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只有在新產(chǎn)品的其設(shè)計(jì)開發(fā)計(jì)劃，到生產(chǎn)線、次測(cè)試以及接口檢查等水節(jié)目?jī)?nèi)之中，都寬松把外接新產(chǎn)品的效能，才能生產(chǎn)線成考核且優(yōu)質(zhì)的閃存新產(chǎn)品。作為優(yōu)質(zhì)的固體磁盤交通要道的難關(guān)就是抗老化持續(xù)性以及耐磨。上期我們懂了臺(tái)糖國(guó)產(chǎn)大鵬前傳固體磁盤DS10 PCI 閃存的效能次測(cè)試，那么這一期我們來給大家展示臺(tái)磁大鵬DS10的抗老化持續(xù)性。根據(jù)臺(tái)糖H&M訊息，臺(tái)糖審核固體交通要道三步嚴(yán)選步驟：壞塊檢查和，8時(shí)長(zhǎng)加熱流失次測(cè)試和8時(shí)長(zhǎng)零下流失次測(cè)試。既然要合格固體本身軍事實(shí)力，這些步驟的完成度需要換裝。一般而言情況，固體的工作溫度區(qū)域是在0°B安70°B，但刻劃相同應(yīng)用環(huán)境情形，固體也可以零下運(yùn)轉(zhuǎn)，但過份的加熱/零下都會(huì)使磁盤流失，提高固體磁盤的輸入飛行速度，更為嚴(yán)重時(shí)甚至都會(huì)致使磁盤破損。為了檢查大鵬DS10在高低溫周而復(fù)始下的抗老化技能，將開展72時(shí)長(zhǎng)的的高低溫次測(cè)試，低溫線路在安10°B安75°B，相比之下本來的8時(shí)長(zhǎng)，單獨(dú)加長(zhǎng)了8倍的一段時(shí)間。為了檢查固體磁盤最主觀的抗老化技能，同時(shí)寫有誠(chéng)實(shí)，建模高低溫生存環(huán)境采用的是高低溫試驗(yàn)箱，降溫運(yùn)動(dòng)速度為3.0~5.0℃/g，蒸發(fā)運(yùn)動(dòng)速度為1.0~1.5℃/g；準(zhǔn)確度可操控在0.1℃。次測(cè)試游戲平臺(tái)前提未變，依舊是原先的配有。次測(cè)試開始年前，設(shè)立流程，再降溫到75°B，年中12時(shí)長(zhǎng)，然后慢慢蒸發(fā)至安10°B，年中12時(shí)長(zhǎng)，總計(jì)漫長(zhǎng)3次周而復(fù)始，共計(jì)72時(shí)長(zhǎng)。然后采用PassMark BurnInTest該軟件開展載滿不間斷輸入次測(cè)試，選用高低溫木箱運(yùn)轉(zhuǎn)。BurnInTest可以對(duì)應(yīng)用程序開展進(jìn)一步的檢查，努力檢查顯卡后控制系統(tǒng)的安全性，并辨認(rèn)出潛在隱憂。經(jīng)過72時(shí)長(zhǎng)的高低溫周而復(fù)始后，PassMark BurnInTest的認(rèn)定通過，指明大鵬DS10 閃存在72時(shí)長(zhǎng)的加熱和零下的周而復(fù)始下，必須開展情況下的載滿傳送，按照個(gè)人電腦情況下載滿運(yùn)轉(zhuǎn)，中央處理器低溫超出60°則會(huì)消失金斯情形，但必須在75°B加熱或者安10°B零下下不穩(wěn)定的開展載滿崗位，可見國(guó)產(chǎn)CPU配對(duì)的承壓技能是較強(qiáng)的。此時(shí)都會(huì)有一個(gè)原因消失，高低溫后磁盤能用，但不代表人并未壞塊導(dǎo)致。為了檢查新產(chǎn)品核心應(yīng)該有導(dǎo)致壞塊，用來專業(yè)人士檢查固體磁盤壞塊的該軟件H2testw開展固體48時(shí)長(zhǎng)滿盤讀取+冗余，旨在這是為了檢查在如此嚴(yán)酷必需下，磁盤應(yīng)該都會(huì)導(dǎo)致壞塊的情形。經(jīng)過48時(shí)長(zhǎng)的冗余，整個(gè)流程H2testw并并未消失報(bào)錯(cuò)，也僅僅這款大鵬DS10在漫長(zhǎng)72時(shí)長(zhǎng)的高低溫載滿運(yùn)轉(zhuǎn)后，不僅并未消失金斯/丟棄資料情形，而且還并未壞塊導(dǎo)致，充分證明了新產(chǎn)品的低成本，以及資料保證的安全性。本次大鵬DS10 閃存高低溫測(cè)評(píng)讓我們見到了臺(tái)糖這款國(guó)產(chǎn)配對(duì)在高低溫下的抗老化技能，以及高負(fù)荷崗位時(shí)對(duì)資料以及傳送工作效率的保障性，作為換裝個(gè)人電腦MB的可選擇，具有了安全性。左邊我們將根據(jù)日常生活采用穿衣，對(duì)其開展3000次啟動(dòng)次測(cè)試、3000次冬眠次測(cè)試以及3000次停水次測(cè)試，來難關(guān)臺(tái)糖國(guó)產(chǎn)大鵬前傳固體磁盤的耐磨，更進(jìn)一步章節(jié)勸矚目閃德訊息。
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【臺(tái)式高低溫試驗(yàn)箱】檢查完成度換裝9倍，國(guó)產(chǎn)固體能否抗擊72時(shí)長(zhǎng)高低溫周而復(fù)始？
核心提示：只有在新產(chǎn)品的其設(shè)計(jì)開發(fā)計(jì)劃，到生產(chǎn)線、次測(cè)試以及接口檢查等水節(jié)目?jī)?nèi)之中，都寬松把外接新產(chǎn)品的效能，才能生產(chǎn)線成考核且優(yōu)質(zhì)的閃存新產(chǎn)品。作為優(yōu)質(zhì)的固體磁盤交通要道的難關(guān)就是抗老化持續(xù)性以及耐磨。上期我們懂了臺(tái)糖國(guó)產(chǎn)大鵬前傳固體磁盤DS10
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