橡膠粒子的粒徑及添加量直接影響著HIPS的性能,那如何才能直觀獲得橡膠粒子的在聚苯乙烯中的分散結(jié)果呢?
本文使用冷凍超薄切片機,把HIPS在-120℃下切成80-100nm薄片直接轉(zhuǎn)移至銅網(wǎng)上,經(jīng)過四氧化鋨染色,并利用蔡司Sigma 500場發(fā)射電子顯微鏡中掃描透射模式(Scanning transmission electron microscopy,STEM)實現(xiàn)橡膠粒子在聚苯乙烯中分散結(jié)果的觀察。
圖1 蔡司Sigma 500場發(fā)射掃描電子顯微鏡
掃透成像原理是在掃描電鏡中,當(dāng)電子束與薄樣品相互作用時,會有一部分電子透過樣品,這一部分透射電子也可用來成像,其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。掃描電鏡的STEM圖像與透射電鏡類似,也分為明場像(bright field,BF)和暗場像(dark field,DF)。
應(yīng)用掃透模式可得到物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,使其既有掃描電鏡的功能,又具備透射電鏡的功能。同時,與透射電鏡相比,由于其加速電壓低,可顯著減少電子束對樣品的損傷,而且可大大提高圖像的襯度,特別適合于有機高分子等軟材料樣品的透射分析。透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV),對于有機高分子等軟材料樣品的穿透能力強,形成的透射像襯度低,而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV),因此應(yīng)用其STEM模式成透射像,可大大提高像的襯度。在用透射電鏡觀察其分相結(jié)構(gòu)時,由于兩部分襯度都低,幾乎無法區(qū)分,而應(yīng)用掃描電鏡的STEM模式觀察時,可清楚地觀察到兩相的結(jié)構(gòu)。
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圖2 STEM圖片:(a)明場20k;(b)暗場20k;(c)明場40k;(d)暗場40k;
本文實驗結(jié)果如2所示,在觀察橡膠粒子在聚苯乙烯中的分散時,能夠很清楚觀察到橡膠相和聚苯乙烯相的結(jié)構(gòu)。
總之,隨著科學(xué)研究的深入,對于物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的要求越來越高,掃描電鏡STEM模式由于其襯度高、損傷小等特點,非常適合于有機高分子等軟材料的結(jié)構(gòu)分析,將在此類材料的分析表征中發(fā)揮著重要作用。
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歐波同材料分析研究中心
歐波同材料分析研究中心(以下簡稱“研究中心”)隸屬于歐波同(中國)有限公司,研究中心成立于2016年,是歐波同順應(yīng)市場需求重金打造的高端測試分析技術(shù)服務(wù)品牌。旗下的核心團隊由一大批“千人計劃”、杰出青年和海歸博士組成,可為廣大客戶提供系統(tǒng)性的檢測解決方案。研究中心以客戶需求為主導(dǎo),致力于高端顯微分析表征技術(shù)在國內(nèi)各行業(yè)的推廣,旨在通過高質(zhì)量、高效率的測試分析服務(wù)幫助客戶解決在理論研究、新產(chǎn)品開發(fā)、工藝(條件)優(yōu)化、失效分析、質(zhì)量管控等過程中遇到的一系列材料顯微表征和分析的問題。
[來源:北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司] opton掃描電鏡聚苯乙烯蔡司