該產(chǎn)品采用雙光束激光粒度儀專利（專利號：ZL.2007 2 0025702. 0），不僅克服了樣品池的光學(xué)干擾，還擴大了測試角度，開拓了寬分布顆粒測試的新領(lǐng)域。

產(chǎn)品優(yōu)勢

1-大量程/雙光束測試

采用雙激光雙光束專利技術(shù)（專利號：ZL.2007 2 0025702. 0），測試上限1000微米，測試下限0.01微米。

2-濕法顆粒循環(huán)裝置/光路自動對中系統(tǒng)

可保證顆粒一直處于動態(tài)分散狀態(tài)，大顆粒不沉淀，小顆粒不團(tuán)聚，粒度分析不受任何函數(shù)限制，能真實反應(yīng)顆粒狀態(tài)，為測試獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)提供了保障。

主要適用于

固體粉末或乳液中顆粒、水泥、陶瓷原料、醫(yī)藥原料、乳液、精細(xì)化工、涂料、染料、顏料、填料、農(nóng)藥、燃料、催化劑、感光材料、添加劑類、泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、石墨、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉狀材料的粒度分析。