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描述：T3Ster是Mentor Graphics公司研發(fā)制造的先進的熱瞬態(tài)測試儀，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱...
T3Ster是MicReD研發(fā)制造的先進的熱測試儀，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。T3Ster基于先進的JEDEC ‘Static Method’測試方法（JESD51-1），通過改變電子器件的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化，在變化過程中，T3Ster測試出芯片的瞬態(tài)溫度響應曲線，僅在幾分鐘之內(nèi)即可分析得到關于該電子器件的全面的熱特性。T3Ster測試技術不是基于“脈沖方法”的熱測試儀，“脈沖方法”由于是基于延時測量的技術所以其測出的溫度瞬態(tài)測試曲線精度不高，而T3Ster 采用的是“運行中”的實時測量的方法，結合其精密的硬件可以快速精確撲捉到高信噪比的溫度瞬態(tài)曲線。
T3Ster運用先進的JEDEC穩(wěn)態(tài)實時測試方法（JESD51-1），專業(yè)測試各類IC（包括二極管、三極管、MOSFET、SOC、MEMS等）、LED、散熱器、熱管、PCB及導熱材料等的熱阻、熱容及導熱系數(shù)、接觸熱阻等熱特性。配合專為LED產(chǎn)業(yè)開發(fā)的選配件TERALED可以實現(xiàn)LED器件和組件的光熱一體化測量。
符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E標準法規(guī)。
T3Ster熱阻測試儀工作原理
T3Ster設備提供了非破壞性的熱測試方法，其原理為：
1) 首先通過改變電子器件的功率輸入；
2) 通過TSP (Temperature Sensitive Parameter熱敏參數(shù))測試出電子器件的瞬態(tài)溫度變化曲線；
3) 對溫度變化曲線進行數(shù)值處理，抽取出結構函數(shù)；
4) 從結構函數(shù)中自動分析出熱阻和熱容等熱屬性參數(shù)。
T3Ster熱阻測試儀設備參數(shù)
● 加熱電壓范圍：標配1-10V，不確定度小于±1%。選配功率放大器，最大電壓可達280V
● 加熱電流范圍：標配0.01-2A，不確定度小于±1%。選配功率放大器，最大電流達100A或更大
● 加熱功率脈沖：無時間限制
● 熱阻測量范圍：0.002-1000℃/W，不確定度小于±1%
● 測試通道數(shù)量：標配2通道，同一主機箱內(nèi)可以升級至8通道
● 溫度采集響應時間：1μs
● 溫度測量精度：±0.01℃
● 通道測量解析度：12bit
● 通道噪聲：±1bit
● 取樣容量：每個通道64k
T3Ster熱阻測試儀應用范圍
● 各種三極管、二極管等半導體分立器件，包括：常見的半導體閘流管、雙極型晶體管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。
● 各種復雜的IC以及MCM、SIP、SoC等新型結構 。
● 各種復雜的散熱模組的熱特性測試，如熱管、風扇等。
● 半導體器件結溫測量。
● 半導體器件穩(wěn)態(tài)熱阻及瞬態(tài)熱阻抗測量。
● 半導體器件封裝內(nèi)部結構分析，包括器件封裝內(nèi)部每層結構（芯片+焊接層+熱沉等）的熱阻和熱容參數(shù)。
● 半導體器件老化試驗分析和封裝缺陷診斷，幫助用戶準確定位封裝內(nèi)部的缺陷結構。
● 材料熱特性測量（導熱系數(shù)和比熱容）。
● 接觸熱阻測量，包括導熱膠、新型熱接觸材料的導熱性能測試。
● T3Ster符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E標準法規(guī)。
● T3Ster兼具JESD51-1定義的靜態(tài)測試法（Static Mode）與動態(tài)測試法（Dynamic Mode），能夠?qū)崟r采集器件瞬態(tài)溫度響應曲線（包括升溫曲線與降溫曲線），其采樣率高達1微秒，測試延遲時間高達1微秒，結溫分辨率高達0.01℃。
● T3Ster既能測試穩(wěn)態(tài)熱阻，也能測試瞬態(tài)熱阻抗。
● T3Ster的研發(fā)者MicRed制定了全球第一個用于測試LED的國際標準JESD51-51，以及LED光熱一體化的測試標準JESD51-52。T3Ster和TeraLED是目前全球唯一滿足此標準所規(guī)定的光熱一體化測試要求的。
● T3Ster獨創(chuàng)的Structure Function(結構函數(shù))分析法，能夠分析器件熱傳導路徑上每層結構的熱學性能（熱阻和熱容參數(shù)），構建器件等效熱學模型，是器件封裝工藝、可靠性試驗、材料熱特性以及接觸熱阻的強大支持工具。因此被譽為熱測試中的“X射線”。
● T3Ster可以和熱仿真軟件FloEFD無縫結合，將實際測試得到的器件熱學參數(shù)導入仿真軟件進行后續(xù)仿真優(yōu)化。
T3Ster是MicReD研發(fā)制造的先進的熱測試儀，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。T3Ster基于先進的JEDEC ‘Static Method’測試方法（JESD51-1），通過改變電子器件的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化，在變化過程中，T3Ster測試出芯片的瞬態(tài)溫度響應曲線，僅在幾分鐘之內(nèi)即可分析得到關于該電子器件的全面的熱特性。T3Ster測試技術不是基于“脈沖方法”的熱測試儀，“脈沖方法”由于是基于延時測量的技術所以其測出的溫度瞬態(tài)測試曲線精度不高，而T3Ster 采用的是“運行中”的實時測量的方法，結合其精密的硬件可以快速精確撲捉到高信噪比的溫度瞬態(tài)曲線。
T3Ster運用先進的JEDEC穩(wěn)態(tài)實時測試方法（JESD51-1），專業(yè)測試各類IC（包括二極管、三極管、MOSFET、SOC、MEMS等）、LED、散熱器、熱管、PCB及導熱材料等的熱阻、熱容及導熱系數(shù)、接觸熱阻等熱特性。配合專為LED產(chǎn)業(yè)開發(fā)的選配件TERALED可以實現(xiàn)LED器件和組件的光熱一體化測量。
符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E標準法規(guī)。
T3Ster熱阻測試儀工作原理
T3Ster設備提供了非破壞性的熱測試方法，其原理為：
1) 首先通過改變電子器件的功率輸入；
2) 通過TSP (Temperature Sensitive Parameter熱敏參數(shù))測試出電子器件的瞬態(tài)溫度變化曲線；
3) 對溫度變化曲線進行數(shù)值處理，抽取出結構函數(shù)；
4) 從結構函數(shù)中自動分析出熱阻和熱容等熱屬性參數(shù)。
T3Ster熱阻測試儀設備參數(shù)
● 加熱電壓范圍：標配1-10V，不確定度小于±1%。選配功率放大器，最大電壓可達280V
● 加熱電流范圍：標配0.01-2A，不確定度小于±1%。選配功率放大器，最大電流達100A或更大
● 加熱功率脈沖：無時間限制
● 熱阻測量范圍：0.002-1000℃/W，不確定度小于±1%
● 測試通道數(shù)量：標配2通道，同一主機箱內(nèi)可以升級至8通道
● 溫度采集響應時間：1μs
● 溫度測量精度：±0.01℃
● 通道測量解析度：12bit
● 通道噪聲：±1bit
● 取樣容量：每個通道64k
T3Ster熱阻測試儀應用范圍
● 各種三極管、二極管等半導體分立器件，包括：常見的半導體閘流管、雙極型晶體管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。
● 各種復雜的IC以及MCM、SIP、SoC等新型結構 。
● 各種復雜的散熱模組的熱特性測試，如熱管、風扇等。
● 半導體器件結溫測量。
● 半導體器件穩(wěn)態(tài)熱阻及瞬態(tài)熱阻抗測量。
● 半導體器件封裝內(nèi)部結構分析，包括器件封裝內(nèi)部每層結構（芯片+焊接層+熱沉等）的熱阻和熱容參數(shù)。
● 半導體器件老化試驗分析和封裝缺陷診斷，幫助用戶準確定位封裝內(nèi)部的缺陷結構。
● 材料熱特性測量（導熱系數(shù)和比熱容）。
● 接觸熱阻測量，包括導熱膠、新型熱接觸材料的導熱性能測試。
● T3Ster符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E標準法規(guī)。
● T3Ster兼具JESD51-1定義的靜態(tài)測試法（Static Mode）與動態(tài)測試法（Dynamic Mode），能夠?qū)崟r采集器件瞬態(tài)溫度響應曲線（包括升溫曲線與降溫曲線），其采樣率高達1微秒，測試延遲時間高達1微秒，結溫分辨率高達0.01℃。
● T3Ster既能測試穩(wěn)態(tài)熱阻，也能測試瞬態(tài)熱阻抗。
● T3Ster的研發(fā)者MicRed制定了全球第一個用于測試LED的國際標準JESD51-51，以及LED光熱一體化的測試標準JESD51-52。T3Ster和TeraLED是目前全球唯一滿足此標準所規(guī)定的光熱一體化測試要求的。
● T3Ster獨創(chuàng)的Structure Function(結構函數(shù))分析法，能夠分析器件熱傳導路徑上每層結構的熱學性能（熱阻和熱容參數(shù)），構建器件等效熱學模型，是器件封裝工藝、可靠性試驗、材料熱特性以及接觸熱阻的強大支持工具。因此被譽為熱測試中的“X射線”。
● T3Ster可以和熱仿真軟件FloEFD無縫結合，將實際測試得到的器件熱學參數(shù)導入仿真軟件進行后續(xù)仿真優(yōu)化。
