裝以便能安全運行，這是非常重要的。試驗期間個人可能接觸的所有導電連接進行牢固接地。GCSTD-A/B

   在執(zhí)行任何試驗時，提供方式來對試驗期間處于高電壓的所有零件進行接地，或者對試驗期間獲得一個感應電荷而具有電位的所有零件進行接地，或者對甚至在電壓源斷開之后還保持帶電荷而具有電位的所有零件進行接地。認真指導所有操作者，以使得其能采用正確的程序來安全執(zhí)行試驗。

   當執(zhí)行高電壓試驗時，特別是在壓縮氣體或在油中測試時，在擊穿時釋放的能量可能足夠?qū)е略囼炏浒l(fā)生火災，爆炸，或者破裂。設計試驗設備，試驗箱和試驗樣本，以使得這類情況的發(fā)生可能性降至較小，同時排除人身傷害的可能性。如果存在火災風險，則需配置滅火設備。

   介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀注2：將樣本連接到測量電路所用的方法是非常重要的，特別是對于兩終端測量。對于平行替代測量，試驗方法D150先前推薦的臨界間距連接方法可導致0.5pF的負誤差。當兩終端樣本作為一個保護在一個試驗池中進行測量時，可產(chǎn)生一個類似的誤差。因為目前已知沒有方法能用于評估該誤差，當必須避免該數(shù)值的誤差時，必須使用一種替代方法，也就是說，使用測微計電極，液體浸泡池，或者帶受保護導線的三終端樣本。GCSTD-A/B

   介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀注3：為獲得電容和耗散因子而執(zhí)行的測量細節(jié)說明以及由于測量電路而執(zhí)行的任何必要的修正細節(jié)說明見商用設備提供的說明書所述。以下章節(jié)擬用于提供所需的補充說明。

   10.2.2 固定電極——準確地調(diào)節(jié)板間距至一個適合被測樣本的值。特別對于低損耗材料，板間距和樣本厚度應使得樣本將占據(jù)不少于大約80%的電極間隙。對于在空氣中的試驗，不建議板間距小于大約0.1mm。GCSTD-A/B

   當電極間距沒有調(diào)節(jié)到一個合適值時，必須制備具有合適厚度的樣本。測量試驗池的電容和耗散因子，然后嵌入樣本，同時使得樣本位于測微計電極的電極或試驗池之間的中心位置。重復測量。為獲得較大的精度，如果可以使用測量設備，直接測定△C和△D。記錄試驗溫度。

   介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀背景技術：

中國專利展示了一種介電常數(shù)測量裝置（專利號為：201310276389.8，授權公開號為：CN103308778A），包括槽線結構，所述槽線結構兩端設置有信號接口，用于連接測試儀器和傳輸測試信號，槽線結構中設置有孔洞，孔洞位于槽線中，用于放置盛裝被測材料的容器，測量時將被測介質(zhì)放入容器中，相當于在槽線結構中嵌入被測介質(zhì)，利用被測介質(zhì)對微波傳輸特性的影響，通過分析放入被測介質(zhì)前后的傳輸特性，得到被測介質(zhì)的介電常數(shù)。GCSTD-A/B

   為了使嵌入的被測介質(zhì)能夠?qū)Σ劬€結構的傳輸特性產(chǎn)生實質(zhì)性影響，提高分析測試的精確度，孔洞的大小應使放置的容器具有足夠大的容積，其盛裝的被測材料能夠充分影響槽線結構的傳輸特性，但這種結構孔洞尺寸不能太大，以至于破壞了槽線結構的微帶傳輸線特性，影響測試結果。

介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀信息由北京冠測精電儀器設備有限公司為您提供，如您想了解更多關于介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀報價、型號、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：對于醫(yī)療器械類產(chǎn)品，請先查證核實企業(yè)經(jīng)營資質(zhì)和醫(yī)療器械產(chǎn)品注冊證情況