這款硅漂移探測器(SDD,Silicon Drift Detector)專業(yè)為XRF光譜儀和SEM掃描電鏡EDS能譜儀探測器應(yīng)用而設(shè)計，提供窗口材料的選擇，從鈹（8 m）到薄型聚合物（用于輕型X射線透射），并提供10mm 至60mm 的傳感器有源區(qū)域。 此外，所有或我們的SEM SDD版本都是無振動的。
硅漂移探測器在與創(chuàng)新的基于以太網(wǎng)的數(shù)字脈沖處理器相結(jié)合時得到優(yōu)化。 具體配置給每個客戶，SDD硅漂移探測器在廣泛的輸入計數(shù)率下提供卓越和穩(wěn)定的性能，以產(chǎn)生快速X射線圖。
硅漂移探測器規(guī)格SDD探測器典型特征傳感器區(qū)域窗口選項分辨率eV（Mn K / C）10mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 123-13330mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 126-13360mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 126-133100mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 128-133

以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負責(zé)，91化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。

溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。